[發(fā)明專利]光盤及光盤裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200910145286.1 | 申請日: | 2005-09-26 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101577122A | 公開(公告)日: | 2009-11-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 石田隆 | 申請(專利權(quán))人: | 松下電器產(chǎn)業(yè)株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | G11B7/00 | 分類號(hào): | G11B7/00;G11B15/00;G11B7/004;G11B7/12;G11B7/007 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 | 代理人: | 汪惠民 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 光盤 裝置 | ||
本申請是申請日為2005年9月26日、申請?zhí)枮?00580018569.X、發(fā)明名稱為“光盤及光盤裝置”的發(fā)明專利申請的分案申請。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及具有兩個(gè)信息記錄層并在各層具有測試區(qū)域的光盤。另外,本發(fā)明還涉及對(duì)所述光盤進(jìn)行記錄的光盤裝置。測試區(qū)域用于調(diào)整驅(qū)動(dòng)的各種條件、例如用于學(xué)習(xí)記錄條件。
背景技術(shù)
近年來,隨著光盤的高密度化、大容量化的不斷發(fā)展,確保光盤的可靠性變得尤為重要。為了確保該可靠性,在對(duì)這種光盤進(jìn)行記錄或再生的光盤裝置中,進(jìn)行記錄學(xué)習(xí)來求得對(duì)光盤進(jìn)行的記錄再生條件(參照專利文獻(xiàn)1)。
記錄學(xué)習(xí)是指,使與照射到光盤上的激光脈沖相關(guān)的脈沖條件最佳的動(dòng)作。脈沖條件是指,例如包括與記錄時(shí)照射到光盤上的激光脈沖的功率值、或者激光脈沖的產(chǎn)生時(shí)序及長度等相關(guān)的條件。
另外,正盛行如下的技術(shù)的開發(fā):相對(duì)于記錄再生用的光束,在位于跟前側(cè)的位置還配置半透明的信息記錄層,使其和里側(cè)的信息記錄層構(gòu)成兩層,使記錄容量倍增。即使是這樣的兩層光盤也需要記錄學(xué)習(xí),分別在相對(duì)于光束位于跟前側(cè)的層(稱作L1層)和里側(cè)的層(稱作L0層),在記錄數(shù)據(jù)之前進(jìn)行記錄條件的學(xué)習(xí)(參照專利文獻(xiàn)2)。
但是,在以往的記錄學(xué)習(xí)中,有可能會(huì)出現(xiàn)無法在L0層提取最佳的記錄條件的現(xiàn)象。具體而言,在記錄學(xué)習(xí)中,還考慮以比適于記錄數(shù)據(jù)的記錄功率(設(shè)為Pwo1)高很多的測試記錄功率來記錄測試信號(hào)。因此認(rèn)為:即使是在記錄功率Pwo1的條件下L1層的記錄的有無不會(huì)對(duì)L0層的記錄品質(zhì)帶來影響的光盤,在上述那樣的測試記錄功率下,光束通過L1層時(shí)受到強(qiáng)度變化等的影響,得不到L0層的記錄功率的最佳值(設(shè)為Pwo0)
專利文獻(xiàn)1:特開2001-338422號(hào)公報(bào)
專利文獻(xiàn)2:特開2000-311346號(hào)公報(bào)
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明鑒于上述問題而實(shí)現(xiàn),目的在于提供一種光盤裝置,在具有兩層可記錄的信息記錄層的光盤中,任一層都可以實(shí)現(xiàn)精度優(yōu)良的記錄學(xué)習(xí)。本發(fā)明的另一個(gè)目的在于提供一種利用所述光盤進(jìn)行記錄學(xué)習(xí)的光盤裝置。
本發(fā)明的光盤是可以記錄用戶數(shù)據(jù),且具有記錄再生用光的光入射面相同的第一和第二兩個(gè)信息記錄層的光盤。第一信息記錄層至少包括:用于調(diào)整驅(qū)動(dòng)的各種條件的位于內(nèi)周的第一測試區(qū)域、用于調(diào)整驅(qū)動(dòng)的各種條件的位于外周的第二測試區(qū)域、和用于記錄用戶數(shù)據(jù)的第一數(shù)據(jù)記錄區(qū)域。第二信息記錄層至少包括:用于調(diào)整驅(qū)動(dòng)的各種條件的位于內(nèi)周的第三測試區(qū)域、用于調(diào)整驅(qū)動(dòng)的各種條件的位于外周的第四測試區(qū)域、和用于記錄用戶數(shù)據(jù)的第二數(shù)據(jù)記錄區(qū)域。第一測試區(qū)域和第三測試區(qū)域被配置在相互不重合的半徑位置。第二測試區(qū)域和第四測試區(qū)域被配置在相互大致相同的半徑位置。由此,達(dá)到上述目的。
這里,例如,第一信息記錄層是離光入射面遠(yuǎn)的一側(cè)的層,第二信息記錄層是離光入射面近的一側(cè)的層。第一測試區(qū)域和第三測試區(qū)域可以是用于學(xué)習(xí)內(nèi)周的記錄條件的區(qū)域。第二測試區(qū)域和第四測試區(qū)域可以是用于學(xué)習(xí)外周的記錄條件的區(qū)域。
還可以具有下述特征:第一信息記錄層至少包括讀出專用的控制數(shù)據(jù)區(qū)域,在控制數(shù)據(jù)區(qū)域的對(duì)面的位置,配置第三測試區(qū)域。
還可以具有下述特征:控制數(shù)據(jù)區(qū)域通過壓紋狀的凹坑、波動(dòng)凹槽、或波動(dòng)凹坑,預(yù)先記錄控制數(shù)據(jù)。
還可以具有下述特征:在第一信息記錄層中,從內(nèi)周側(cè)開始按照順序至少配置控制數(shù)據(jù)區(qū)域、第一測試區(qū)域、第一數(shù)據(jù)記錄區(qū)域;在第二信息記錄層中,從內(nèi)周側(cè)開始按照順序至少配置第三測試區(qū)域、第二數(shù)據(jù)記錄區(qū)域。
還可以具有下述特征:第一測試區(qū)域的最內(nèi)周的半徑R1和第三測試區(qū)域的最外周的半徑R2之間的差,在第一信息記錄層的軌道的偏心量和第二信息記錄層的軌道的偏心量之和以上。
還可以具有下述特征:將與第一信息記錄層的軌道的偏心量和第二信息記錄層的軌道的偏心量之和相當(dāng)?shù)木嚯x、和讀出光被匯聚于第一信息記錄層時(shí)第二信息記錄層中的讀出光的光束半徑相加而得到一距離,半徑R1和半徑R2之間的差在所得到的距離以上。
還可以具有下述特征:將與第一信息記錄層的軌道的偏心量和第二信息記錄層的軌道的偏心量之和相當(dāng)?shù)木嚯x、和第一信息記錄層的軌道始端的半徑位置公差與第二信息記錄層的軌道始端的半徑位置公差之和相加而得到一距離,半徑R1和半徑R2之間的差在所得到的距離以上。
還可以具有下述特征:從光入射面至第一信息記錄層的距離,與具有單一的信息記錄層的光盤中的、光入射面與單一的信息記錄層之間的距離相等。
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