[發(fā)明專利]半導(dǎo)體封裝構(gòu)造、半導(dǎo)體封裝構(gòu)造用載板及其制造方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200910134552.0 | 申請日: | 2009-04-13 |
| 公開(公告)號: | CN101859733A | 公開(公告)日: | 2010-10-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 施孟鎧;黃東鴻;李長祺 | 申請(專利權(quán))人: | 日月光半導(dǎo)體制造股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L23/12 | 分類號: | H01L23/12;H01L23/498;H01L23/488;H01L21/48;H01L21/60;H01L23/485 |
| 代理公司: | 上海翼勝專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 31218 | 代理人: | 翟羽 |
| 地址: | 中國臺灣高雄*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 封裝 構(gòu)造 用載板 及其 制造 方法 | ||
1.一種半導(dǎo)體封裝構(gòu)造用載板,其特征在于:在一載板上設(shè)置:
一電路層,形成在所述載板的一表面上;
一絕緣層,覆蓋在所述電路層上,且所述絕緣層形成數(shù)個開口,以裸露一部分的所述電路層;
數(shù)個焊墊,形成在所述開口內(nèi)的電路層上,且各所述焊墊凹設(shè)有一凹槽;及
數(shù)個焊料,分別形成在各所述焊墊的凹槽內(nèi),并布滿各所述焊墊的上表面。
2.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體封裝構(gòu)造用載板,其特征在于:所述載板選自一電路基板,及所述焊料做為一預(yù)焊料。
3.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體封裝構(gòu)造用載板,其特征在于:所述焊墊的凹槽底部向下延伸至所述電路層的一凹陷部內(nèi)。
4.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體封裝構(gòu)造用載板,其特征在于:所述焊墊的凹槽底部向下貫穿通過所述電路層。
5.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體封裝構(gòu)造用載板,其特征在于:所述載板的焊墊的相鄰間距小于160微米;以及所述載板的焊墊的上表面外徑小于80微米。
6.一種半導(dǎo)體封裝構(gòu)造用載板的制造方法,其特征在于:所述制造方法包含步驟:
提供一載板,其在一表面設(shè)有一電路層及一絕緣層,所述絕緣層覆蓋所述電路層并形成數(shù)個開口,以裸露一部分的所述電路層;
去除所述開口內(nèi)的電路層的至少一部分厚度;
形成一焊墊于各所述開口內(nèi)的電路層上,所述焊墊具有一凹槽;以及
在各所述焊墊的凹槽內(nèi)形成一焊料,并使所述焊料布滿各所述焊墊的上表面。
7.一種半導(dǎo)體封裝構(gòu)造,其特征在于:所述半導(dǎo)體封裝構(gòu)造包含:
一電路基板,其具有:
一第一電路層,形成在所述電路基板的一表面上;
一第一絕緣層,覆蓋在所述第一電路層上,且所述第一絕緣層形成數(shù)個第一開口,以裸露一部分的所述第一電路層,及;
數(shù)個第一焊墊,形成在所述第一開口內(nèi)的第一電路層上;
一芯片,其具有:
一第二電路層,形成在所述芯片的一有源表面上;
一第二絕緣層,覆蓋在所述第二電路層上,且所述第二絕緣層形成數(shù)個第二開口,以裸露一部分的所述第二電路層;及
數(shù)個第二焊墊,形成在所述第二開口內(nèi)的第二電路層上;以及
數(shù)個凸塊,連接于所述電路基板的第一焊墊及所述芯片的第二焊墊之間;其中所述第一焊墊及所述二焊墊的至少其中一方凹設(shè)有一凹槽,且所述凸塊的焊料填入所述凹槽內(nèi)。
8.如權(quán)利要求7所述的半導(dǎo)體封裝構(gòu)造,其特征在于:所述第一焊墊設(shè)有所述凹槽,所述凹槽底部向下延伸至所述第一電路層的一凹陷部內(nèi)。
9.如權(quán)利要求7所述的半導(dǎo)體封裝構(gòu)造,其特征在于:所述第一焊墊設(shè)有所述凹槽,所述凹槽底部向下貫穿通過所述第一電路層。
10.如權(quán)利要求7所述的半導(dǎo)體封裝構(gòu)造,其特征在于:所述第一焊墊設(shè)有所述凹槽,所述第一焊墊的相鄰間距小于160微米;以及,所述第一載板的焊墊的上表面外徑小于80微米。
11.如權(quán)利要求7所述的半導(dǎo)體封裝構(gòu)造,其特征在于:所述第二焊墊設(shè)有所述凹槽,所述凹槽底部向下貫穿通過所述第二電路層。
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