[發明專利]液晶顯示裝置母基板

有效

• 申請號: 200910145239.7
• 申請日: 2009-05-27
• 公開（公告）號: CN101566765A
• 公開（公告）日: 2009-10-28
• 發明（設計）人: 閆秀梅;程一凡
• 申請（專利權）人: 昆山龍騰光電有限公司
• 主分類號: G02F1/136
• 分類號: G02F1/136;G02F1/13
• 代理公司: 北京德琦知識產權代理有限公司
• 代理人: 王一斌;王 琦

技術領域

本發明涉及液晶顯示器領域，特別涉及一種具有靜電防護功能的液晶顯示裝置母基板。

背景技術

液晶顯示器(LCD)因其分辨率高、沒有閃爍、體小量輕等優勢，已經逐步取代了陰極射線管(CRT)顯示器的壟斷地位，并被廣泛應用于手機、筆記本電腦、個人數字助理等顯示應用領域。

隨著液晶顯示器被廣泛的應用，對顯示質量的要求逐步提高，要求該液晶顯示器因像素不好而造成的點缺陷要盡可能的少、或者甚至沒有。液晶顯示器主要包括陣列基板、對置基板和夾在陣列基板和對置基板之間的液晶層。陣列基板通常是從一塊大的液晶顯示裝置母基板中切割而形成。在制造陣列基板的過程中，液晶顯示裝置母基板會由于摩擦、移動、加壓、冷熱環境變化等因素而持續產生靜電，液晶顯示裝置母基板表面上將累積不少靜電荷的存在，除非有適當的放電通道，否則靜電荷會一直停留在液晶顯示裝置母基板表面上，進而可能導致陣列基板內部的元件以及電路遭受到靜電放電的破壞。因此在制造過程中需要對液晶顯示裝置母基板中的每個陣列基板進行信號電路和像素的檢測，以確保液晶顯示器的質量符合要求。

如圖1所示，在液晶顯示裝置母基板100上等間距地分布著多個陣列基板101，每個陣列基板101之間存在一定的間隔，在陣列基板101之間的間隔處分布著用于檢測的交叉排列的第一金屬線11和第二金屬線12。

圖2為圖1所示液晶顯示裝置母基板中的部分金屬線排列示意圖，其中省略了陣列基板。如圖2所示，第一金屬線11與第二金屬線12交叉排列，在第一金屬線11和第二金屬線12的第一交疊區域13，第一金屬線11和第二金屬線12之間具有絕緣層和半導體層。圖3為圖2沿A-A線的剖視圖，如圖3所示，在第一金屬線11上覆蓋絕緣層14，在絕緣層上方設置半導體層15，半導體層15上方設置第二金屬線12。

在陣列基板的制造過程中，如圖1所示，由于液晶顯示裝置母基板靜電積累的結果，第一金屬線11會由于感應靜電荷而使得第一金屬線11與第二金屬線12之間的電壓增大，而位于陣列基板之間的間隔處的第一金屬線11和第二金屬線12之間的半導體層15由于具有感應電荷的特性、從而使得在第一交疊區域13第一金屬線11與第二金屬線12之間的電壓急劇增大，當電壓超過絕緣層的耐壓極限時，會導致第一金屬線11與第二金屬線12之間由于電容較小而在第一交疊區域13被擊穿，其發生擊穿的位置如圖1中圓點102的位置所示。

當第一交疊區域13處由于靜電積累而發生擊穿時，則用于檢測的第一金屬線11和第二金屬線12將無法實現檢測陣列基板的功能。

可見，現有液晶顯示裝置母基板制造過程中中由于未設有具有靜電防護功能的結構，因而易導致第一金屬線11與第二金屬線12的短路，第一金屬線11與第二金屬線12用于檢測的功能失效，進而易導致對陣列基板的測試失靈，影響產品良率。

發明內容

為了避免上述問題，本發明提供一種在不影響液晶顯示裝置母基板中陣列基板顯示區域的情況下，能夠有效轉移用于測試的金屬線在交疊區域被靜電擊穿而破壞金屬線檢測功能的液晶顯示裝置母基板。

本發明解決其技術問題所采用的技術方案是：

一種液晶顯示裝置母基板，包括：用于檢測的交叉排列的第一金屬線和第二金屬線；

位于第一、第二金屬線之間第一交疊區域并將第一、第二金屬線隔離的第一絕緣層；

臨近第一交疊區域，第一金屬線具有側向凸出的第一凸出部，第二金屬線具有側向凸出的第二凸出部；

第一凸出部和第二凸出部的自由端部交疊于第二交疊區域，且第一凸出部和第二凸出部之間的第二交疊區域具有第二絕緣層和半導體層。

本發明的液晶顯示裝置母基板通過在臨近兩金屬線第一交疊區域的金屬線兩側設置側向凸出的凸出部，并在凸出部之間設置具有靜電荷感應特性的半導體層，使得在兩金屬線的凸出部的第二交疊區域的半導體層產生對應的感應電荷，從而有效地降低了兩金屬線在第一交疊區域由于靜電積累效應而被擊穿發生短路的現象，預防了用于測試的金屬線被靜電破壞，提高了測試的可靠性。

附圖說明

圖1為現有液晶顯示裝置母基板中陣列基板的排布及發生靜電擊穿的位置示意圖。

圖2為圖1所示液晶顯示裝置母基板上的部分金屬線排列示意圖。

圖3為圖2沿A-A線的剖視圖。

圖4是本發明的液晶顯示裝置母基板中局部金屬線交疊結構示意圖。

圖5為圖4沿B-B線的剖視圖。

圖6為圖4沿C-C線的剖視圖。

具體實施方式