[發明專利]邊帶抑制方法和邊帶抑制裝置

有效

• 申請號: 200910157758.5
• 申請日: 2009-07-24
• 公開（公告）號: CN101963657A
• 公開（公告）日: 2011-02-02
• 發明（設計）人: 傅彩霞;李國斌
• 申請（專利權）人: 西門子邁迪特(深圳)磁共振有限公司
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種邊帶抑制方法，該方法包括：

確定正向渦流校正因子和負向渦流校正因子；

采用正極性梯度進行N/2次掃描，并分別在每次掃描時采集正極性梯度掃描信號；采用負極性梯度進行N/2次掃描，并分別在每次掃描時采集負極性梯度掃描信號，其中，N為偶數；

根據所述正向渦流校正因子對所采集的N/2個正極性梯度掃描信號進行渦流校正；根據所述負向渦流校正因子對所采集的N/2個負極性梯度掃描信號進行渦流校正；

根據渦流校正后的N/2個正極性梯度掃描信號和渦流校正后的N/2個負極性梯度掃描信號計算經邊帶抑制的波譜信號。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述確定正向渦流校正因子包括：采用正極性梯度進行P次正向參考掃描，并在第P次正向參考掃描時采集正向參考信號，對所述正向參考信號進行濾波，將濾波后的信號相位作為正向渦流校正因子；

所述確定負向渦流校正因子包括：采用負極性梯度進行P次負向參考掃描，并在第P次負向參考掃描時采集負向參考信號，對所述負向參考信號進行濾波，將濾波后的信號相位作為負向渦流校正因子；

其中，P為大于1的正整數。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述濾波包括：

獲取正向/負向參考掃描的采樣間隔，獲取磁體的機械振動頻率；

計算所述正向/負向參考掃描的采樣間隔與所述磁體的機械振動頻率的乘積，然后對乘積取倒數，將結果作為滑動窗口的長度；

根據所述滑動窗口的長度設計均值滑動濾波器；

采用所述均值滑動濾波器對所述正向/負向參考信號進行均值滑動濾波。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述獲取磁體的機械振動頻率包括：

采用點分辨波譜技術PRESS序列對水模進行波譜測量，獲得水模信號的譜圖；

計算所述譜圖中水峰與任一距離最近的邊帶之間的頻率差的絕對值，將此絕對值作為磁體的機械振動頻率。

5.根據權利要求2所述的方法，所述濾波包括：

計算正向/負向濾波帶寬；

根據所述正向/負向濾波帶寬設計高斯型帶通濾波器；

采用所述高斯型帶通濾波器對所述正向/負向參考信號進行帶通濾波。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述計算正向/負向濾波帶寬包括：

獲取正向/負向參考掃描的譜圖；

若正向/負向參考掃描譜圖中的水信號與代謝物信號沒有重合的部分，則獲取水信號的頻帶，將水信號的頻帶作為正向/負向濾波帶寬；若正向/負向參考掃描譜圖中的水信號與代謝物信號有重合的部分，則首先將水信號與代謝物信號的重合頻帶除以2，獲得一個商值，然后計算水信號的頻帶與所述商值的差值，將結果作為正向/負向濾波帶寬。

7.根據權利要求1至6中任一項所述的方法，其特征在于，所述對正極性梯度掃描信號進行渦流校正包括：計算所述正極性梯度掃描信號的相位與所述正向渦流校正因子的差值；

所述對負極性梯度掃描信號進行渦流校正包括：計算所述負極性梯度掃描信號的相位與所述負向渦流校正因子的差值。

8.根據權利要求1至6中任一項所述的方法，其特征在于，所述計算經邊帶抑制的波譜信號包括：將所述渦流校正后的N/2個正極性梯度掃描信號和所述渦流校正后的N/2個負極性梯度掃描信號進行累加，并求平均值，將結果作為經邊帶抑制的波譜信號。