[發明專利]測試夾具

無效

• 申請號: 200910135370.5
• 申請日: 2009-04-24
• 公開（公告）號: CN101871956A
• 公開（公告）日: 2010-10-27
• 發明（設計）人: 吳永裕;陳輝煌;蔣維棻
• 申請（專利權）人: 普誠科技股份有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04
• 代理公司: 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇;王璐

技術領域

本發明相關于一種測試夾具，尤指一種高效率和高準確度的測試夾具。

背景技術

隨著科技的發展，電子產品的種類和生產數量也越來越多，電子產品內各零件的量產過程包括電路設計、晶圓生產/測試、元件封裝/測試和產品組裝等不同流程。為了提早過濾出不良品以節省生產成本，以及確保最終電子產品符合各種應用領域的規格要求，元件測試階段相當重要。在現行的測試流程中，會將待測元件(device?under?test，DUT)設置于一測試板(test?board)上，再通過測試機臺來傳送測試信號至待測元件并量測結果。測試板上通常設有許多功能孔，用來安裝芯片和其它電子元件，或是用來做為信號端點。依據待測元件的種類，一般會依據特定電路布局在測試板上制作導線，以電性連接承載待測元件和接收測試信號的各個功能孔。

請參考圖1，圖1為一現有技術中一測試夾具100的俯視圖。測試夾具100包括一測試板10和一承載座16。承載座16設置于測試板10上，包括多個插接孔，插接孔的數量和位置依據一特定待測元件的接腳來設計。測試板10于表面的周圍區域上設有多個公用測試通道15，并通過多條導線18將公用測試通道15電性連接至承載座16的插接孔。因此，只要將待測元件插入承載座16，測試機臺所輸出的測試信號就能通過測試夾具100的公用測試通道15、導線18和承載座16傳送至待測元件。現有技術的測試夾具100依據某特定待測元件量身化設計，并無法測試其它種類的待測元件。然而，電子產品種類繁多，其電路設計、產品規格或工作模式也大不相同。由于測試板造價昂貴，若為每一類型的待測元件皆量身化設計測試夾具100，并不符合量產時降低生產成本的基本考量。

請參考圖2和圖3，圖2為現有技術中另一測試夾具200上表面的示意圖，而圖3為測試夾具200下表面的示意圖。測試夾具200包括一公用測試板20和承載座26。承載座26設置于公用測試板20上，包括多個插槽和接腳，插槽和接腳的數量和位置依據某特定待測元件的接腳來設計。公用測試板20包括4組公用測試通道21～24和多個連接端點25。公用測試通道21～24以對稱電路布局的方式設置于公用測試板20表面的周圍區域上，每一組公用測試通道包括多個公用信號端點，可接收測試機臺傳來的測試信號。連接端點25位于公用測試板200表面的中央區塊。在進行測試前，首先將承載座26的接腳焊接于合適的連接端點25，再利用人工拉線28將承載座26的接腳所在之處的連接端點25電性連接至公用測試通道21～24中合適的公用信號端點(如圖3所示)，最后再將待測元件插入承載座26。因此，在進行測試時，測試機臺所輸出的測試信號就能通過測試夾具200的公用測試通道21～24、人工拉線28和承載座26傳送至待測元件。

現有技術的測試夾具200包括多個連接端點25，可適用于針對不同種類的待測元件來設計的承載座26。然而，每次測試不同產品時都要重新拉線，不但耗時費力，人工焊接品質也會影響到測試時的準確性。另一方面，公用信號端點的分布具對稱性，亦即在測試特定待測元件時，實際上僅需使用公用測試通道21～24中其中一組。然而，由于人工拉線28需較大空間，因此測試夾具200無法容納多個承載座26，可測試的待測元件數量有限，容易受測試電路的復雜度影響。若要進行多個待測物測試，所需要的人工拉線方式相當復雜，整個制作過程非常耗時，且制作完成后也需要耗時費力地進行除錯(debug)。現有技術的測試夾具200需要較高的焊接技術及耗費較多的人力，測試效率不佳。

發明內容

本發明提供一種高效率和高準確度的測試夾具，其包括一公用測試板(test?board)、一第一測試板和一第一承載座。該公用測試板包括多組公用測試通道，每一組公用測試通道包括多個公用信號端點，用來接收測試信號；該第一測試板，用來測試一第一待測元件。該第一測試板包括多個第一信號端點，其依據該第一待測元件的接腳布局設置于該第一測試板上，分別用來傳送測試信號至該第一待測元件中相對應的接腳；多個第二信號端點，對應于該多組公用測試通道中一第一組公用測試通道，且依據該第一組公用測試通道內公用信號端點的布局設置于該第一測試板上，分別用來接收該第一組公用測試通道傳來的測試信號；多條第一導線，分別用來電性連接相對應的第一信號端點和第二信號端點。該第一承載座包括多個插槽，用來承載該第一待測元件的接腳；以及多個接腳，分別連接至該第一測試板中相對應的第一信號端點。

本發明所述的測試夾具，該多組公用測試通道以對稱式布局方式設置于該公用測試板上。