[發(fā)明專利]電路基板的雙路徑檢測方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200910148780.3
• 申請日: 2009-07-03
• 公開（公告）號: CN101943740A
• 公開（公告）日: 2011-01-12
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 郭世明;吳茂祥
• 申請（專利權(quán)）人: 自然興電通科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;B07C5/344
• 代理公司: 北京銀龍知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11243
• 代理人: 許靜

1.一種電路基板的雙路徑檢測方法，其特征在于，包括步驟：

A)由一吸附式手臂以一第一吸附組件吸取一第一待檢測電路基板，將該第一待檢測電路基板放置于一置板臺上，再以一第二吸附組件進(jìn)行一第二待檢測電路基板的吸取，并進(jìn)行待命；

B)由一位于第一路徑上的第一夾臂將置板臺上的該第一待檢測電路基板移動至一取像區(qū)中，進(jìn)行CCD取像；

C)由該第一夾臂將已進(jìn)行CCD取像的該第一待檢測電路基板移動至一電測區(qū)中，進(jìn)行接觸式電性檢測判讀；

D)由該吸附式手臂的第二吸附組件將該第二待檢測電路基板放置于該置板臺上；

E)由一位于第二路徑上的第二夾臂將置板臺上的該第二待檢測電路基板移動至該取像區(qū)中，進(jìn)行CCD取像；

F)由該第一夾臂將檢測完成的該第一待檢測電路基板放置于置板臺上，由吸附式手臂的第一吸附組件將檢測完成的該第一待檢測電路基板自該置板臺上取出放置于一預(yù)定位置的載料架上；

G)第二夾臂將已進(jìn)行CCD取像的該第二待檢測電路基板移動至該電測區(qū)中，進(jìn)行接觸式電性檢測判讀；

H)第二夾臂將檢測完成的該第二待檢測電路基板放置于置板臺上，由吸附式手臂的第二吸附組件將檢測完成的該第二待檢測電路基板自該置板臺上取出放置于一預(yù)定位置的載料架上；

重復(fù)以上步驟，以分別位于第一路徑及第二路徑上的第一夾臂和二夾臂配合吸附式手臂進(jìn)行雙路徑的電路基板檢測。

2.如權(quán)利要求1所述電路基板的雙路徑檢測方法，其特征在于，所述步驟C與所述步驟D是同時進(jìn)行。

3.如權(quán)利要求1所述電路基板的雙路徑檢測方法，其特征在于，所述吸附式手臂的第一吸附組件及第二吸附組件是通過旋轉(zhuǎn)180度而變換位置。

4.如權(quán)利要求1所述電路基板的雙路徑檢測方法，其特征在于，在步驟C中，由該第一夾臂將已進(jìn)行CCD取像的該第一待檢測電路基板移動至一電測區(qū)后，而于進(jìn)行接觸式電性檢測判讀前，會先依據(jù)CCD取像的位置加以比對、判讀并校正第一夾臂上該第一待檢測電路基板位于該電測區(qū)中的正確位置。

5.如權(quán)利要求1所述電路基板的雙路徑檢測方法，其特征在于，在步驟G中，由第二夾臂將已進(jìn)行CCD取像的該第二待檢測電路基板移動至該電測區(qū)后，而于進(jìn)行接觸式電性檢測判讀前，會先依據(jù)CCD取像的位置加以比對、判讀并校正第二夾臂上該第二待檢測電路基板位于該電測區(qū)中的正確位置。