[發明專利]測試方法及測試系統有效
| 申請號: | 200910147332.1 | 申請日: | 2009-06-11 |
| 公開(公告)號: | CN101576860A | 公開(公告)日: | 2009-11-11 |
| 發明(設計)人: | 袁飛 | 申請(專利權)人: | 成都市華為賽門鐵克科技有限公司 |
| 主分類號: | G06F12/16 | 分類號: | G06F12/16;G06F11/22 |
| 代理公司: | 深圳市深佳知識產權代理事務所(普通合伙) | 代理人: | 彭愿潔;李文紅 |
| 地址: | 611731四川省*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 測試 方法 系統 | ||
技術領域
本發明涉及計算機技術領域,具體涉及一種測試方法及測試系統。
背景技術
在計算機應用中,經常會使用硬盤產品例如固態硬盤(SSD,Solid?StateDisk)。目前市場上存在各種不同的固態硬盤產品,這些固態硬盤一般都具有掉電保護功能,即檢測到固態硬盤掉電時,自動切換至固態硬盤上的備用電源進行供電,并短時間內將還在固態硬盤緩存內的數據寫入到固態硬盤的閃速存儲器(Flash)介質中,保證異常掉電時固態硬盤緩存的數據不丟失。
為了確認固態硬盤是否具有掉電保護功能,一般需要對固態硬盤進行掉電保護測試。現有技術中,一般使用固態硬盤作為主盤,并在固態硬盤上安裝某一種操作系統(例如windows、Linux等)。在終端設備例如計算機PC上根據操作系統將數據進行備份,然后數據從計算機的文件系統的緩存向固態硬盤寫入,數據是先寫入固態硬盤的緩存,再從緩存寫入Flash介質(該過程稱為刷盤)。在操作系統顯示寫入結束時,立即手動拔掉固態硬盤的電源線(或者斷掉PC的電源),等待一段時間后再接上電源,并啟動操作系統。在掉電時,固態硬盤啟動掉電保護功能,利用備份電源將緩存中的數據寫入到Flash介質中。然后,PC讀取固態硬盤的Flash介質中的數據,比較Flash介質中的數據與原來的備份數據是否一致,如果數據一致,則表示掉電保護功能生效,如果數據不一致,則表示掉電保護功能沒有生效。
在對此方法的研究和實踐過程中,本發明的發明人發現:現有技術是在操作系統顯示寫入結束時掉電,此時可能數據在文件系統的緩存中,或者是在固態硬盤的緩存中,或者已經在固態硬盤的Flash介質中,另外由于刷盤的時間很短,手工拔電源存在一定誤差,有可能操作系統顯示寫入結束時剛好數據在固態硬盤的緩存中,而手工拔電完成之前剛好已經寫入到Flash介質中,而對于掉電時數據不是處于固態硬盤的緩存的情況下所得到的測試結果都是不準確的,無法確定固態硬盤的掉電保護功能生效。因此,現有技術的測試方法準?確性差。
發明內容
本發明實施例提供一種能夠提高掉電保護測試準確性的測試方法及測試系統。
一種linux或windows操作系統的測試方法,包括:
將終端設備的數據向被測試設備寫入,所述數據的大小大于所述被測試設備的傳輸帶寬;
當檢測到所述數據從所述終端設備寫入所述被測試設備完成時,控制自動切斷所述被測試設備與電源的連接,在設定時間到達后,控制恢復所述被測試設備與電源的連接;
讀取所述被測試設備的閃速存儲器Flash介質中的數據,將所述Flash介質中的數據與所述終端設備的備份數據進行對比,根據對比結果得到測試結果。
一種linux或windows操作系統的測試系統,包括:
終端設備,用于將終端設備的數據向被測試設備寫入,所述數據的大小大于所述被測試設備的傳輸帶寬,當檢測到所述數據從所述終端設備寫入所述被測試設備完成時,控制電源調控設備自動切斷所述被測試設備與電源的連接,在設定時間到達后,控制電源調控設備恢復所述被測試設備與電源的連接,讀取所述被測試設備的Flash介質中的數據,將所述Flash介質中的數據與所述終端設備的備份數據進行對比,根據對比結果得到測試結果;
被測試設備,用于接收所述終端設備寫入的數據,在被測試設備與電源的連接被切斷后將接收的數據寫入Flash介質中;
電源調控設備,用于在所述終端設備的控制下切斷或恢復所述被測試設備與電源的連接。
上述技術方案可以看出,本發明實施例的技術方案是當檢測到所述數據從所述終端設備寫入所述被測試設備完成時,切斷所述被測試設備與電源的連接,這樣保證電源被切斷前終端設備已經不含有數據,同時,寫入的數據的大小大于所述被測試設備的傳輸帶寬,而掉電是根據檢測結果控制自動切斷電源,更為及時,這樣也可以保證電源被切斷前被測試設備的緩存中含有數據,?在恢復電源連接后,讀取所述被測試設備的Flash介質中的數據,將所述Flash介質中的數據與所述終端設備數據的備份數據進行對比,根據對比結果得到測試結果,實現對被測試設備的掉電保護功能的測試。因此,本發明實施例提供的測試方法得到的是數據處于被測試設備的緩存的情況下的測試結果,因此準確性更高。
附圖說明
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