[發(fā)明專利]熱電偶校正裝置及其校正方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200910126095.0 | 申請日: | 2009-03-10 |
| 公開(公告)號: | CN101832824A | 公開(公告)日: | 2010-09-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李楓;楊曉波 | 申請(專利權(quán))人: | 北京華邦天控科技發(fā)展有限公司 |
| 主分類號: | G01K7/12 | 分類號: | G01K7/12 |
| 代理公司: | 北京英賽嘉華知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11204 | 代理人: | 余朦;王艷春 |
| 地址: | 100080 北京市海*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 熱電偶 校正 裝置 及其 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本申請涉及熱電偶校正裝置及其校正方法。
背景技術(shù)
熱電偶具有熱電勢較大、靈敏度較高等優(yōu)點(diǎn),廣泛應(yīng)用于例如培燒系統(tǒng)等場合來對各種應(yīng)用場合的溫度實(shí)施實(shí)時(shí)控制。熱電偶的測溫原理可以簡單理解為一對異質(zhì)的導(dǎo)體組成閉合回路,當(dāng)將導(dǎo)體的接點(diǎn)至于不同的溫度場中時(shí),就會產(chǎn)生溫度差電效應(yīng),回路中就會有電流,于是導(dǎo)體組的兩接點(diǎn)產(chǎn)生相應(yīng)的熱動勢,該熱動勢被稱為“塞貝克(Seebeck)電壓”。通過測量“塞貝克電壓”就可以實(shí)現(xiàn)溫度的測量。
然而,由于熱電偶所處環(huán)境的溫度、濕度等原因經(jīng)常導(dǎo)致測量出的溫度值不夠準(zhǔn)確。因此,在現(xiàn)有技術(shù)中,提出了利用熱電偶的溫度偏移量對熱電偶的冷節(jié)點(diǎn)進(jìn)行校正的方法。然而,利用這種方法對熱電偶的溫度進(jìn)行校正后,當(dāng)熱電偶在使用一段時(shí)間后仍會產(chǎn)生一個(gè)負(fù)的溫度誤差。例如,N型熱電偶在焙燒工藝環(huán)節(jié)中,炭素顆粒有可能附著甚至在高溫下滲入熱電偶保護(hù)套中,造成熱電偶保護(hù)套導(dǎo)熱能力下降,進(jìn)而使得檢測溫度值偏低。負(fù)誤差的存在對生產(chǎn)過程有較大的危害,主要體現(xiàn)在負(fù)誤差將會消耗更多燃?xì)饽芰浚瑫r(shí)過量消耗的燃?xì)鈺範(fàn)t膛溫度過高,甚至造成爐膛損壞。
在現(xiàn)有的生產(chǎn)工藝中,當(dāng)發(fā)現(xiàn)熱電偶的誤差值太大而不能實(shí)現(xiàn)正常生產(chǎn)時(shí),只能廢棄舊的熱電偶,采用新熱電偶,造成了不必要的浪費(fèi)。
發(fā)明內(nèi)容
根據(jù)本申請的一個(gè)方面,公開了一種熱電偶校正裝置。所述的熱電偶校正裝置可包括:
數(shù)據(jù)預(yù)處理單元,從所述一個(gè)或多個(gè)熱電偶分別采集電壓值,并將其轉(zhuǎn)換為原始溫度值;
比較單元,將所述原始溫度值與一預(yù)定的溫度誤差模型進(jìn)行比較,以確定所述原始溫度值的誤差補(bǔ)償系數(shù);
補(bǔ)償單元,將所述溫度補(bǔ)償系數(shù)與所述原始溫度值相關(guān)聯(lián),得到補(bǔ)償溫度值;以及
控制單元,根據(jù)補(bǔ)償溫度值調(diào)整所述一個(gè)或多個(gè)熱電偶所應(yīng)用場合的溫度。
根據(jù)本申請的一個(gè)方面,公開了一種熱電偶校正方法,可包括:
從一個(gè)或多個(gè)熱電偶分別采集電壓值,并將其轉(zhuǎn)換為相應(yīng)的原始溫度值;
將所述原始溫度值與一預(yù)定的溫度誤差模型進(jìn)行比較以確定出所述原始溫度值的誤差補(bǔ)償系數(shù);
將所確定的溫度補(bǔ)償系數(shù)關(guān)聯(lián)到所述原始溫度值得到補(bǔ)償溫度值;以及
根據(jù)補(bǔ)償溫度值調(diào)整所述一個(gè)或多個(gè)熱電偶所應(yīng)用場合的溫度。
根據(jù)本申請公開的熱電偶校正裝置和方法可以延長熱電偶的使用時(shí)間,并能夠合理調(diào)整熱電偶所應(yīng)用場合的溫度,從而有效節(jié)省能源。
附圖說明
圖1示例性地示出了本申請公開的一個(gè)實(shí)施方式的熱電偶校正裝置的方框圖;
圖2示例性地示出了圖1中數(shù)據(jù)預(yù)處理單元的方框圖;
圖3示例性地示出了N型熱電偶的溫度誤差模型;
圖4示例性地示出了本申請公開的另一個(gè)實(shí)施方式的熱電偶校正裝置的方框圖;
圖5示例性地示出了本申請公開的熱電偶校正方法的流程圖;以及
圖6示例性地示出了圖4中的步驟S201的子步驟的流程圖。
具體實(shí)施方式
以下參照附圖,描述本申請一個(gè)實(shí)施方式的熱電偶校正裝置100,該裝置可應(yīng)用在例如鋁用炭素培燒系統(tǒng)或類似場合。
如圖1所示,所述熱電偶校正裝置100包括數(shù)據(jù)預(yù)處理單元10,數(shù)據(jù)預(yù)處理單元10設(shè)置成從一個(gè)或多個(gè)熱電偶采集的電壓值,例如塞貝克(Seebeck)模擬電壓,并將其轉(zhuǎn)換為溫度值,該溫度表征了熱電偶的原始溫度。
參見圖2,它示例性的說明了所述數(shù)據(jù)預(yù)處理單元10的結(jié)構(gòu),可包括數(shù)據(jù)采集單元101、A/D轉(zhuǎn)換單元102、電壓-溫度轉(zhuǎn)換單元103,其中,所述的數(shù)據(jù)采集單元101可以從位于培燒現(xiàn)場(例如,培燒爐)的一個(gè)或多個(gè)熱電偶采集塞貝克電壓。數(shù)據(jù)采集單元101可例如采用常規(guī)的溫度傳感器來實(shí)現(xiàn)。
所述A/D轉(zhuǎn)換單元102被配置為將數(shù)據(jù)采集單元101從一個(gè)或多個(gè)熱電偶采集的塞貝克電壓轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號。
電壓-溫度轉(zhuǎn)換單元103被配置為根據(jù)預(yù)定的電壓-溫度表將A/D轉(zhuǎn)換單元102轉(zhuǎn)換的表示電壓的數(shù)字信號轉(zhuǎn)為溫度值。電壓-溫度表通常由熱電偶的生產(chǎn)廠商來確定,可存儲在下面將描述的存儲單元30中。
再參見圖1,得到了原始溫度值后,比較單元20接受所述的原始溫度值并將該原始溫度值與一預(yù)定的溫度誤差模型進(jìn)行比較,根據(jù)比較結(jié)果確定誤差補(bǔ)償系數(shù)。
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