[發明專利]光學觸控面板的測試方法及陣列測試器

有效

• 申請號: 200910141349.6
• 申請日: 2009-06-02
• 公開（公告）號: CN101908306A
• 公開（公告）日: 2010-12-08
• 發明（設計）人: 蔡志鴻;陳柏仰;蕭建智
• 申請（專利權）人: 瀚宇彩晶股份有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00;G01R31/02;G06F3/042
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 鄔少俊;王英

技術領域

本發明涉及一種光學觸控面板的測試方法及陣列測試器，特別涉及一種光學觸控面板的感光元件的測試方法及使用該測試方法的陣列測試器。

背景技術

在組裝一個液晶顯示器面板之前，通常會針對該液晶顯示器面板的薄膜晶體管陣列的所有像素單元進行電性測試，從而提早檢測出薄膜晶體管陣列的不良品以節省制造成本、找出薄膜晶體管陣列工藝中的問題點以及修補所測試出的缺陷點以提升工藝良率。

公知陣列測試器(array?tester)已經可以測試出薄膜晶體管陣列中的缺陷并對所測試出的缺陷進行分類。例如美國專利第5,546,013號，標題為“用以決定薄膜晶體管液晶顯示器中的接點品質及線路完整度的陣列測試器(Array?tester?for?determining?contact?quality?and?line?integrity?in?a?TFT/LCD)”，即揭示了一種陣列測試器，其包含第一裝置通過分別提供脈沖信號至柵極線及數據線以活化陣列的像素單元；第二裝置從該陣列的數據線擷取信號波形；第三裝置在選定時間針對該信號波形進行取樣；及計算機對該信號波形分類以判定該陣列是否存在電性缺陷。

近年來，光學觸控面板由于具有較佳的操作便利性而成為顯示器產業的熱門產品，尤其以嵌入非晶硅材料作為第三切換元件的光學觸控面板因工藝相容性高而具有較低的生產成本。

然而，公知陣列測試器并不具有可針對光學觸控面板的感光元件進行測試的功能。因此，有必要提出一種光學觸控面板的感光元件的良率測試方法及測試裝置，以有效預先檢測光學觸控面板的感光元件的品質是否符合出廠規格。

發明內容

本發明提出一種光學觸控面板的感光元件的測試方法及使用該測試方法的陣列測試器，其可測試光學觸控面板的所有感光元件是否為正常運作、漏電或斷線，并可測試出具有電性缺陷的感光元件的所在位置。

本發明提出一種光學觸控面板的測試方法，該光學觸控面板包含多個陣列排列的像素單元，每一像素單元包含讀取線、共通線、感光元件及開關元件，該感光元件耦接該共通線及該開關元件，該讀取線耦接該開關元件，該測試方法包含下列步驟：耦合負電位至該共通線以關閉該感光元件；耦合正電位至該讀取線；開啟該開關元件以使該正電位對該感光元件充電；關閉該開關元件預設時間；耦合該負電位至該讀取線；再度開啟該開關元件以通過該讀取線讀取該感光元件的電位變化；及分析該電位變化。

本發明還提出一種光學觸控面板的測試方法，該光學觸控面板包含多個陣列排列的像素單元，每一像素單元包含讀取線、共通線、感光元件及開關元件，該感光元件耦接該共通線及該開關元件，該讀取線耦接該開關元件，該測試方法包含下列步驟：耦合正電位至該共通線以開啟該感光元件；開啟該開關元件以使該讀取線、該開關元件、該感光元件及該共通線形成電流通路；及分析該讀取線的電流或電位變化。

本發明還提出一種陣列測試器，用以測試光學觸控面板的感光元件，該光學觸控面板包含多個陣列排列的像素單元，每一像素單元包含讀取線、共通線、開關元件及該感光元件，該感光元件耦接該共通線及該開關元件，該讀取線耦接該開關元件，該陣列測試器包含測試頭、控制單元及處理單元。該測試頭包含多個探針用以分別電性接觸該讀取線的接觸墊。該控制單元耦接該測試頭，用以產生第一電位至該讀取線，并另外控制該開關元件的啟閉以使該第一電位對該感光元件進行充電或放電。該處理單元耦接該測試頭，用以分析該讀取線的電流或電位變化以判定該感光元件是否具有缺陷。

本發明的光學觸控面板的感光元件的測試方法及陣列測試器中，通過分析像素單元的讀取線所讀出的電流或電位變化，可判定該像素單元中的感光元件是否存在電性缺陷，并可判定該電性缺陷的種類。

附圖說明

圖1顯示了光學觸控面板的像素單元的電路示意圖。

圖2顯示了第1圖的像素單元的感光元件的剖視圖。

圖3a顯示了本發明實施例的光學觸控面板的測試系統的示意圖，其中讀取線的接觸墊設置于非數據線側及非柵極線側。

圖3b顯示了本發明實施例的光學觸控面板的測試系統的另一示意圖，其中讀取線的接觸墊設置于柵極線側。

圖3c顯示了本發明實施例的光學觸控面板的測試系統的另一示意圖，其中讀取線的接觸墊設置于數據線側。

圖4a顯示了本發明實施例的光學觸控面板的感光元件的測試方法的時序圖。

圖4b顯示了本發明實施例的光學觸控面板的感光元件的測試方法的流程圖。

圖5a顯示了本發明另一實施例的光學觸控面板的感光元件的測試方法的時序圖。