[發明專利]打點式測斜儀

無效

• 申請號: 200910130195.0
• 申請日: 2009-03-25
• 公開（公告）號: CN101514626A
• 公開（公告）日: 2009-08-26
• 發明（設計）人: 吳慧蕾;錢自衛
• 申請（專利權）人: 錢自衛
• 主分類號: E21B47/02
• 分類號: E21B47/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

所屬技術領域：

本發明涉及一種非磁性礦體鉆孔頂角和方位角的測量儀器，打點式測斜儀。屬于鉆探設備的范疇。

技術背景：

在鉆孔過程中，由于種種原因鉆孔會發生偏斜，這樣會大大影響鉆孔的質量。所以在鉆探過程中要及時對鉆孔的頂角、方位角進行測量，當發生超限偏差時進行糾正。目前用的非磁性礦體鉆孔測斜儀有兩種：氫氟酸測斜儀，這種儀器只能測頂角，且操作麻煩，誤差比較大。另一種采用磁針定向測方位角，重錘原理測頂角。這種儀器結構比較復雜，生產制作成本比較高。

發明內容：

本發明的目的就是克服現有技術的缺陷，而提供一種非磁性礦體鉆孔測斜儀，可同時測頂角和方位角，結構簡單、易于加工制造、操作方便、原理簡單、準確率高。

本發明所采用的技術方案是：本發明有內半球殼、外上半球殼、外下半球殼、裝置體、打點針、彈簧、接頭、小鋼珠、大鋼珠和彈簧帽十部分組成。外上半球殼焊接在裝置體上；外上半球殼與外下半球殼擰和在一起組成外球殼；內球殼置于外球殼之中；打點針、彈簧、彈簧帽和大鋼珠共同組成打點裝置；此打點裝置裝配在裝置體上，打點針從外上半球殼頂的小孔伸入球殼內。外球殼內壁光滑，內半球殼置于外球殼中，且內半球殼外壁鑲有小鋼珠，以使內半球殼在外球殼中不受阻力的運動運動。內半球殼在制作上有通過內球殼底的弧形狀磁鐵和非磁非鐵的物質制成。無論該打點式測斜儀處于什么狀態，由于重力作用，則內半球殼斷口面永遠處于水平位置；由于弧形狀磁鐵的作用，則內半球殼所處的相對N、S方向是不變的?？傊畠劝肭驓に幍臓顟B不受外球殼的影響，只受地磁場和重力場的影響。在內半球殼內表面有刻度標識，與地球經緯度類似。在內半球殼內表面緯線上的刻度標識(0-90°)主要用于頂角，內半球殼內表面經線上的刻度標識(0-360°)主要用于方位角。內半球殼內表面刻度上附貼有一定厚度大的透明狀薄膜，該薄膜每進行一次測量后都要換新。本打點式測斜儀，只有內半球殼含有鐵磁材料，其余全都不不能使用鐵磁材料，以防止對內半球殼的影響。

當要進行鉆孔測量時，把外下半球殼擰卸下，在內半球殼內表面更換新的預制規格的透明薄膜，然后把內半球殼放在外下半球殼之中，再把下半球殼擰在上半球殼上，即完成了打點式測斜儀的組裝。把打點式測斜儀直接接在鉆桿上，然后把鉆桿導入預測的深度，稍靜止1-2分鐘，待內半球殼穩定，然后從鉆孔口順鉆桿放入大鋼球。這樣大鋼球會擊打彈簧帽，打點針就會在內半球殼內表面的透明狀薄膜上打點。彈簧帽上有一層塑性材料的涂層，可防止大鋼球反彈二次打點。然后通過鉆桿震動打點式測斜儀，再稍靜止1-2分鐘，待內半球殼穩定，然后再從鉆孔口順鉆桿放入鋼球。重復上操作3-5次。然后提出打點式測斜儀，擰開外下半球殼，根據打點記錄的位置對應的刻度，緯線刻度為頂角，經線刻度為方位角，即可讀出每次鉆孔預測深度的頂角和方位角，然后求其各次測量的頂角和方位角的平均值，即為鉆孔在待測深度的頂角和方位角。

本發明的有益效果是，可以方便的測非磁性礦體鉆孔的頂角和方位角，且原理簡單，操作加工方便。

附圖說明：

下面結合附圖和實施例對本實用新型進一步說明。

附圖1：打點式測斜儀的主視圖

附圖2：內半球殼俯視圖

在圖1中：1.內半球殼，2.外上半球殼，3.內下半球殼，4.裝置體，5.打點針，6.彈簧，7.接頭，8.小鋼珠，9.大鋼珠，10.彈簧帽

具體實施方式：

在圖1中：外上半球殼(2)焊接在裝置體(4)上；外上半球殼(2)與外下半球殼(3)擰和在一起組成外球殼；內球殼(1)置于外球殼之中；打點針(5)、彈簧(6)、彈簧帽(10)和大鋼珠(9)共同組成打點裝置；此打點裝置裝配在裝置體(4)上，打點針(5)從此外上半球殼(3)頂的小孔伸入球殼內。外球殼內壁光滑，內半球殼(1)置于外球殼中，且內半球殼(1)外壁鑲有小鋼珠(8)，以使內半球殼(1)在外球殼中不受阻力的運動運動。內半球殼(1)在制作上有通過內球殼底的弧形狀磁鐵和非磁非鐵的物質制成。本打點式測斜儀，只有內半球殼含有鐵磁材料，其余全都不不能使用鐵磁材料，以防止對內半球殼的影響，可選用銅質材料。彈簧帽(10)上要加一層塑性材料，以防止大鋼球大鋼珠(9)反彈二次打點。彈簧(4)要有適當的強度，打點針(5)要有足夠大的剛度，接頭(7)的尺寸要與鉆桿的尺寸對應。

在圖2中：在內半球殼(1)內表面有刻度標識，與地球經緯度類似。在內半球殼內表面緯線上的刻度標識(0-90°)主要用于頂角，內半球殼內表面經線上的刻度標識(0-360°)主要用于方位角。內半球殼(1)內表面刻度上附貼有一定厚度的透明狀薄膜，該薄膜每進行一次測量后都要換新。