[發明專利]掃描控制方法、掃描控制電路及裝置

無效

• 申請號: 200910132610.6
• 申請日: 2009-03-27
• 公開（公告）號: CN101545951A
• 公開（公告）日: 2009-09-30
• 發明（設計）人: 巖見義和;木下貴行;小佐野秀和
• 申請（專利權）人: 富士通株式會社
• 主分類號: G01R31/3185
• 分類號: G01R31/3185
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司
• 代理人: 陳 煒;李春暉

1.一種針對與第一總線相連接且具有測試訪問端口控制器的電路器 件的掃描控制方法，該方法包括以下步驟：

經由與所述第一總線不同的第二總線來設定指示所述電路器件中的 要被掃描的寄存器、掃描移位的數量及掃描開始的信息；以及

生成用于選擇經由所述第一總線傳送的信號或經由所述第二總線傳 送的信號的選擇信號，以及基于所設定的信息來生成對在測試所述電路器 件的過程中經由所述第一總線而傳送來的測試模式信號及測試復位信號 進行替代的信號，并根據所述選擇信號將替代的信號提供給所述測試訪問 端口控制器。

2.根據權利要求1所述的掃描控制方法，包括：

經由所述第二總線在數據寄存器中設定掃描輸入數據，并且

其中，將在所述數據寄存器中所設定的所述掃描輸入數據移位達在寄 存器單元中所設定的移位的數量。

3.根據權利要求2所述的掃描控制方法，包括：

切斷向所述測試訪問端口控制器的掃描輸出數據的輸出以及向所述 測試訪問端口控制器的所述掃描輸入數據的輸入，使得進行與所述數據寄 存器的連接，并且所述電路器件中的掃描寄存器單元與所述數據寄存器形 成一個掃描鏈，由此實現掃描輸入及掃描輸出操作。

4.一種針對與第一總線相連接且具有測試訪問端口控制器的電路器 件的掃描控制電路，該掃描控制電路包括：

寄存器單元，在該寄存器單元中經由與所述第一總線不同的第二總線 來設定指示所述電路器件中的要被掃描的寄存器、掃描移位的數量及掃描 開始的信息；以及

定序器，該定序器生成用于選擇經由所述第一總線傳送的信號或經由 所述第二總線傳送的信號的選擇信號，以及基于在所述寄存器單元中所設 定的信息來生成對在測試所述電路器件的過程中經由所述第一總線而傳 送來的測試模式信號及測試復位信號進行替代的信號，并根據所述選擇信 號將替代的信號提供給所述測試訪問端口控制器。

5.根據權利要求4所述的掃描控制電路，包括：

數據寄存器，在該數據寄存器中能夠經由所述第二總線來設定掃描輸 入數據，并且

其中，在所述數據寄存器中所設定的所述掃描輸入數據被移位達在所 述寄存器單元內所設定的移位的數量。

6.根據權利要求5所述的掃描控制電路，

其中，所述電路器件中的掃描鏈重建單元切斷向所述測試訪問端口控 制器的掃描輸出數據的輸出以及向所述測試訪問端口控制器的所述掃描 輸入數據的輸入，使得進行與所述數據寄存器的連接，并且所述電路器件 中的掃描寄存器單元與所述數據寄存器形成一個掃描鏈，由此實現掃描輸 入及掃描輸出操作。

7.根據權利要求4所述的掃描控制電路，包括：

控制器，該控制器與所述第二總線相連接，并經由所述第二總線來控 制對所述寄存器單元中的信息的設定。

8.根據權利要求7所述的掃描控制電路，

其中，所述寄存器單元、所述定序器及所述控制器布置在所述電路器 件的外部，并且所述掃描控制電路與所述電路器件經由所述第一總線而連 接。

9.根據權利要求7所述的掃描控制電路，

其中，所述寄存器單元、所述定序器及所述控制器布置在所述電路器 件中，并且所述電路器件與所述第一總線及所述第二總線相連接。