[發明專利]太陽能電池硅片清洗劑及其使用方法有效
| 申請號: | 200910157191.1 | 申請日: | 2009-12-24 |
| 公開(公告)號: | CN101735891A | 公開(公告)日: | 2010-06-16 |
| 發明(設計)人: | 俞相明;黃燕;陳國其 | 申請(專利權)人: | 浙江向日葵光能科技股份有限公司 |
| 主分類號: | C11D1/22 | 分類號: | C11D1/22;C11D3/37;C11D3/08;C11D3/04;C11D3/06 |
| 代理公司: | 紹興市越興專利事務所 33220 | 代理人: | 張謙 |
| 地址: | 312071 *** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 太陽能電池 硅片 洗劑 及其 使用方法 | ||
技術領域
本發明提供了一種太陽能電池硅片清洗劑及其使用方法,屬于太 陽能電池生產技術領域。
背景技術
硅片清洗對半導體工業的重要性早在50年代初就引起人們的高 度重視,這是由于硅片表面的污染物會嚴重影響電池片的性能、可靠 性和成品率。硅片表面的污染物主要以原子、離子、分子或膜的形式, 以物理或化學的方法存在于硅片表面或硅片表面的氧化膜中。硅片清 洗要求即能去除各類雜質又不破壞硅片。清洗要分物理清洗和化學清 洗,化學清洗分水溶液清洗和氣相清洗,由于水溶液清洗價廉而安全, 對雜質和基體選擇性好,可將雜質清洗至非常低的水平,因此水溶液 清洗一直占主導位置。
硅片清洗技術的發展大致可分為四個階段,第一階段建立了最初 的化學和機制拋光,但由于處理不當,往往會造成金屬雜質的重新沉 淀以及金屬雜質的再次污染;第二階段從1961-1971年,使用最初的 RCA-1清洗液,該清洗技術的發展是清洗技術的里程碑;第三階段從 1972-1989年,這一階段的工作主要集中于對RCA清洗化學原理,適 用情況和影響因素等進行深入研究和分析,對RCA清洗技術進行改進; 第四階段至今,側重于對溶液清洗機理和動力學的研究以及新型清洗 技術的開發研究。
單晶硅材料隨著其供應商的不同而差異很大,這對電池生產工藝 的優化和產品質量的控制帶來很多不便。單晶硅使用前應檢查外觀、 電阻率、碳和氧的含量(≤1016/cm3)。單晶硅的外觀應呈銀灰色,不 允許存在夾層、發黑、氧化、指紋和沾污的痕跡或雜質,然而改善單 晶硅外表質量是提高電池轉換效率的重要手段。現階段硅片都用多線 切割機,多線切割機采用鋼絲帶動碳化硅磨料來進行切割硅片,會造 成硅片表面油脂的污染,單晶硅中通常都有金屬雜質存在,它們來源 于原料污染、石英坩堝及坩堝涂層的污染,這些雜質的污染特別是金 屬雜質在后道的高溫擴散中會形成晶格缺陷,嚴重影響到電池片的各 性能指標。所以電池在生產之前一定要先清洗,以去除雜質。
發明內容
本發明的目的是提供一種太陽能電池硅片清洗劑及其使用方法, 可去除由線切割單晶硅而產生的表面油脂及硅片內部金屬雜質,使電 池片組裝組件的利用率高達95%以上,同時提高電池片轉換效率到17% 以上。
為了實現上述目的,本發明所采用的技術方案為:
一種太陽能電池硅片清洗劑,由如下體積比的組分配制而成:
DZ1∶DZ2∶水=5~15∶1~10∶100;其中DZ1由如下摩爾比的組分組成∶烷 基苯磺酸鈉∶五水偏硅酸鈉∶焦磷酸四鉀∶聚乙烯醇∶聚乙二醇∶水= 5∶7∶3∶7∶6∶72;DZ2由如下摩爾比的組分組成∶氫氧化銨∶雙氧水∶水 =5∶15∶80。
一種上述太陽能電池硅片清洗劑的使用方法,包括如下步驟:將 切割后的單晶硅片放在清洗劑中進行超聲波清洗,其清洗時間為5分 鐘-20分鐘,清洗溫度為40℃-70℃。
作為優選,所述清洗時間8分鐘-15分鐘,清洗溫度為50℃-60 ℃。
本發明的有益效果在于:
1)操作簡單、價格低廉、且無毒、無腐蝕和對人體無危害、對環 境無污染的優點。
2)提高電池片組裝組件的利用率達到95%以上及電池片轉換效率 在17%以上。
3)能適用于不同尺寸單晶硅太陽能電池的硅片清洗,適用于大規 模生產也適用于小批量的生產。
4)用本發明清洗劑清洗過的硅片生長的二氧化硅層中固定電荷密 度在1010cm-2數量級;去重金屬離子能力與常規CMOS/SOS柵氧化工 藝相當;溶液和硅片親潤性更佳,更利于后道的制絨面。
具體實施方式
下面通過具體實施例對本發明作進一步說明,但本發明并不受以 下實施例所限定。
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