[發明專利]毛細管電色譜的離柱垂直式化學發光檢測裝置

有效

• 申請號: 200910111947.9
• 申請日: 2009-06-10
• 公開（公告）號: CN101581709A
• 公開（公告）日: 2009-11-18
• 發明（設計）人: 林旭聰;謝增鴻;燕瑾
• 申請（專利權）人: 福州大學
• 主分類號: G01N30/74
• 分類號: G01N30/74;G01N21/01;G01N21/76
• 代理公司: 福州元創專利商標代理有限公司
• 代理人: 蔡學俊

技術領域

本發明涉及用于毛細管電色譜的離柱垂直式化學發光檢測裝置的設計。

背景技術

毛細管電色譜(CEC)-化學發光(CL)聯用技術兼備了CEC高選擇性和CL高靈敏度 的特點，是目前微量分析中高效、快速的分離分析方法。(Lin，Z.，Xie，Z.，Lü，H.，Lin，X.，Wu， X.，Chen，G.，Anal.Chem.，2006，78，5322-5328.)CEC-CL聯用技術關鍵在于二者相連接的檢測 接口，接口性能直接影響著毛細管柱的分離效率以及檢測的靈敏度。

現有CEC-CL接口主要有：在柱同軸流式和離柱同軸流式檢測接口(Lin，Z.，Xie，Z.，Lü，H.， Lin，X.，Wu，X.，Chen，G.，Anal.Chem.，2006，78，5322-5328；Lin，Z.，Lin，J.，Wu，X.，Lin， X.，Xie，Z.，Electrophoresis，2008，29，401-409)。其中在柱同軸流式，檢測器位于高壓電源 間，柱后反應試劑如H₂O₂在堿性介質中易分解產生氣泡而造成電流不穩定，而且在電場驅動 下，堿性試劑會逆向遷移進入毛細管柱，與柱內硅膠基修飾填料反應，導致柱子損壞。在離 柱同軸流式中，接地電極從反應毛細管柱的末端移至毛細管柱前部，避免了柱后試劑在電場 下分解產生氣泡，但是試劑仍然在電場的作用下，可能遷移進入分離毛細管前端，導致柱子 填料塌陷。值得引起重視的是，同軸流式接口普遍采用套管式，存在較大不足：當分析物從 分離柱流出進入內徑較大的反應管，與發光試劑混合時，容易引起渦流擴散，導致峰展寬而 降低柱效和檢測靈敏度；同時，采用同軸流式接口，毛細管電色譜柱長期浸泡在強堿性發光 體系中，毛細管電色譜柱無法承受強堿性(一般耐受pH＜10)，長期浸泡會造成色譜柱易碎 斷裂，以及在電場作用下堿液可能遷移進入分離毛細管柱，腐蝕柱內填料而使其塌陷泄漏， 導致色譜柱柱效、重現性降低和使用壽命減短，而且填料的泄漏會使之后的反應毛細管及廢 液管堵塞，影響化學發光檢測分析。

目前，尚未提出一種結構明確的，可減少了毛細管電色譜同軸流式接口溶液混合時渦流 擴散的影響，或避免毛細管電色譜分離柱長期浸泡堿液，避免發光試劑受電場作用遷移進入 毛細管電色譜柱的化學發光檢測裝置的設計。

發明內容

本發明的目的是針對上述問題，設計一種新型的毛細管電色譜離柱垂直式化學發光檢測 裝置。

本發明的毛細管電色譜離柱垂直式化學發光檢測裝置，包括檢測池體、光譜檢測窗口、 光電倍增管等。所述檢測裝置的化學發光試劑通道與毛細管電色譜柱處于形垂直位置， 毛細管色譜柱裸露在強堿性發光試劑的易受腐蝕部分極小，色譜柱分離出的待測成分離柱后 與化學發光試劑能夠快速反應并產生光電響應信號。所述檢測裝置的光譜檢測窗口與分離毛 細管柱垂直，直接放置于采集待測物光信號的光電倍增管(PMT)前，化學發光反應產生的 信號能被PMT及時收集，減小光信號的損失；所述光電倍增管連接計算機控制的微弱光檢測 器；所述檢測池、發光試劑通道和光電倍增管均設置于暗箱中。

本發明的優點是：

1、本發明首先采用離柱檢測，保證了發光試劑受電場作用較弱，減小試劑遷移進入毛細管柱 的可能性；采用分離柱與柱后毛細管垂直的設計，避免了分離柱長期浸泡堿液而產生的麻 煩，同時采用檢測窗口與分離毛細管柱垂直的設計，也減少了同軸流式接口溶液混合時渦 流擴散的影響，對比離柱同軸流式接口，新型的離柱垂直式合并流接口可顯著提高檢測池 靈敏度、減少區帶展寬、延長分離柱使用壽命和增強系統穩定性。

2、本發明以經典的發光物質Luminol和ABEI為檢測對象，測得Luminol和ABEI的檢測限 分別為2.0×10^-9mol/L和5.0×10^-9mol/L(S/N＝3)，其優于文獻報道的毛細管電色譜離柱化 學發光檢測的水平。此外，利用該發明成功實現對衍生化苯氧基羧酸類除草劑的分離和檢 測，檢測限分別為2×10^-9mol/L、2×10^-9mol/L、3×10^-9mol/L和2×10^-8mol/L，檢測靈敏度 較高。