[發(fā)明專利]一種六氟化硫濃度的雙光路激光測量裝置及測量方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200910111670.X | 申請日： | 2009-05-06 |
| 公開（公告）號： | CN101609043A | 公開（公告）日： | 2009-12-23 |
| 發(fā)明（設計）人： | 蘇偉達;蔡聲鎮(zhèn);吳允平;盧宇;吳進營;李汪彪;關健;陳錦凱;吳燕;林霞 | 申請（專利權）人： | 福建師范大學 |
| 主分類號： | G01N21/39 | 分類號： | G01N21/39;G02B7/182;G02B7/00 |
| 代理公司： | 福州元創(chuàng)專利商標代理有限公司 | 代理人： | 蔡學俊 |
| 地址： | 350007福建省福州市*** | 國省代碼： | 福建;35 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 六氟化硫 濃度 雙光路 激光 測量 裝置 測量方法 | ||
【權利要求書】：
1、一種六氟化硫濃度的雙光路激光測量裝置及測量方法，其特征是：
裝置由CO2激光器、原始功率測量光強探測器、空氣輸送泵、SF6氣體濃度測量光強探測器、氣體分析室、光學全反射鏡片器B、光學半波鏡片器、光學全反射鏡片器A構成，CO2激光器發(fā)出的激光光束通過光學全反射鏡片器B、光學半波鏡片器、光學全反射鏡片器A將器件相連；
測量時，CO2激光器發(fā)出的激光光束，經(jīng)過光學全反射鏡片器B全反射后，進入光學半波鏡片器，半波鏡片器將激光器射出的光束分為兩束，一束到達原始功率測量光強探測器，作為激光器發(fā)射的原始功率測量，另一束到達SF6氣體濃度測量光強探測器，作為SF6氣體濃度測量。
2、按照權利要求1所述的六氟化硫濃度的雙光路激光測量裝置及測量方法，其特征是所述的光學全反射鏡片器B內有光學全反射鏡片B，與CO2激光器發(fā)出的入射激光光束呈45°設置。
3、按照權利要求1所述的六氟化硫濃度的雙光路激光測量裝置及測量方法，其特征是所述的光學全反射鏡片器A內有光學全反射鏡片A，與入射激光光束呈45°設置。
4、按照權利要求1所述的六氟化硫濃度的雙光路激光測量裝置及測量方法，其特征是所述的光學半波鏡片器內有半波鏡片，與入射激光光束呈45°設置。
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