[發明專利]激光測繪系統

無效

• 申請號: 200910118938.2
• 申請日: 2009-03-09
• 公開（公告）號: CN101493325A
• 公開（公告）日: 2009-07-29
• 發明（設計）人: 吳冠豪;曾理江
• 申請（專利權）人: 清華大學
• 主分類號: G01C11/00
• 分類號: G01C11/00;G01C5/00
• 代理公司: 北京鴻元知識產權代理有限公司
• 代理人: 陳英俊

1.一種激光測繪系統，通過高空拍攝制作被測目標的三維圖像，其包括：

脈沖激光器，發射脈沖激光束，并且該脈沖激光束的角度可調節；

第一分光鏡，設置于光路中的所述脈沖激光器與所述被測目標之間，將來自所述脈沖激光器的脈沖激光束的一部分射向所述被測目標，并且在底面設有反射膜，使來自所述脈沖激光器的脈沖激光束的一部分被反射后，經分光面射向該第一分光鏡的與被測目標相反的一側；

激光測高裝置，包含有能夠接收所述脈沖激光束照射所述被測目標后產生的散射光的雪崩光電二極管陣列單元，根據所述散射光，取得所述雪崩光電二極管陣列單元與所述被測目標間的距離，即高程信息，以及激光足印的位置信息；

線陣式電荷耦合器件，隨著所述激光測繪系統的移動，拍攝所述待測目標的推掃圖像；

面陣式電荷耦合器件，拍攝所述線陣式電荷耦合器件和所述雪崩光電二極管陣列單元，得到它們的圖像；

第二分光鏡，設置于所述第一分光鏡的與所述被測目標相反的一側，使來自所述被測目標的光入射到所述線陣式電荷耦合器件，還使來自所述雪崩光電二極管陣列單元的光入射到所述面陣式電荷耦合器件；

數據處理及控制裝置，接收來自所述激光測高裝置的高程信息、來自所述線陣式電荷耦合器件的所述被測目標的推掃圖像數據、來自所述面陣式電荷耦合器件的拍攝所述線陣式電荷耦合器件和所述雪崩光電二極管陣列單元的圖像，根據所述線陣式電荷耦合器件和所述雪崩光電二極管陣列單元的圖像，取得二者的相對位置，進一步根據所述相對位置和所述激光足印的位置信息，確定所述激光足印在所述被測目標的推掃圖像中的位置，從而制作該被測目標的三維圖像。

2.根據權利要求1所述的激光測繪系統，其特征在于，

所述數據處理及控制裝置對所述脈沖激光器的脈沖激光束射出角度實施反饋控制，使從所述脈沖激光器射出的脈沖激光束經過所述第一分光鏡的反射后始終入射到所述雪崩光電二極管陣列單元的中心；

而且，所述數據處理及控制裝置控制所述線陣式電荷耦合器件與所述雪崩光電二極管陣列單元的位置，使二者相對于該第二分光鏡的分光面鏡面對稱，形成共軛關系。

3.根據權利要求2所述的激光測繪系統，其特征在于：

所述數據處理及控制裝置利用所述脈沖激光束的角度漂移對所述脈沖激光器實施反饋控制。