[發明專利]液晶顯示器修補結構與方法有效
| 申請號: | 200910106590.5 | 申請日: | 2009-04-15 |
| 公開(公告)號: | CN101592803A | 公開(公告)日: | 2009-12-02 |
| 發明(設計)人: | 廖淀淦;許漢東 | 申請(專利權)人: | 深圳華映顯示科技有限公司;中華映管股份有限公司 |
| 主分類號: | G02F1/13 | 分類號: | G02F1/13 |
| 代理公司: | 深圳中一專利商標事務所 | 代理人: | 張全文 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 液晶顯示器 修補 結構 方法 | ||
技術領域
本發明屬于液晶顯示器的技術領域,尤其涉及一種液晶顯示器的修補結構與方法。
背景技術
薄膜晶體管LCD(Thin?Film?Transistor,TFT)因具有低幅射性以及體積輕薄短小的優點,故在使用上日漸廣泛。而LCD因其具有高亮度與大視角的特性,在高階產品上更是廣受歡迎。薄膜晶體管液晶顯示器(TFT?LCD)主要由薄膜晶體管數組基板、彩色濾光數組基板和液晶層所構成,其中薄膜晶體管數組基板是由多個以數組排列的薄膜晶體管,以及與每一薄膜晶體管對應配置的一像素電極(Pixel?Electrode)所組成。而薄膜晶體管用來作為液晶顯示單元的開關組件。此外,為了控制個別的像素單元,通常經由一掃描配線(Scan?line)與一數據配線(Date?line)以選取特定的像素,并通過施以適當的操作電壓,以顯示對應此像素的顯示數據。
由于顯示器朝向高畫質且大尺寸發展的技術趨勢,從業者必須在越來越大型化的面板上,以越趨細小的線寬與像素尺寸,制作總長度越見加長的信號傳輸線。在此一情形下,在制作基板上難免會遭遇到線寬不均,甚至斷線等問題,因出現孔洞而產生短路的現象。又制作過程中,很可能因為發生某些錯誤或疏失而產生線不良,信號線斷路會導致整排像素無法接收到控制信號的線缺陷,造成顯示面板的畫質不佳與生產的良率降低等狀況。
為解決上述的問題,在現今薄膜晶體管液晶顯示器的結構布局中,通常是在其數組(array)周圍設有多條環狀修補線(repair?lines)結構,通過激光能量熔接的方式達到修補的目的,用以增加面板的良率,節省制造成本。請參照圖1,當像素區130內數據線105斷線時,以激光能量在所需修補的數據線105與修補線101跨越區域109進行打點熔接,使數據線105電性連接于所述修補線101,以提供所述兩導線之間電信號傳遞。又其修補方式多采跨越區域109周圍四點熔接點110進行激光修補,熔接點110直徑范圍約3~5um。然而此一線缺陷修補方法仍有其缺點,熔接點太多,造成修補時間的過長;熔接點太小,熔接處阻值較大,信號會衰減造成修補不良或失敗。
發明內容
本發明的目的在于提供一種液晶顯示器的修補結構,旨在解決現有技術修補時間太長及熔接處的阻抗值較大的問題,造成修補不易的問題。
本發明是這樣實現的,一種液晶顯示器的修補結構,所述結構包括:一第一導電層,具有一開口;
一絕緣層,位于第一導電層之上,覆蓋住開口;
一第二導電層,位于絕緣層之上;以及
一跨越區域,位于第一導電層與第二導電層交錯重迭處,開口位于第一導電層的跨越區域處,當開口處上方絕緣層被貫穿時,第一導電層電性連接于第二導電層,以提供兩導電層之間電信號傳遞。
如上述的修補結構,其中第一導電層與第二導電層的材料是選擇不同金屬。
如上述的液晶顯示器的修補結構,其中第一導電層包括一修補線。
如上述的液晶顯示器的修補結構,其中第二導電層包括一數據線。
如上述的液晶顯示器的修補結構,其中開口圖案包括圓形、長形、方形等其它幾何圖形。
如上述的液晶顯示器的修補結構,其中開口至少為一個。
如上述的液晶顯示器的修補結構,其中開口范圍小于兩導電層跨越區域。
如上述的液晶顯示器的修補結構,其中開口設計可增加兩金屬層間熔接面積,達到降低兩金屬層間阻值。
利用如上述的液晶顯示器的修補結構進行修補的方法包括下列步驟:
提供一第一導電層與多條第二導電層,第一導電層橫跨至少一條第二導電層;
提供一激光能量,在缺陷的第二導電層與第一導電層的跨越區域處,以激光能量熔穿第一導電層開口處上方的絕緣層,使缺陷的第二導電層電性連接于第一導電層,以提供兩導層之間電信號傳遞。
如上述的液晶顯示器的修補的方法,其中激光能量須對缺陷的第二導電層的兩端開口區域進行熔接。
如上述的液晶顯示器的修補的方法,其中一條缺陷的第二導電層橫跨至少兩條第一導電層。
在本發明中,通過顯示器的修補結構的設計,能有效降低兩金屬層間阻值與增加熔接面積的功效,可提升修補良率,同時減少修補點數,節省修補所花費的時間,較現有修補技術更具優勢。
附圖說明
圖1為現有技術提供的顯示器修補數據線方法的結構示意圖;
圖2為本發明較佳實施例的顯示器修補數據線方法的結構示意圖;
圖3A為圖2的修補數據線結構的局部放大圖;
圖3B為圖3A中對應于A-A′剖面線的剖面示意圖;
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