[發(fā)明專利]電容式觸控板的鬼影檢測方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200910126627.0
• 申請日: 2009-03-05
• 公開（公告）號: CN101825976A
• 公開（公告）日: 2010-09-08
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 郭泊灝;蔡欣學(xué);林旻致
• 申請（專利權(quán)）人: 義隆電子股份有限公司
• 主分類號: G06F3/044
• 分類號: G06F3/044
• 代理公司: 北京三友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11127
• 代理人: 任默聞

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明是有關(guān)一種電容式觸控板，特別是關(guān)于一種電容式觸控板的鬼影 檢測方法。

背景技術(shù)

在眾多觸控技術(shù)中，雙軸交錯(cuò)(Axis?Intersect；AI)型陣列投影式電容 (Projected?Capacitance)感測技術(shù)，由于具有透光度(Optical?clarity)高、耐用、 成本低的特性，成為最受歡迎的技術(shù)，但其掃描方式在兩指或兩指以上的多 指觸控時(shí)，會有可能產(chǎn)生鬼影點(diǎn)(Ghost-Point)，因而無法分辨每只手指的正確 位置。

圖1為鬼影現(xiàn)象的示意圖，當(dāng)使用者的兩根手指在電容式觸控板上的位 置為左上右下(A，D)或左下右上(C，B)時(shí)，在跡線Y1、Y2和跡線X1、X2上 都造成電容變化，因此控制電路檢測到的X方向電容值變化波形和Y方向電 容值變化波形都是一樣的，因此控制電路無法判斷出真正的手指接觸位置。

在雙指輸入狀態(tài)下，發(fā)生鬼影現(xiàn)象時(shí)可能的坐標(biāo)有兩組，如圖2所示。 當(dāng)鬼影現(xiàn)象發(fā)生時(shí)，X方向的電容值在跡線x₁和x₂處出現(xiàn)變化，而Y方向的 電容值則在跡線y₁和y₂處增加，排除掉具有相同X或Y坐標(biāo)的排列組合后， 可能的手指坐標(biāo)有(x₁y₁，x₂y₂)和(x₁y₂，x₂y₁)兩組，其中一組為實(shí)際坐標(biāo)，另一組 則為鬼影坐標(biāo)。在更多手指輸入時(shí)，鬼影坐標(biāo)的數(shù)量將迅速增加，例如圖3 所示，在三指輸入時(shí)，可能的手指坐標(biāo)有(x₁y₁，x₂y₂，x₃y₃)、(x₁y₁，x₂y₃，x₃y₂)、 (x₁y₂，x₂y₁，x₃y₃)、(x₁y₂，x₂y₃，x₃y₁)、(x₁y₃，x₂y₂，x₃y₁)、(x₁y₃，x₂y₁，x₃y₂)六組，其 中五組為鬼影坐標(biāo)。

多指應(yīng)用(Multi-touch)必然是未來觸控技術(shù)的發(fā)展趨勢之一，因此，希望 提供一種改善已知AI型陣列投影式電容感測技術(shù)中鬼影點(diǎn)問題的鬼影檢測方 法。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的之一，在于提出一種鬼影位置的檢測方法。

根據(jù)本發(fā)明，一種鬼影位置的檢測方法在所述電容式觸控板上的第一位 置及第二位置中之一出現(xiàn)鬼影現(xiàn)象，且所述第一位置及所述第二位置具有相 同的第一方向坐標(biāo)時(shí)：

(A)以第一信號驅(qū)動所述第一位置的第一方向跡線，并以所述第一信號同 步的第二信號驅(qū)動所述第一位置的第二方向跡線；

(B)取得所述第一位置的第一或第二方向跡線電容值；

(C)以所述第一信號驅(qū)動所述第二位置的第一方向跡線，并以所述第二信 號驅(qū)動所述第二位置的第二方向跡線；

(D)取得所述第二位置的第一或第二方向跡線電容值；以及

(E)根據(jù)所述第一位置的第一或第二方向跡線電容值以及所述第二位置的 第一或第二方向跡線電容值，判斷實(shí)際接觸位置。

變化地，所述第一及第二信號互為同步同相或同步異相信號。

較佳者，對所述電容式觸控板上的跡線做交叉調(diào)校，以使各跡線獲得相 同的基本電容值。

附圖說明

圖1是鬼影現(xiàn)象的示意圖；

圖2是雙指觸控造成的鬼影現(xiàn)象的示意圖；

圖3是三指觸控造成的鬼影現(xiàn)象的示意圖；

圖4及圖5是本發(fā)明一實(shí)施例的示意圖；