[發明專利]葉片式探頭模塊有效
| 申請號: | 200910147307.3 | 申請日: | 2009-06-09 | 
| 公開(公告)號: | CN101800015A | 公開(公告)日: | 2010-08-11 | 
| 發明(設計)人: | 李相龍;金暎昊;金景豪 | 申請(專利權)人: | 沋博普利斯金股份有限公司 | 
| 主分類號: | G09G3/00 | 分類號: | G09G3/00;G01R1/073 | 
| 代理公司: | 北京潤平知識產權代理有限公司 11283 | 代理人: | 周建秋;王鳳桐 | 
| 地址: | 韓國*** | 國省代碼: | 韓國;KR | 
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 葉片 探頭 模塊 | ||
技術領域
本發明涉及葉片式探頭模塊,具體地,涉及在探頭上形成變形部,能夠 很容易地整齊排列探頭,使組裝及維護變得容易的葉片式探頭模塊。
背景技術
液晶顯示器(LCD)包括形成有薄膜晶體管的薄膜晶體管基板及形成有 濾色鏡的濾色鏡基板,并在它們之間設置有具有液晶層的液晶顯示屏。由于 液晶顯示屏不是發光器件,所以可以在薄膜晶體管基板后面設置發光的白光 單元。白光單元照射的光線的透過量由液晶層的排列狀態調節。此外,為了 驅動液晶顯示屏的各個像素,還設置了驅動電路,以及從驅動電路接收驅動 信號,向顯示區域內的數據線和柵線等信號線輸入電壓的數據驅動器和柵極 驅動器。
在液晶顯示屏的制造工序中,在每個階段都要進行多種測試,以檢測產 品是否合格。這些檢測包括:陣列測試(array?test)、外觀測試(visual? inspection,VI)、粗差檢測(gross?test,G/T)及最終測試(final?test)等。
其中,外觀測試是指在液晶顯示屏制作完成后,通過連接柵線和數據線 等信號線的短路棒(shorting?bar)輸入檢測信號,從而檢測線路是否有缺陷 的檢測方法。外觀測試中的檢測信號輸入通過與短路棒連接的檢測信號金屬 盤實現。根據通過短路棒分別輸入到柵線和數據線中的信號數量,外觀測試 可以具體分為1G1D、1G2D、2G2D等。以1G2D為例,所有柵線都接收相 同的單一信號,數據線則分為2組,接收2個信號。此時,數據線最好按偶 數和奇數分組,即交替分組。
如果向信號線輸入單一的檢測信號,則有可能無法確認相鄰信號線或相 鄰像素之間是否發生短路(short)缺陷。為解決上述問題,2G2D方式將排 序為偶數的柵線和數據線以及排序為奇數的柵線和數據線交替地進行分組, 分別與不同的短路棒連接,使信號線之間能夠進行反轉驅動,因此與1G1D 方式不同,可以區分相鄰信號線或相鄰像素之間是否存在短路缺陷。
但是,在通過短路棒進行外觀測試時,由于從檢測信號金屬盤到信號線 之間的距離互異,即使同時輸入單一信號,也會由于檢測信號金屬盤與信號 線之間的距離差異,而造成檢測信號失真現象,而且,在除去短路棒之后, 則無法通過短路棒輸入單一信號而進行不良品檢測。
與此不同,粗差檢測作為去除短路棒后檢測是否合格的方法,與基板上 形成的柵線及數據線連接的金屬盤和檢測用探頭的連接片分別連接,并向探 頭輸入測試驅動信號,測試液晶顯示屏的信號線或像素是否存在缺陷。接著, 向完成粗差檢測后判定為合格品的液晶顯示屏輸入測試視頻信號,進行視頻 驅動測試,并在最終判定為合格品的液晶顯示屏上進行設置包含驅動電路的 帶載封裝(TCP,Tape?Carrier?Package)薄膜的工序。
如上所述,為了通過粗差檢測方法檢測液晶顯示屏,需要使用具有探頭 模塊的探頭組件,這種探頭組件的探頭模塊具有針(Needle)型、葉片(Blade) 型及薄膜(Film)型等多種形態。
其中,針型探頭模塊為了固定針型探頭,需要使用環氧樹脂,因此,探 頭容易隨著環氧樹脂的變形而出現扭曲。特別是,針型探頭模塊的探頭的外 徑存在下限,因此,存在在探頭固定柄有限的安裝面上,無法排列所需數量 探頭的弊端,而且不符合最近高度集成的趨勢。
為了解決上述問題,提出了葉片式探頭模塊,葉片式探頭模塊由于露在 外部的部分太多,不能安全地傳送信號,而且為了固定探頭(葉片式),需 要另外設置固定結構,因此,組裝作業非常困難,需要消耗大量工時,使生 產效率下降。特別是,葉片式探頭模塊的探頭通過固定結構固定在探頭固定 柄上,因此,只有去除固定結構,才能更換探頭,大大降低了維護性能。
發明內容
本發明為解決上述問題而提出,其目的是通過在探頭上形成變形部,而 使整齊排列探頭變得容易,從而提供一種能夠很容易地進行組裝及維護的葉 片式探頭模塊。
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