[發明專利]一種開放式低溫高分辨激光光譜測試系統

無效

• 申請號: 200910113059.0
• 申請日: 2009-12-24
• 公開（公告）號: CN102109380A
• 公開（公告）日: 2011-06-29
• 發明（設計）人: 陳學元;朱浩淼;馬恩;李仁富
• 申請（專利權）人: 中國科學院福建物質結構研究所
• 主分類號: G01J3/443
• 分類號: G01J3/443;G01N21/64
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種多功能開放式激光光譜測試系統，包括泵浦光源模塊、低溫光學恒溫器模塊、高分辨單色儀模塊、熒光壽命測試模塊、微弱信號探測模塊。

2.按權利要求1所述的激光光譜測試系統，其特征在于采用開放式和模塊化的設計思路，各個模塊間通過反射鏡和透鏡等光學元件進行柔性的耦合，模塊間可相互移動和重新組合。

3.按權利要求1所述的激光光譜測試系統，其特征是：泵浦光源模塊由氙燈、皮秒鈦寶石激光器、納秒OPO激光器、納秒染料激光器等多種激發光源組成。

4.按權利要求1所述的激光光譜測試系統，其特征是：待測樣品放置在低溫光學恒溫器中，可在3-300K調節樣品的溫度，光學恒溫器有多個光學窗口。

5.按權利要求1所述的激光光譜測試系統，其特征是：采用高分辨單色儀作為分光計，最高分辨率可達0.006nm。

6.按權利要求1所述的激光光譜測試系統，其特征是：采用多通道快響應光電倍增管結合時間相關單光子計數技術測量皮秒短壽命。

7.按權利要求1所述的激光光譜測試系統，其特征是：采用光電倍增管結合多通道時間定標卡測量微毫秒熒光壽命。