[發(fā)明專利]一種單分子介電性質(zhì)的測量方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200910153163.2 | 申請日： | 2009-09-24 |
| 公開（公告）號： | CN102033171A | 公開（公告）日： | 2011-04-27 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 周星飛;張金海;崔成毅 | 申請（專利權(quán)）人： | 寧波大學 |
| 主分類號： | G01R31/00 | 分類號： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 寧波誠源專利事務(wù)所有限公司 33102 | 代理人： | 袁忠衛(wèi) |
| 地址： | 315000 浙江省*** | 國省代碼： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 分子 性質(zhì) 測量方法 | ||
【權(quán)利要求書】：
1.一種單分子介電性質(zhì)的測量方法，其特征在于使用振動模式掃描極化力顯微鏡，采用非接觸的方法來定性地表征單個分子的介電性質(zhì)，測量步驟為：將振動模式掃描極化力顯微鏡的針尖加上交流電壓，將被測分子置于云母上，利用云母與帶電針尖產(chǎn)生的電場作用極化，被測分子對針尖的極化力根據(jù)被測分子的介電性能而變化，根據(jù)檢測針尖相位的變化來表征被測分子的介電性質(zhì)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種單分子介電性質(zhì)的測量方法，其特征在于所述的振動模式掃描極化力顯微鏡為改造的原子力顯微鏡，就是原子力顯微鏡在輕敲模式工作時在導電針尖上加上交流電壓。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種單分子介電性質(zhì)的測量方法，其特征在于所述的交流電壓為頻率1-10KHz、振幅為6-8V。
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