[發(fā)明專利]源于有效原子序數(shù)計(jì)算的材料成分檢測

無效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200910140680.6
• 申請(qǐng)日: 2009-06-05
• 公開（公告）號(hào): CN101598686A
• 公開（公告）日: 2009-12-09
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: X·吳
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 通用電氣公司
• 主分類號(hào): G01N23/04
• 分類號(hào): G01N23/04
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司
• 代理人: 柯廣華;徐予紅

1.一種計(jì)算通過放射線形態(tài)檢查的材料的原子序數(shù)的方法，所述方法包括：

訪問物體的第一單色圖像和第二單色圖像(66，76)，所述第一單色圖像在第一能量級(jí)采集，并且所述第二單色圖像在第二能量級(jí)采集；

獲得所述第一單色圖像與所述第二單色圖像之間的質(zhì)量衰減系數(shù)的比率(68，78)；以及

基于質(zhì)量衰減系數(shù)的所述比率來計(jì)算關(guān)于所述物體的材料的原子序數(shù)(70)。

2.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述第一單色圖像和所述第二單色圖像從材料密度圖像獲得。

3.如權(quán)利要求1所述的方法，其中質(zhì)量衰減系數(shù)的所述比率在逐像素基礎(chǔ)上、基于所述第一單色圖像和所述第二單色圖像獲得(78)。

4.如權(quán)利要求1所述的方法，還包括確定用于基于預(yù)定的閾值從質(zhì)量衰減系數(shù)來獲得原子序數(shù)圖像的傳遞函數(shù)，其中通過計(jì)算在所述第一和第二能量級(jí)兩個(gè)或更多元素的質(zhì)量衰減系數(shù)的比率來確定所述傳遞函數(shù)。

5.如權(quán)利要求4所述的方法，其中所述預(yù)定的閾值對(duì)應(yīng)于應(yīng)用的最小線性衰減值或圖像噪聲值(86)。

6.如權(quán)利要求1所述的方法，還包括分析所述原子序數(shù)以識(shí)別所述物體的材料成分。

7.如權(quán)利要求1所述的方法，還包括通過基于閾值變換比率圖像(80)來生成原子序數(shù)圖像。

8.一種圖像分析系統(tǒng)，包括：

成像源(14)，配置成產(chǎn)生成像光束(42)；

檢測器(16)，配置成檢測穿過物體(20)的所述成像光束；以及

處理器，配置成：

采集所述物體的第一單色圖像和第二單色圖像(66，76)，其中所述第一單色圖像在第一能量級(jí)采集，并且所述第二單色圖像在第二能量級(jí)采集；

計(jì)算所述第一單色圖像和所述第二單色圖像的像素之間的質(zhì)量衰減系數(shù)的比率(68，78)；

基于質(zhì)量衰減系數(shù)的所述比率來計(jì)算原子序數(shù)(70)；以及

分析所述原子序數(shù)以識(shí)別所述物體的材料成分(72)。

9.如權(quán)利要求8所述的圖像分析系統(tǒng)，其中所述處理器配置成在逐像素基礎(chǔ)上、基于所述第一單色圖像和所述第二單色圖像，來獲得質(zhì)量衰減系數(shù)的所述比率(78)。

10.一種計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)，包括：

適用于訪問物體的第一單色圖像和第二單色圖像的代碼，其中所述第一單色圖像在第一能量級(jí)采集，并且所述第二單色圖像在第二能量級(jí)采集(76)；

適用于獲得所述單色圖像之間的質(zhì)量衰減系數(shù)的比率的代碼(78)；以及

適用于基于質(zhì)量衰減系數(shù)的所述比率來計(jì)算關(guān)于所述物體的材料的原子序數(shù)的代碼(70)。