[發明專利]數據恢復的校正電路與方法

無效

• 申請號: 200910141340.5
• 申請日: 2009-06-02
• 公開（公告）號: CN101908357A
• 公開（公告）日: 2010-12-08
• 發明（設計）人: 吳聲宏
• 申請（專利權）人: 聯詠科技股份有限公司
• 主分類號: G11B20/18
• 分類號: G11B20/18
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 史新宏

技術領域

本發明涉及一種數據恢復的校正電路與方法，且特別涉及一種適用于光學存儲系統的數據恢復的校正電路與方法。

背景技術

一般光學存儲系統，例如包括光盤(compact?disks，CDs)或數字多樣化光盤(digital?versatile?disks，DVDs)等雷射光盤，使用光盤驅動機(optical?disc?drive，ODD)，再生其存儲數據的操作期間，光盤驅動機會發出雷射光于雷射光盤表面，并讀取由雷射光盤表面所反射的信號。雷射光盤表面所讀出的信號為射頻(radio?frequency，RF)信號，因此其中包括具有去焦時的非線性通道、符碼間干擾(inter-symbol?interference，ISI)、電氣延遲、大量生產后射出成型于記錄介質上的凹坑類型、記錄介質上染料的老化或者記錄介質的表面刮傷等，而導致辨識不良，而讀取出失真數據。

詳細來說，將自雷射光盤所反射的光轉換為電信號，且經由信號處理而以二進位數據的形式來再生電信號。根據記錄于雷射光盤上的各種長度的標記或空間來再生射頻信號，且必須精確地檢測射頻信號的相位以及電平以獲得可靠的二進位數據。

為了自失真數據恢復原始存儲的數字數據，一般而言，已知的PRML(partial?response?maximum?likelihood)技術為一種主要的手段。其中部分響應(partial?response，PR)方法校正電平誤差以形成其上可執行數據操作的數字數據。由使用最大似然(maximum?likelihood，ML)方法的維特比(Viterbi)解碼機制將所形成的數字數據解碼為原始存儲的數字數據，且因此其在一比特基礎上經誤差校正。此方法可用以增加射頻信號的可靠性，但此方法將增加設計上的困難以及實現此硬件的復雜度，同時更耗費許多系統資源。

發明內容

有鑒于此，本發明提供一種數據恢復的校正電路，通過分析數據信號的振幅與周期，并將其比對振幅與周期的參考值，可即時修正此數據信號，可增加數據信號的可辨識率，其中此數據信號可為一個經過切割器(slicer)的射頻信號。

本發明提供一種數據恢復的校正方法，通過分析數據信號的振幅與周期，并將其比對振幅與周期的參考值，可即時修正此數據信號，可增加數據信號的可辨識率。

本發明提出一種數據恢復的校正電路，包括振幅檢測電路、周期檢測電路及補償電路。振幅檢測電路接收數據信號與零交越點(zero-cross)信號，并根據零交越點信號對數據信號的多個振幅進行取樣，而輸出振幅信號。周期檢測電路接收零交越點信號與時鐘信號，并根據零交越點信號對時鐘信號進行取樣，而輸出周期信號。補償電路接收振幅信號、周期信號及數據信號，通過計算振幅信號及周期信號與標準信號的差異，調整數據信號的相位，并輸出校準數據信號。

在本發明的一示范實施例中，上述的補償電路包括統計單元及修正單元。其中，統計單元耦接振幅檢測電路，且統計單元預設一個標準信號，此標準信號包括多個振幅參考值與多個周期參考值，用以從這些振幅參考值中選擇與振幅信號最相近的振幅參考值，并間插輸出這些周期參考值中與該振幅信號相對應的周期參考值。修正單元耦接統計單元與周期檢測電路，接收周期信號與周期參考值，藉以產生第一補償參數，使用第一補償參數調整數據信號的相位，并輸出校準數據信號。

在本發明的一示范實施例中，上述的修正單元包括計算單元及相位調整單元。其中，計算單元耦接統計單元與周期檢測電路，用以接收周期信號與周期參考值，并計算周期信號與周期參考值的差異值，將差異值乘以預設倍數，藉以產生第一補償參數。相位調整單元耦接計算單元，使用第一補償參數調整周期信號的起始時間與結束時間，藉以調整數據信號的相位，輸出校準數據信號。

在本發明的一示范實施例中，上述的補償電路包括統計單元及修正單元。其中，統計單元耦接周期檢測電路，且統計單元預設一個標準信號，此標準信號包括多個振幅參考值與多個周期參考值，用以從這些周期參考值中選擇與周期信號最相近的周期參考值，以間插輸出這些振幅參考值中與該周期信號相對應的振幅參考值。修正單元耦接統計單元與振幅檢測電路，接收振幅信號與振幅參考值，藉以產生第二補償參數，使用第二補償參數調整數據信號的相位，并輸出校準數據信號。