[發(fā)明專利]電氣電子試驗(yàn)實(shí)習(xí)系統(tǒng)無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200910142906.6 | 申請日: | 2009-05-13 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101887655A | 公開(公告)日: | 2010-11-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 宋基洪 | 申請(專利權(quán))人: | 索盧文思有限公司 |
| 主分類號(hào): | G09B23/18 | 分類號(hào): | G09B23/18 |
| 代理公司: | 北京同達(dá)信恒知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11291 | 代理人: | 黃志華 |
| 地址: | 韓國*** | 國省代碼: | 韓國;KR |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電氣 電子 試驗(yàn) 實(shí)習(xí) 系統(tǒng) | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明提供了一種包括多功能計(jì)測裝置的電氣電子試驗(yàn)實(shí)習(xí)系統(tǒng),更具體地說其能被小型化和攜帶,且為了在狹小的空間里可以有效地進(jìn)行試驗(yàn),將多功能數(shù)字計(jì)測裝置內(nèi)置,并且利用多種應(yīng)用試驗(yàn)?zāi)K可以擴(kuò)大電氣電子試驗(yàn)實(shí)習(xí)范圍,作為具備多功能計(jì)測裝置的電氣、電子和通信領(lǐng)域的合而為一(All-in-One)教育系統(tǒng),其被用于電氣、電子和通信領(lǐng)域的試驗(yàn)實(shí)習(xí)。
背景技術(shù)
為了進(jìn)行電氣、電子和通信領(lǐng)域的試驗(yàn)實(shí)習(xí),基本上需要輸入信號(hào)源、用來構(gòu)成試驗(yàn)電路的試驗(yàn)電路板(bread?board)等的實(shí)習(xí)底座以及檢測和分析其結(jié)果的計(jì)測裝置。因此,現(xiàn)有技術(shù)用于電氣、電子和通信領(lǐng)域的試驗(yàn)實(shí)習(xí)都需要各種裝置,例如具備DC電源供應(yīng)裝置、信號(hào)發(fā)成裝置、數(shù)字多用電表、示波器。由于現(xiàn)有技術(shù)需要購買和設(shè)立上述各種裝置,其需要太多的費(fèi)用和設(shè)置上用的大的空間,并且其在裝置的管理和保管方面上也不太方便。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的一個(gè)方面提供了一種包括多功能計(jì)測裝置的電氣電子試驗(yàn)實(shí)習(xí)系統(tǒng),其為進(jìn)行電氣、電子和通信領(lǐng)域的試驗(yàn)實(shí)習(xí)不需要具備多種計(jì)測裝置而只需以一個(gè)裝置就可以實(shí)現(xiàn)所要操作的試驗(yàn)。
本發(fā)明的一個(gè)方面也提供了一種在電氣、電子和通信領(lǐng)域中合而為一的電氣電子試驗(yàn)實(shí)習(xí)系統(tǒng),其以一個(gè)整體型裝置能實(shí)現(xiàn)小型化和攜帶化,可以節(jié)省費(fèi)用,使試驗(yàn)環(huán)境方便化且能擴(kuò)大多種試驗(yàn)。
根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面,提供了一種電氣電子試驗(yàn)實(shí)習(xí)系統(tǒng),所述系統(tǒng)包括:電源供應(yīng)裝置,接收從外部中施加的AC電源來提供所需要的DC電源;信號(hào)發(fā)生裝置,生成具有預(yù)定頻率范圍的正弦波、矩形波、三角波等的交流信號(hào);基本試驗(yàn)?zāi)K,包括通過使用各種電氣電子元件和IC芯片可以構(gòu)成試驗(yàn)電路的試驗(yàn)電路板;多功能數(shù)字計(jì)測裝置,檢測和顯示上述試驗(yàn)電路的各種電氣的量和波形;和USB接口,為了存儲(chǔ)和分析上述多功能數(shù)字計(jì)測裝置來檢測的數(shù)據(jù)與外部PC相連接,其中上述系統(tǒng)由與筆記本電腦結(jié)構(gòu)相似的主體部和可以打開和關(guān)閉上述主體部的殼體部構(gòu)成,在上述主體部內(nèi)設(shè)立可以構(gòu)成試驗(yàn)電路的試驗(yàn)電路板,在殼體部內(nèi)面上配置用來顯示電路的各種電氣的量和波形的上述多功能數(shù)字計(jì)測裝置的顯示部以及顯示器畫面窗口。
所述的系統(tǒng),進(jìn)一步包括和上述基本試驗(yàn)?zāi)K相電連接且實(shí)現(xiàn)多種的試驗(yàn)實(shí)習(xí)的應(yīng)用試驗(yàn)?zāi)K,通過將在上述應(yīng)用試驗(yàn)?zāi)K的下面形成的針插入到上述基本試驗(yàn)?zāi)K的試驗(yàn)電路板的針孔里來電連接上述應(yīng)用試驗(yàn)?zāi)K和上述基本試驗(yàn)?zāi)K。上述應(yīng)用試驗(yàn)?zāi)K是從利用處理機(jī)芯片的微處理機(jī)試驗(yàn)?zāi)K、利用芯片例如Xilinx或Altera等的ASIC設(shè)計(jì)試驗(yàn)?zāi)K、適用RFID的通信電路試驗(yàn)?zāi)K和根據(jù)用戶的要求實(shí)現(xiàn)的另外應(yīng)用試驗(yàn)?zāi)K中選擇的至少一個(gè),其中處理機(jī)芯片包括8051、AVR和PIC。
上述電源供應(yīng)裝置包括DC可變電源供應(yīng)裝置和DC固定電源供應(yīng)裝置,其中上述DC可變電源供應(yīng)裝置通過電源開關(guān)的開或關(guān)從外部中接收110/220V的交流電源來輸出具有預(yù)定范圍的靜電壓,上述DC固定電源供應(yīng)裝置通過電源開關(guān)的開或關(guān)從外部中接收110/220V的交流電源來輸出具有預(yù)定大小的靜電壓。
上述基本試驗(yàn)?zāi)K包括:使用各種電氣電子元件、IC芯片和跨接線可以構(gòu)成電氣電子電路的具有多個(gè)針孔的試驗(yàn)電路板;通過利用跨接線來將配置在上述試驗(yàn)電路板上的電路元件和輸入端相電連接,顯示配置在上述試驗(yàn)電路板上的電路元件的輸入等級是Low狀態(tài)還是High狀態(tài)的多個(gè)LED顯示器;通過利用跨接線來將配置在上述試驗(yàn)電路板上的電路元件和輸入端相電連接,檢測和顯示配置在上述試驗(yàn)電路板上的電路元件的DC電壓等級的多個(gè)FND顯示器;由共同端、第一端和第二端構(gòu)成且通過利用跨接線來和在上述試驗(yàn)電路板上配置的電路的兩個(gè)部分相電連接,依據(jù)用戶的操作可以兩者擇一地選擇相連接的上述兩個(gè)部分的開、關(guān)的乒乓開關(guān);通過利用跨接線來和在上述試驗(yàn)電路板上配置的電路的特定部分相電連接,在上述特定部分上生成從High到Low狀態(tài)或從Low到High狀態(tài)的時(shí)鐘脈沖的時(shí)鐘脈沖發(fā)生器;通過利用跨接線來和在上述試驗(yàn)電路板上配置的電路的特定部分相電連接,在上述特定部分上可精密地變化電阻的精密可變電阻;通過利用跨接線來和在上述試驗(yàn)電路板上配置的電路的特定部分相電連接,在上述特定部分上變化電路的開關(guān)或連接狀態(tài)的多個(gè)按鈕開關(guān);和固定裝載各種應(yīng)用試驗(yàn)?zāi)K的應(yīng)用試驗(yàn)?zāi)K底座。
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