[發明專利]一種冗余保護方法、裝置及系統

有效

• 申請號: 200910142302.1
• 申請日: 2009-05-27
• 公開（公告）號: CN101571820A
• 公開（公告）日: 2009-11-04
• 發明（設計）人: 魏明昌
• 申請（專利權）人: 成都市華為賽門鐵克科技有限公司
• 主分類號: G06F11/14
• 分類號: G06F11/14;G06F3/06
• 代理公司: 深圳市深佳知識產權代理事務所（普通合伙）
• 代理人: 彭愿潔;李文紅

1.一種冗余保護方法，其特征在于，包括：

將至少兩個存儲節點的磁盤進行分組，獲得至少一個磁盤組；

根據所述磁盤組包含的磁盤數，從預設的磁盤數與獨立冗余磁盤陣列類 型的對應關系中選取相應的獨立冗余磁盤陣列類型；所述獨立冗余磁盤陣列 類型是通過對里德-所羅門編碼算法提供的獨立冗余磁盤陣列基本類型進行 改進而得到的；或者，所述獨立冗余磁盤陣列類型為里德-所羅門編碼算法提 供的獨立冗余磁盤陣列基本類型；

利用選取的獨立冗余磁盤陣列類型計算出所述磁盤組中每個磁盤的校驗 塊，并將所述校驗塊分別存儲到所述磁盤組的每個磁盤中。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述將至少兩個存儲節點 的磁盤進行分組，獲得至少一個磁盤組包括：

若所述至少兩個存儲節點的磁盤總數小于或等于預設閾值，則將所述至 少兩個存儲節點的磁盤劃分成一個包含所述至少兩個存儲節點的磁盤總數的 磁盤組；

或者，若所述至少兩個存儲節點的磁盤總數大于預設閾值，則將所述至 少兩個存儲節點的磁盤劃分成分組值個磁盤組；所述分組值為所述至少兩個 存儲節點的磁盤總數除以所述預設閾值的一半所獲得的商的整數部分；

所述分組值個磁盤組中，有一個磁盤組包含的磁盤數是通過計算所述至 少兩個存儲節點的磁盤總數與所述預設閾值的一半的模，再將所述模與所述 預設閾值的一半相加而獲得的；其余的磁盤組中每個磁盤組包含的磁盤數為 所述預設閾值的一半。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用選取的獨立冗余 磁盤陣列類型計算出所述磁盤組中每個磁盤的校驗塊包括：從所述每個磁盤 中，分別讀取數據塊，將所述讀取的數據塊，利用選取的獨立冗余磁盤陣列 類型計算出所述磁盤組中每個磁盤的校驗塊。

4.一種冗余保護裝置，其特征在于，包括：

分組模塊，用于將至少兩個存儲節點的磁盤進行分組，以獲得至少一個 磁盤組；

選取模塊，用于根據所述磁盤組包含的磁盤數，從預設的磁盤數與獨立 冗余磁盤陣列類型的對應關系中選取相應的獨立冗余磁盤陣列類型；所述獨 立冗余磁盤陣列類型是通過對里德-所羅門編碼算法提供的獨立冗余磁盤陣 列基本類型進行改進而得到的；或者，所述獨立冗余磁盤陣列類型為里德- 所羅門編碼算法提供的獨立冗余磁盤陣列基本類型；

處理模塊，用于根據選取的獨立冗余磁盤陣列類型計算出所述磁盤組中 每個磁盤的校驗塊，并將所述校驗塊分別存儲到所述磁盤組的每個磁盤中。

5.根據權利要求4所述的裝置，其特征在于，所述分組模塊包括：

判斷子模塊，用于判斷所述至少兩個存儲節點的磁盤總數是否小于或等 于預設閾值；

第一劃分子模塊，用于當所述判斷子模塊的判斷結果為是時，將所述至 少兩個存儲節點的磁盤劃分成一個包含所述至少兩個存儲節點的磁盤總數的 磁盤組；

第二劃分子模塊，用于當所述判斷子模塊的判斷結果為否時，將所述至 少兩個存儲節點的磁盤劃分成分組值個磁盤組；所述分組值為所述至少兩個 存儲節點的磁盤總數除以所述預設閾值的一半所獲得的商的整數部分；所述 分組值個磁盤組中，有一個磁盤組包含的磁盤數是通過計算所述至少兩個存 儲節點的磁盤總數與所述預設閾值的一半的模，再將所述模與所述預設閾值 的一半相加而獲得的；其余的磁盤組中每個磁盤組包含的磁盤數為所述預設 閾值的一半。