[發明專利]光盤機讀取方法

無效

• 申請號: 200910137727.3
• 申請日: 2009-04-29
• 公開（公告）號: CN101877236A
• 公開（公告）日: 2010-11-03
• 發明（設計）人: 陳世國;許錦發;朱修明
• 申請（專利權）人: 廣明光電股份有限公司
• 主分類號: G11B20/18
• 分類號: G11B20/18
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 史新宏

技術領域

本發明涉及一種光盤機讀取方法，尤其涉及光盤機在發生數據讀取錯誤時，設定最高重試讀取錯誤數據次數的方法。

背景技術

光盤上微小的數據記號，經常受到灰塵、污漬、刮傷、燒錄品質或讀取過程中噪聲的影響因素，造成讀取錯誤。光盤機需要多次重試讀取光盤，以求在灰塵、污漬、或噪聲等可變動因素消失時，完成數據的讀取。

先前技術光盤機的讀取方法，在接收主機讀取數據的命令后，設定讀取數據的標的所在，并進行讀取光盤上標的數據記號。利用錯誤校正碼(Error?Correct?Code，簡稱ECC校正碼)，將讀取的數據記號進行校正解碼，調制出原來的數據。假如不能順利解碼則產生讀取錯誤，而無法讀出光盤的數據。為了避免灰塵、污漬、或噪聲等非永久性因素一時所造成的讀取錯誤，將重試讀取該筆數據。由于無法確認讀取錯誤產生的原因，先前技術預設一固定的重試次數，作為重試讀取次數的上限，嘗試讀出數據。并檢查重試讀取次數一到達預設的重試次數，則回報主機讀取錯誤，及結束讀取流程，以便等待下一讀取命令。

先前技術光盤機讀取方法，雖然利用預設重試次數，嘗試多次讀取錯誤數據，達成讀取命令。然而，先前技術預設的重試次數為固定，亦即對造成讀取錯誤的因素，不分可變動或不可變動消失，均需再重試預設次數。例如對光盤信號品質較差的數據記號，如仍采行相同的重試次數，光盤機需耗費相當多的時間在重試上，且無法改變讀取錯誤，而造成無謂的重試。尤其對于記號相對微小的高容量藍光光盤，重試機率更多，耗費時間更長，將降低整體光盤機的讀取效率。因此，已知光盤機讀取方法在重試次數的設定上，仍有問題亟待解決。

發明內容

本發明的目的在提供一種光盤機讀取方法，對讀取過程數據校正解碼錯誤量低的區域，采取高設定重試次數，以增加成功讀取的機會。而對錯誤量高的區域，則采取低設定重試次數，以降低重試的時間。

本發明的另一目的在提供一種光盤機讀取方法，通過根據讀取過程的數據解碼錯誤量高低，分級設定重試次數，以提升讀取效率。

本發明再一目的在提供一種光盤機讀取方法，利用讀取數據的區塊平均解碼錯誤量，設定重試次數，以精確設定重試次數。

為了達到前述發明的目的，本發明的光盤機讀取方法，首先設定及讀取數據，校正解碼讀取數據及計算校正解碼的錯誤量。產生讀取錯誤時設定重試讀取該筆數據，且將重試累計次數增加一次。根據錯誤量，高的錯誤量，設定低的設定重試次數，低的錯誤量則設定高的設定重試次數。在重試次數未到達設定重試次數，重試讀取該筆錯誤數據。在重試次數到達設定重試次數，則確定為讀取錯誤。

本發明的光盤機讀取方法，在設定重試次數時，將校正解碼錯誤量分成多級范圍，并預設相對級數的設定重試次數。此外，也可擷取讀取數據的數據區塊數，將校正解碼的錯誤量除以數據區塊數，求得數據區塊的平均錯誤量，再根據數據區塊的平均錯誤量，設定重試次數，以達到精確設定重試次數。

附圖說明

圖1為本發明光盤機讀取方法的流程圖。

圖2為本發明光盤機讀取方法實際運用的流程圖。

圖3為本發明設定重試次數的流程圖。

圖4為本發明另一設定重試次數的流程圖。

【主要元件符號說明】

P1開始讀取步驟

P2設定及讀取數據步驟

P3校正解碼及計算錯誤量步驟

P4產生讀取錯誤步驟

P5設定重試讀取數據步驟

P6重試計次步驟

P7根據校正解碼錯誤量設定重試次數步驟

P8檢查重試次數到達固定預設次數步驟

P9確定讀取錯誤步驟

P10結束讀取步驟

R1讀取命令步驟

R2設定及讀取數據標的步驟

R3解碼校正步驟

R4計算錯誤量步驟

R5檢查產生讀取錯誤步驟

R6檢查數據傳輸完成步驟

R7結束讀取步驟

R8重試讀取數據步驟

R9重試計次步驟

R10根據校正解碼錯誤量設定重試次數步驟

R11檢查重試讀取次數達設定重試次數步驟

R12回報主機讀取錯誤步驟

S1開始設定步驟

S2擷取解碼錯誤量步驟

S3檢查解碼錯誤量級數步驟

S4第三重試次數步驟

S5第二重試次數步驟

S6第一重試次數步驟

S7結束設定步驟

T1開始設定步驟

T2擷取讀取數據解碼錯誤量步驟

T3擷取讀取的數據區塊數步驟