[發明專利]一種基于測試向量相容的測試向量編碼壓縮方法

無效

• 申請號: 200910100309.7
• 申請日: 2009-07-02
• 公開（公告）號: CN101604001A
• 公開（公告）日: 2009-12-16
• 發明（設計）人: 潘赟;萬民永;嚴曉浪
• 申請（專利權）人: 浙江大學
• 主分類號: G01R31/317
• 分類號: G01R31/317
• 代理公司: 杭州求是專利事務所有限公司
• 代理人: 張法高

技術領域

本發明涉及集成電路測試技術，尤其涉及一種基于測試向量相容的測試向量編碼壓縮方法。

背景技術

隨著芯片制造技術的進步以及新的設計方法的產生，特別是向SOC設計方法的轉變，大量的IP(Intellectual?Property)核組合在一起形成片上系統(SOC，System-On-Chip)。導致芯片的復雜度直線上升，每個IP核的測試數據一般都十分龐大(為了達到很高的錯誤覆蓋率)，測試時間變得冗長、測試數據量變得異常龐大，這就使得測試單個SOC所用的測試向量超出了測試設備性能允許的范圍，測試成本急劇上升。測試成本已經成為芯片成本的主要組成部分，如何減少測試成本進而減少芯片成本成為研究人員日益關注的問題。BIST(Built-In-Self-Test)測試方法是能解決上述問題的方法之一，但具有芯片面積開銷較大和難測故障等一些缺點，并且現有大量IP核并不具有BIST結構。通過測試數據的壓縮/解壓縮的方法可以解決測試設備性能不足的問題以及縮短測試時間。數據壓縮主要包含兩類：基于線性反饋移位寄存器LFSR(LinearFeedback?Shift?Register)的重播種技術和基于編碼的技術。LFSR在壓縮存在大量無關位的測試集時有很大的優勢，不適合確定位個數過多的情況。基于編碼的技術通過對測試集定長或者變長的序列進行編碼，可以有效減少測試數據量。在測試集中有大量的無關位“x”存在，可以將“x”設為“0”或“1”；測試集中相鄰的向量具有很好的相關性，它們之間只有很少的位數值是不同的。利用這個結果可以得到新的差分測試集，該集合具有更好的“0”的游程，編碼效率更高；也可以合并相鄰的向量，減少向量個數，對合并后的向量壓縮，也能很大的提高壓縮率。把壓縮后的數據放入ATE(Automatic?Test?Equipment)內存中，由芯片的解碼模塊進行解碼，還原測試向量，減少了測試機與被測芯片的帶寬和測試時間。

發明內容

本發明的目的是針對當前只對單個向量進行編碼而沒有結合向量相容性的不足，提出一種基于向量相容的測試向量編碼壓縮方法。

基于向量相容的測試向量編碼壓縮方法包括測試向量的壓縮和編碼后的解壓縮兩部分，

測試向量的壓縮包括如下步驟：

1)確定測試向量的編碼；

2)由被測電路得到第一測試向量集R，選取第一測試向量集R中任一個第一向量t₁，將第一向量t₁從第一測試向量集R中移出，放入測試向量組S中，測試向量組S內的向量個數m為1，設第二測試向量集H，第二測試向量集H與第一測試向量集R相同；

3)從第二測試集H中找出與第一向量t₁相容性最大的第二向量t₂，并將第二向量t₂從第二測試集H中移出；

4)若n₂大于n_max，并且第二測試集H不是空集，則返回步驟3)，若第二測試集H為空集，則到步驟7)完成分組，若n₂小于n_max，則到步驟5)，其中，n_max為測試向量之間不相容位的最大個數，n_max的值可自定義，n₂為第一向量t₁與第二向量t₂不相容位的個數；

5)將第二向量t₂移入測試向量組S中，向量個數m的值增加1，求出第一向量t₁與第二向量t₂相容后的第四向量t₄；

6)對測試向量組S編碼，計算第一測試向量組S的壓縮率λ和第二向量t₂的壓縮率λ_comp，判斷第二向量t₂是否要從測試向量組S移出，若第二測試向量集H為空集，則到步驟7)，若第二測試向量集H不為空集，則到步驟3)；

7)完成對測試向量組S的分組，對測試向量組S編碼，得到表示測試相量組S內向量個數m的編碼M、表示不相容位個數n的編碼N以及表示不相容位上值信息的編碼Q，由第一向量t₁得到第六向量t₆，第六向量t₆的編碼為T6_code，從第一測試向量集R中移出測試向量組S內的向量；

8)若第一測試向量集R為空集，則分組結束，若第一測試向量集R不為空集，則回到步驟2)開始下一測試向量組；

編碼后的解壓縮包括如下步驟：