[發明專利]監控裝置、可更換單元、成像設備和單元驅動方法有效
| 申請號: | 200910128047.5 | 申請日: | 2009-03-19 |
| 公開(公告)號: | CN101639636A | 公開(公告)日: | 2010-02-03 |
| 發明(設計)人: | 李在成;金容根;李允太 | 申請(專利權)人: | 三星電子株式會社 |
| 主分類號: | G03G15/00 | 分類號: | G03G15/00 |
| 代理公司: | 北京銘碩知識產權代理有限公司 | 代理人: | 劉奕晴;郭鴻禧 |
| 地址: | 韓國京畿*** | 國省代碼: | 韓國;KR |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 監控 裝置 更換 單元 成像 設備 驅動 方法 | ||
1.一種參與成像設備的成像作業的可更換單元,包括:
存儲單元,存儲與操作環境相應的驅動條件;
檢測單元,監控所述操作環境;
控制單元,如果檢測單元檢測到操作環境,則控制單元從存儲單元檢測 相應的驅動條件;
接口單元,將檢測到的相應的驅動條件提供給成像設備的主體。
2.如權利要求1所述的可更換單元,其中,操作環境包括可更換單元的 內部溫度和外部溫度中的至少一種,驅動條件包括可更換單元的驅動電壓條 件。
3.如權利要求1所述的可更換單元,其中,存儲單元、檢測單元、控制 單元和接口單元被安裝到設置在可更換單元內的客戶可更換單元監控裝置。
4.如權利要求1所述的可更換單元,其中,檢測單元包括至少一個二極 管或至少一個晶體管,并檢查所述至少一個二極管的一端和另一端之間的電 勢差,或者所述至少一個晶體管的基極-發射極電壓,以檢測溫度信息。
5.如權利要求1所述的可更換單元,其中,檢測單元包括篡改檢測器, 以監控操作環境并阻止試圖對可更換單元進行的物理篡改。
6.如權利要求5所述的可更換單元,其中,控制單元包括用于運行自己 的操作系統的中央處理單元,用于控制存儲單元、篡改檢測器和接口單元的 操作。
7.一種成像設備,包括:
至少一個可更換單元,參與成像設備的成像作業,其中,可更換單元包 括用于存儲與操作環境相應的驅動條件的存儲單元、用于監控所述操作環境 的檢測單元、用于根據檢測單元檢測到操作環境從存儲單元檢測相應的驅動 條件的控制單元、以及用于將檢測到的相應的驅動條件提供給主控制器的接 口單元;
主控制器,與所述至少一個可更換單元通信并控制成像作業;
其中,所述至少一個可更換單元通過檢測單元監控操作環境,并通過接 口單元將與操作環境對應的自己的驅動條件提供給主控制器,
主控制器根據所提供的驅動條件單獨地驅動所述至少一個可更換單元。
8.如權利要求7所述的成像設備,其中,所述操作環境包括可更換單元 的內部溫度和外部溫度中的至少一種,驅動條件包括可更換單元的驅動電壓 條件。
9.如權利要求7所述的成像設備,其中,存儲單元、檢測單元、控制單 元和接口單元被安裝到設置在可更換單元內的客戶可更換單元監控裝置上。
10.如權利要求7所述的成像設備,其中,檢測單元包括至少一個二極 管或至少一個晶體管,并檢查所述至少一個二極管的一端和另一端之間的電 勢差,或者所述至少一個晶體管的基極-發射極電壓,以檢測溫度信息。
11.如權利要求7所述的成像設備,其中,檢測單元包括篡改檢測器, 用于監控操作環境并阻止試圖對可更換單元進行的物理篡改。
12.如權利要求11所述的成像設備,其中,控制單元包括用于運行操作 系統的中央處理單元,以控制篡改檢測器和接口單元的操作。
13.一種客戶可更換單元監控裝置,可安裝到可更換單元內以參與成像 設備的成像作業,所述客戶可更換單元監控裝置包括:
存儲單元,存儲為可更換單元設置的驅動條件,所述驅動條件對應于操 作環境;
檢測單元,用于監控所述操作環境;
控制單元,如果檢測單元檢測到操作環境,則控制單元從存儲單元檢測 驅動條件;
接口單元,將檢測到的相應驅動條件提供給成像設備的主體。
14.如權利要求13所述的客戶可更換單元監控裝置,其中,所述操作環 境包括可更換單元的內部溫度和外部溫度中的至少一種,驅動條件包括可更 換單元的驅動電壓條件。
15.如權利要求13所述的客戶可更換單元監控裝置,其中,控制單元包 括用于運行操作系統的中央處理單元,以控制存儲單元、檢測單元和接口單 元的操作。
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