[發明專利]集成電路及配置集成電路的方法

有效

• 申請號: 200910139273.3
• 申請日: 2009-04-23
• 公開（公告）號: CN101567682A
• 公開（公告）日: 2009-10-28
• 發明（設計）人: T·艾克勒;A·漢尼伯格;D·赫比森;M·赫塞納;C·施沃澤;M·特拉伯;H·溫斯克
• 申請（專利權）人: 英飛凌科技股份有限公司
• 主分類號: H03K19/00
• 分類號: H03K19/00;H05B37/02;H05B33/08;G01R19/00
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司
• 代理人: 柯廣華;王忠忠

1.一種集成電路，包括：

輸出端，耦合到發光二極管，

輸出電路，耦合到所述輸出端，所述輸出電路包括發光二極管驅 動器并且適合給所述發光二極管提供工作信號，

測量電路，耦合到所述輸出端，所述測量電路適合在所述輸出端 上感測在所述發光二極管的工作狀態之外的信號值，所述信號值是低 于發光二極管的閾值電壓的電壓或低于發光二極管的閾值電流的電 流，以及

控制電路，耦合到所述測量電路，所述控制電路適合基于由所述 測量電路所感測的所述信號值對所述集成電路的至少一種功能進行 控制。

2.如權利要求1所述的集成電路，其中，所述測量電路包括適合 將所感測信號值轉換成數字值的模數轉換器。

3.如權利要求2所述的集成電路，其中，所述控制電路適合從所 述測量電路接收所述數字值，且包括適合存儲所述數字值的存儲器。

4.如權利要求1所述的集成電路，其中，所述測量電路包括耦合 到所述輸出端的測試信號源，所述測試信號源適合向所述輸出端提供 測試信號。

5.如權利要求4所述的集成電路，其中，所述測試信號的值選擇 成處于所述發光二極管的工作狀態之外。

6.如權利要求4所述的集成電路，其中，所述測試信號為測試電 流，且

其中，所述測量電路適合感測所述輸出端上的電壓。

7.如權利要求4所述的集成電路，其中，所述測試信號為測試電 壓，且

其中，所述測量電路適合感測流經所述輸出端的電流。

8.如權利要求4所述的集成電路，其中，所述測量電路適合在相 對于激活所述測試信號的時間點的至少兩個不同時間點感測所述輸 出端上的所述信號值。

9.一種電子裝置，包括：

集成電路，以及

發光二極管，耦合到所述集成電路的輸出端，

其中，所述集成電路包括：

輸出電路，耦合到所述輸出端，所述輸出電路包括發光二極管驅 動器并且適合給所述發光二極管提供工作信號，

測量電路，耦合到所述輸出端，所述測量電路適合在所述輸出端 上感測在所述發光二極管的工作狀態之外的信號值，所述信號值是低 于發光二極管的閾值電壓的電壓或低于發光二極管的閾值電流的電 流，以及

控制電路，耦合到所述測量電路，所述控制電路適合基于由所述 測量電路所感測的所述信號值對所述集成電路的至少一種功能進行 控制。

10.如權利要求9所述的電子裝置，包括：

配置電路，耦合到所述集成電路的所述輸出端。

11.如權利要求10所述的電子裝置，其中，所述配置電路包括配 置電阻器。

12.如權利要求11所述的電子裝置，其中，在100Ω到100kΩ 的范圍中選擇所述配置電阻器的電阻值。

13.如權利要求10所述的電子裝置，其中，所述配置電路包括配 置電容器。

14.如權利要求10所述的電子裝置，其中，所述測量電路包括耦 合到所述輸出端的測試信號源，所述測試信號源適合以經過所述輸出 端的電流基本只流過所述配置電路的方式向所述輸出端提供測試信 號。

15.一種配置集成電路的方法，包括：

將發光二極管耦合到所述集成電路的輸出端，

在所述輸出端上感測在所述發光二極管的工作狀態之外的信號 值，所述信號值是低于發光二極管的閾值電壓的電壓或低于發光二極 管的閾值電流的電流，以及

基于所述所感測信號值對所述集成電路的至少一種功能進行控 制。

16.如權利要求15所述的方法，包括：

將配置電路耦合到所述輸出端。