[發明專利]改進的光纖幾何參數測試儀

無效

• 申請號: 200910141379.7
• 申請日: 2009-05-21
• 公開（公告）號: CN101634603A
• 公開（公告）日: 2010-01-27
• 發明（設計）人: 沈群華
• 申請（專利權）人: 沈群華
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00;G01B11/08;G01B11/27;G01B11/24
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及光纖測試儀表領域，尤其是關于一種光纖幾何參數測試儀的改進。

背景技術

現有技術中，光纖的幾何參數主要為測試光纖的纖芯直徑、涂覆層直徑、芯包同心度誤差、芯包不圓度等指標，通常是將圖1或圖2所示的光纖90的涂覆層92剝離，留下纖芯91，然后，對纖芯91的端面進行切割平或研磨平，然后放入夾具中；再對另一頭也同樣處理，然后放入另一夾具中，調整光纖的位置，從而使其在計算機顯示的測試范圍內，然后經光學成像放大，通過算法，計算機程序自動測試出纖芯的幾何參數；接著測涂覆層幾何參數時，將一端的光纖從模具中取出，直接切割整個光纖90的端面直至平整，然后將該光纖夾在夾具中，調整光纖的位置，從而使其在計算機顯示的測試范圍內，然后經光學成像放大，通過算法，計算機程序自動測試出涂覆層的幾何參數。其測試的原理圖如圖3所示，首先論述測纖芯參數的過程：光源1發出的光經過凸透鏡1后，變成了幾乎平行的光線，然后經凸透鏡2會聚至夾持在夾具14中纖芯91中，光經過光纖90傳播至夾具24處，夾具24內也夾持著纖芯91，光從夾具24中射出至凸透鏡3，經凸透鏡3后成平行光投射到反射鏡31，再將光照射到反射鏡32，經反射鏡32反射的光纖進入顯微鏡5中，然后通過攝像頭6將圖像采集下來，再送到圖像采集系統7，將圖像傳入計算機8中進行測量，這樣就完成了纖芯參數的測試；當然，背景光2將光纖的背景點亮，同時進入凸透鏡3及后面的光路，使光纖在計算機上的圖像輪廓更加清晰；通過計算機采集攝像機上各個象素點的灰度值，得到光纖端面上的灰度分布，從而可以精確計算出光纖的幾何參數。

測量涂覆層幾何參數時，夾具24中的為未剝除涂覆層92的光纖，測完纖芯后，夾具24中的光纖需要重新切割，相當麻煩，而且，需要調節夾具上下左右前后的位置，以使光纖正好位于計算機屏幕的測試區域內，這兩個過程相當麻煩，因此，大大地制約了光纖幾何參數的測試效率。

發明內容

為了解決上述問題，本發明對現有的光纖幾何參數測試儀進行了改進，它是采用以下技術方案來實現的：

改進的光纖幾何參數測試儀，它包含：光源、透鏡、平面鏡片、光纖夾具、背景光、顯微鏡、攝像頭、圖像采集系統、計算機、打印機；其特征在于：所述幾何參數測試儀中增加了一個光路，所述光路中僅增加了一光源、一透鏡、一背景光及一對平面鏡片，所述光纖夾具是由電動機控制三維方向的運動的，所述增加的一對平面鏡片平行且鏡面相對地放置，且與原有一的對平面鏡片呈90度放置；所述二對平面鏡片同時由一電動機所控制；所述的幾何參數測試儀在完成光纖端面切割后，計算機根據程序自動轉換光路并完成纖芯與涂覆層的測試；所述背景光是由一環狀發光二極發光形成。

本發明的有益效果：由于增加了光路及采用程序控制電機帶動夾具運動的方式，因此，光纖的位置可以自動調節；由于程序控制電機帶動平面鏡面旋轉，實現了光路的切換，因此，一次就可以完成光纖所有幾何參數的測試；因此，設備更智能化、測試效率更高；設備利用率更高。

附圖說明

圖1為所測試的一段光纖的立體示意圖；

圖2為圖1的右側放大的視圖；

圖3為現有技術光纖幾何參數的測試儀的原理示意圖；

圖4為本發明的原理示意圖。

具體實施方式

下面結合附圖對本發明作詳細的說明。

實施實例一：

請參見圖4，改進的光纖幾何參數測試儀，它包含：光源、透鏡、平面鏡片、光纖夾具、背景光、顯微鏡、攝像頭、圖像采集系統、計算機、打印機；其特征在于：所述幾何參數測試儀中增加了一個光路，所述光路中僅增加了一光源、一透鏡、一背景光及一對平面鏡片，所述光纖夾具是由電動機控制三維方向的運動的，所述增加的一對平面鏡片平行且鏡面相對地放置，且與原有一的對平面鏡片呈90度放置；所述二對平面鏡片同時由一電動機所控制；所述的幾何參數測試儀在完成光纖端面切割后，計算機根據程序自動轉換光路并完成纖芯與涂覆層的測試；所述背景光是由一環狀發光二極發光形成；上述所述的透鏡都為凸透鏡。