[發明專利]平板式檢測器及介質檢測器

無效

• 申請號: 200910147377.9
• 申請日: 2009-06-18
• 公開（公告）號: CN101738590A
• 公開（公告）日: 2010-06-16
• 發明（設計）人: 栗原英三;松田司;高橋邦廣;井上浩良;馬里奧·福斯;山口昭治
• 申請（專利權）人: 富士施樂株式會社
• 主分類號: G01R33/12
• 分類號: G01R33/12;B07C5/344
• 代理公司: 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112
• 代理人: 顧紅霞;龍濤峰

1.一種平板式檢測器，包括：

第一平板部件和第二平板部件，其均由非磁性非金屬制成，所述第一平板部件和所述第二平板部件設置成彼此面對并且其間具有用于傳送片狀介質的空隙；

第一導體配線，其設置在所述第一平板部件的面向所述第二平板部件的表面上，用于形成交變磁場；

第一層，其由非磁性金屬制成并且至少設置在所述第一平板部件的與設置有所述第一導體配線的表面相反的表面上；

第二導體配線，其設置在所述第二平板部件的面向所述第一平板部件的表面上，用于對通過包含在所述片狀介質中的磁性材料的磁化反轉生成的信號進行檢測，由所述第一導體配線形成的所述交變磁場引起所述磁化反轉；以及

第二層，其由非磁性金屬制成并且至少設置在所述第二平板部件的與設置有所述第二導體配線的表面相反的表面上。

2.根據權利要求1所述的平板式檢測器，其中，

所述第一平板部件的厚度設定為這樣：使所述交變磁場在所述第一平板部件與所述第一層的接觸面處的強度不大于1高斯。

3.根據權利要求1或2所述的平板式檢測器，其中，

所述第一層的厚度和所述第二層的厚度不小于10μm且不大于1mm。

4.根據權利要求1或2所述的平板式檢測器，其中，

所述第一層覆蓋所述第一平板部件和所述第一導體配線的除面向用于傳送所述片狀介質的空隙的表面之外的部分，并且所述第二層覆蓋所述第二平板部件和所述第二導體配線的除面向用于傳送所述片狀介質的空隙的表面之外的部分。

5.根據權利要求4所述的平板式檢測器，其中，

所述第一層還覆蓋所述第一導體配線的面向用于傳送所述片狀介質的空隙的表面的延長面，并且所述第二層還覆蓋所述第二導體配線的面向用于傳送所述片狀介質的空隙的表面的延長面。

6.根據權利要求1或2所述的平板式檢測器，其中，

所述第一平板部件覆蓋所述第一導體配線的除面向用于傳送所述片狀介質的空隙的表面之外的部分，并且所述第二平板部件覆蓋所述第二導體配線的除面向用于傳送所述片狀介質的空隙的表面之外的部分。

7.根據權利要求1所述的平板式檢測器，其中，

所述第一層覆蓋所述第一平板部件的除面向用于傳送所述片狀介質的空隙的表面之外的部分以及所述第一導體配線的除面向用于傳送所述片狀介質的空隙的表面之外的部分，并且所述第二層覆蓋所述第二平板部件的除面向用于傳送所述片狀介質的空隙的表面之外的部分以及所述第二導體配線的除面向用于傳送所述片狀介質的空隙的表面之外的部分。

8.根據權利要求7所述的平板式檢測器，其中，

所述第一層還覆蓋所述第一平板部件的面向用于傳送所述片狀介質的空隙的表面的延長面和所述第一導體配線的面向用于傳送所述片狀介質的空隙的表面的延長面，并且所述第二層還覆蓋所述第二平板部件的面向用于傳送所述片狀介質的空隙的表面的延長面和所述第二導體配線的面向用于傳送所述片狀介質的空隙的表面的延長面。

9.根據權利要求1或2所述的平板式檢測器，其中，

所述第一導體配線與所述第二導體配線布置成以預定間隔彼此面對。

10.一種介質檢測器，包括：

傳送單元，其傳送其中包含磁性材料的片狀介質；

平板式檢測器，其檢測從包含在所述片狀介質中的磁性材料產生的信號；以及

分揀單元，其根據所述平板式檢測器對所述信號的檢測結果而為已經穿過所述平板式檢測器的所述片狀介質切換傳送路徑，

其中，所述平板式檢測器包括：

第一平板部件和第二平板部件，其均由非磁性非金屬制成，所述第一平板部件和所述第二平板部件設置成彼此面對并且其間具有用于傳送片狀介質的空隙；

第一導體配線，其設置在所述第一平板部件的面向所述第二平板部件的表面上，用于形成交變磁場；

第一層，其由非磁性金屬制成并且至少設置在所述第一平板部件的與設置有所述第一導體配線的表面相反的表面上；

第二導體配線，其設置在所述第二平板部件的面向所述第一平板部件的表面上，用于對通過包含在所述片狀介質中的磁性材料的磁化反轉生成的信號進行檢測，由所述第一導體配線形成的所述交變磁場引起所述磁化反轉；以及

第二層，其由非磁性金屬制成并且至少設置在所述第二平板部件的與設置有所述第二導體配線的表面相反的表面上。