[發明專利]接觸傳感設備、移動信息終端以及電容校準程序和方法

有效

• 申請號: 200910134592.5
• 申請日: 2009-04-23
• 公開（公告）號: CN101566901A
• 公開（公告）日: 2009-10-28
• 發明（設計）人: 梅田哲士
• 申請（專利權）人: 索尼愛立信移動通信日本株式會社
• 主分類號: G06F3/044
• 分類號: G06F3/044;H04M1/23;H04M1/247
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所
• 代理人: 李 穎

1.一種接觸傳感設備，包括：

電容接觸傳感單元，包括多個接觸傳感區域，被配置為檢測至少與外部對象的接觸；

校準值設置單元，被配置為基于除所述電容接觸傳感單元檢測到與所述外部對象接觸的接觸傳感區域以外的所述接觸傳感區域的電容值來設置用于校準所述接觸傳感區域的電容的校準值；

校準確定單元，被配置為基于除所述電容接觸傳感單元檢測到與所述外部對象接觸的接觸傳感區域以外的所述接觸傳感區域的電容值來確定是否執行所述接觸傳感區域的電容的校準；和

電容校準單元，被配置為當所述校準確定單元確定將要執行校準時，使用由所述校準值設置單元設置的所述校準值來校準所有所述接觸傳感區域的電容，其中

在除了被檢測到與所述外部對象接觸的接觸傳感區域以外的所述接觸傳感區域的電容測量值中，所述校準值設置單元設置與電容的預定閾值具有最大差值的測量值作為校準值，

所述校準確定單元設置所述電容測量值與所述預定閾值的最小差值作為校準閾值，并且當通過將所述校準閾值與所述校準值進行比較而得到所述校準值超過所述校準閾值時，確定執行校準。

2.根據權利要求1的接觸傳感設備，其中

所述電容接觸傳感單元將每個所述接觸傳感區域的電容測量值與所述預定閾值進行比較并且把電容測量值超過所述預定閾值的接觸傳感區域設置為至少接觸所述外部對象的接觸傳感區域，以及

所述電容校準單元通過從所有所述接觸傳感區域的電容的每一個中減去所述校準值來執行所述校準。

3.根據權利要求1或2的接觸傳感設備，其中，

所述電容接觸傳感單元檢測在被檢測到與所述外部對象接觸的所述接觸傳感區域中，接觸傳感狀態是否持續預定的時間量，并且

當所述電容接觸傳感單元檢測到所述接觸傳感狀態持續了預定時間量時，所述校準值設置單元設置所述校準值，并且所述校準確定單元確定是否執行校準。

4.根據權利要求1或2的接觸傳感設備，其中，

在每個預定的測量時序，所述校準值設置單元設置所述校準值，并且所述校準確定單元確定是否進行校準。

5.一種移動信息終端，包括：

電容接觸傳感單元，包括多個接觸傳感區域，被配置為檢測至少與外部對象的接觸；

終端外殼，在外表面上布置有電容接觸傳感單元的多個接觸傳感區域；

信號處理單元，被配置為執行與被所述電容接觸傳感單元檢測到與所述外部對象接觸的所述電容接觸傳感區域相應的信號處理；

校準值設置單元，被配置為設置校準值，所述校準值用于基于除了被所述電容接觸傳感單元檢測到與所述外部對象接觸的所述接觸傳感區域以外的所述接觸傳感區域的電容來校準所述接觸傳感區域的電容值；

校準確定單元，被配置為基于除了被所述電容接觸傳感單元檢測到與所述外部對象接觸的所述接觸傳感區域以外的所述接觸傳感區域的電容值來確定是否執行所述接觸傳感區域的電容的校準；和

電容校準單元，被配置為當所述校準確定單元確定執行校準時，利用由所述校準值設置單元設置的校準值來校準所有所述接觸傳感區域的電容，其中

在除了被檢測到與所述外部對象接觸的接觸傳感區域以外的所述接觸傳感區域的電容測量值中，所述校準值設置單元設置與電容的預定閾值具有最大差值的測量值作為校準值，

所述校準確定單元設置所述電容測量值與所述預定閾值的最小差值作為校準閾值，并且當通過將所述校準閾值與所述校準值進行比較而得到所述校準值超過所述校準閾值時，確定執行校準。

6.根據權利要求5的移動信息終端，其中，

所述電容接觸傳感單元將每個所述接觸傳感區域的電容測量值與所述預定閾值進行比較并且把電容測量值超過所述預定閾值的接觸傳感區域設置為至少接觸所述外部對象的接觸傳感區域，以及

所述電容校準單元通過從所有所述接觸傳感區域的電容的每一個中減去所述校準值來執行所述校準。

7.根據權利要求5或6的移動信息終端，其中，

所述電容接觸傳感單元檢測在被檢測到與所述外部對象接觸的所述接觸傳感區域中，接觸傳感狀態是否持續預定的時間量，并且

當所述電容接觸傳感單元檢測到所述接觸傳感狀態持續了預定時間量時，所述校準值設置單元設置所述校準值，并且所述校準確定單元確定是否執行校準。