[發(fā)明專利]顯示器光學(xué)檢測裝置及其檢測方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200910111648.5
• 申請日: 2009-05-05
• 公開（公告）號: CN101620025A
• 公開（公告）日: 2010-01-06
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 楊俊宏;賴敏達(dá)
• 申請（專利權(quán)）人: 華映光電股份有限公司;中華映管股份有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G01J3/50;G02F1/13
• 代理公司: 福州元創(chuàng)專利商標(biāo)代理有限公司
• 代理人: 蔡學(xué)俊

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種用以量測顯示器各項(xiàng)光學(xué)參數(shù)的光學(xué)檢測裝置及其檢測方法，可同時接收來自顯示器各視角與方向角上的入射光，以達(dá)到節(jié)省檢測時間與生產(chǎn)在線(in-line)產(chǎn)品全檢的目的。

背景技術(shù)

近年來，由于科技進(jìn)步與各類消費(fèi)性電子的熱賣，促使了許多產(chǎn)業(yè)的蓬勃發(fā)展與各類新興產(chǎn)業(yè)的興起，諸如集成電路(IC)、印刷電路板(PCB)、薄膜晶體管液晶顯示器(TFT-LCD)、電子構(gòu)裝/封裝(package)、及光通訊產(chǎn)業(yè)等等，各種產(chǎn)業(yè)都在現(xiàn)今的電子工業(yè)中占有一席之地。電子組件與產(chǎn)品的制作概括而言都是困難且復(fù)雜的，以面板產(chǎn)業(yè)制造為例，從薄膜晶體管的制作、面板組立，到最后整個模塊的構(gòu)成，期間可能會經(jīng)過繁復(fù)的制程與手續(xù)。其中，每道制程手續(xù)都可能會因?yàn)樯a(chǎn)條件的差異與各種突發(fā)狀況造成制程的不穩(wěn)而影響到最終成品的質(zhì)量。故此，其所生產(chǎn)出來的電子產(chǎn)品在各個制程階段中皆須進(jìn)行各式各樣的電性與光學(xué)檢測，以確保產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠度。

就液晶面板的檢測而言，其色度(chromaticity)、輝度(Luminance)、視角(viewing?angle)與對比(contrast)等光學(xué)參數(shù)量測在液晶顯示器品管中扮演極重要角色。

傳統(tǒng)液晶面板的光學(xué)檢測被局限在離線測試(off-line，即非生產(chǎn)在線in-line實(shí)時式的量測)的環(huán)境中，所以只能以隨機(jī)抽樣方式進(jìn)行質(zhì)量監(jiān)控，無法有效掌控產(chǎn)品質(zhì)量，對業(yè)主無論在時間與成本上皆造成不利的影響。再者，現(xiàn)有的面板檢測技術(shù)中多使用單點(diǎn)量測方法。故此，要量測整個面板，檢測機(jī)臺須以二維方式移動光學(xué)探頭或是面板，此舉將耗費(fèi)可觀的檢測時間。再者，為了獲得不同視角與方位角的色度、輝度等光學(xué)參數(shù)，光學(xué)探頭或面板必須作相對的角度偏擺，但實(shí)際現(xiàn)今檢測機(jī)構(gòu)中機(jī)臺的旋轉(zhuǎn)及定位機(jī)構(gòu)操作相當(dāng)復(fù)雜，且額外的機(jī)構(gòu)動作又會增加所需的檢測時間。如美國專利第6,804,001號中所揭露的光學(xué)檢測裝置，此裝置是以傅氏光學(xué)原理(Fourier?optics)搭配分光式影像光譜所發(fā)展出來的量測架構(gòu)。其中，此裝置更包括一旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)，可以將檢測角裝置旋轉(zhuǎn)至不同的方位，借此得到待測點(diǎn)不同視角的色度與輝度各項(xiàng)光學(xué)信息。然而，與前述先前技術(shù)的缺點(diǎn)相同，為獲得整體待測物各視角與方位角的光學(xué)信息，其須以二維方式移動并轉(zhuǎn)動光學(xué)探頭或面板樣品，故所需量測時間極長，且亦不易于生產(chǎn)在線檢測的實(shí)作。

綜上所言，現(xiàn)今液晶面板的光學(xué)檢測機(jī)臺仍存在著不少缺點(diǎn)，如量測速度慢、檢測設(shè)備占空間、機(jī)臺復(fù)雜且價格昂貴等。其中最甚者，即為無法于實(shí)際生產(chǎn)在線制程中直接進(jìn)行量測，僅能以隨機(jī)方式抽樣檢測或是于制程完結(jié)后才進(jìn)行產(chǎn)品全檢，此作法大大增加了成品的不良率與增加無形的生產(chǎn)成本。故此，業(yè)界亟需開發(fā)一種全新的顯示器光學(xué)檢測裝置，除了能提供令人滿意的檢測速度外，亦不能占用過多的生產(chǎn)線或廠房空間。其中最重要的，是能提供在線制程中(亦包含離線測試)全產(chǎn)品實(shí)時的檢測，以實(shí)時監(jiān)控并確保產(chǎn)品質(zhì)量及制程的可靠度。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種用以量測顯示器各項(xiàng)光學(xué)參數(shù)的光學(xué)檢測裝置及其檢測方法，該裝置及其檢測方法不僅減少了檢測所需的時間和成本，更實(shí)現(xiàn)了在線對產(chǎn)品進(jìn)行實(shí)時全檢的目的。

為達(dá)上述目的，本發(fā)明提出了一種顯示器光學(xué)檢測裝置，包括：

一受光體，呈半圓殼體內(nèi)部中空的結(jié)構(gòu)，罩蓋在待測顯示器的顯示平面上；

復(fù)數(shù)個導(dǎo)光組件，用以傳導(dǎo)所述顯示平面所輻射的光，其第一端分布在所述受光體內(nèi)部的中空面上，第二端穿過并延伸至所述受光體外部；以及

復(fù)數(shù)個光感測組件，與所述復(fù)數(shù)個導(dǎo)光組件的第二端耦合，用以接收所述顯示平面所輻射的光。

本發(fā)明亦揭示了一種顯示器光學(xué)檢測方法，包括下列步驟：

(1)提供一呈半圓殼形內(nèi)部中空的受光體，并于其上設(shè)置復(fù)數(shù)導(dǎo)光組件；

(2)將所述受光體置于顯示器上的待測區(qū)域，使所述復(fù)數(shù)個導(dǎo)光組件接收所述顯示器所輻射的光信號，隨之傳遞至所述受光體外部的復(fù)數(shù)個光感測組件；

(3)將上述光信號轉(zhuǎn)換成電荷信號，以利處理。

本發(fā)明的顯著特點(diǎn)是通過新穎的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，使該裝置及其檢測方法不僅可以簡化檢測裝置，節(jié)省一般光學(xué)檢測所需時間，節(jié)約生產(chǎn)成本，更可直接導(dǎo)入生產(chǎn)在線的制作流程之中做實(shí)時地監(jiān)控，以確保所有產(chǎn)品的光學(xué)表現(xiàn)皆能達(dá)到質(zhì)量要求。

下面結(jié)合附圖及具體實(shí)施例對本發(fā)明作進(jìn)一步的詳細(xì)說明。

附圖說明

圖1是本發(fā)明實(shí)施例中顯示器光學(xué)檢測裝置的截面圖；

圖2是本發(fā)明實(shí)施例中光學(xué)檢測裝置置于面板上的示意圖；