[發明專利]一種用于超聲成像和彈性測量的方法及儀器

有效

• 申請號: 200910139336.5
• 申請日: 2009-04-30
• 公開（公告）號: CN101843501A
• 公開（公告）日: 2010-09-29
• 發明（設計）人: 鄭永平
• 申請（專利權）人: 香港理工大學
• 主分類號: A61B8/00
• 分類號: A61B8/00
• 代理公司: 深圳市順天達專利商標代理有限公司 44217
• 代理人: 郭偉剛

1.一種用于超聲成像和彈性測量的方法，其特征在于，所述方法包括：

掃描物體以獲得B型超聲圖像；

從B型超聲圖像中選取A型信號；

由一組選定的超聲傳感器在所選取的A型信號的位置傳輸高幀率超聲信號；

基于高幀率超聲信號構建瞬態M型圖像；

基于瞬態M型圖像增強剪切波的傳播軌跡；

基于傳播軌跡和顯示結果計算物體的彈性；

并同時顯示B型超聲成像和瞬態M型測量結果。

2.根據權利要求1所述方法，其特征在于，還包括生成觸發信號并基于所述觸發信號控制擾動。

3.根據權利要求1所述方法，其特征在于，所述高幀率至少為1000幀/秒。

4.根據權利要求1所述方法，其特征在于，所述剪切波傳播軌跡疊加到瞬態M型圖像上。

5.根據權利要求4所述方法，其特征在于，所述剪切波軌跡包含一條用來指示軌跡斜率的線。

6.根據權利要求1所述方法，其特征在于，所述剪切波傳播軌跡用于計算沿深度方向的斜率分布。

7.根據權利要求6所述方法，其特征在于，由掃描控制單元控制選取A型信號的位置并在整個B型圖像上進行自動掃描以獲得在每個位置的分布并構建一幅關于斜率的新圖像。

8.根據權利要求7所述方法，其特征在于，進一步包括基于所述斜率得到楊氏模量圖。

9.一種用于超聲成像和彈性測量的儀器，包括：

用于掃描物體以獲得B型超聲圖像的掃描控制單元；

用于從B型超聲圖像中選取A型信號的選擇單元；

用于由一組選定的超聲傳感器在選取的A型信號的位置傳輸高幀率超聲信號的超聲探頭；

用于基于高幀率超聲信號構建瞬態M型圖像的處理單元；

用于基于瞬態M型圖像增強剪切波傳播軌跡的增強單元；

用于基于傳播軌跡和顯示結果計算物體彈性的計算單元；

以及用于同時顯示B型超聲圖像和瞬態M型測量結果的顯示單元。

10.根據權利要求9所述的儀器，其特征在于，所述超聲探頭包括一系列超聲換能器以及安裝在超聲探頭內的振動器，所述振蕩器被裝在所述超聲換能器元件陣列的基底材料上以對組織施加振動，

其中組織與超聲探頭的表面相接觸。