[發(fā)明專利]一種鐵制小零件的探測器有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200910098984.0 | 申請日: | 2009-05-26 |
| 公開(公告)號: | CN101571598A | 公開(公告)日: | 2009-11-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 包劍剛 | 申請(專利權(quán))人: | 包劍剛 |
| 主分類號: | G01V3/00 | 分類號: | G01V3/00 |
| 代理公司: | 寧波奧圣專利代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人: | 程曉明 |
| 地址: | 315211浙江*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 鐵制小 零件 探測器 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種探測器,尤其是涉及一種鐵制小零件的探測器。
背景技術(shù)
在我們的日常生活以及工作中,經(jīng)常會用到一些體積較小的鐵制小零件,如:大頭針、回形針、螺絲等。特別是螺絲,在零件的固定和連接中使用非常普遍,而對于一些體積較小的螺絲,在使用過程中,經(jīng)常會落入一些縫隙中或隔板下而很難被發(fā)現(xiàn),尋找起來比較困難,也比較費力,同時也造成了材料的浪費。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種能方便鐵制小零件的尋找,使其能得到充分利用的鐵制小零件的探測器。
本發(fā)明解決上述技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案為:一種鐵制小零件的探測器,它包括底座和磁石,所述的磁石軸接在所述的底座上,所述的磁石的軸接中心線偏離所述的磁石的重心,所述的底座的材料為非磁性材料。
所述的磁石上同軸固定套設(shè)有磁石套,所述的磁石套上一體設(shè)置有連接軸,所述的底座上設(shè)置有軸孔,所述的連接軸與所述的軸孔相配合,所述的連接軸的軸線偏離所述的磁石的重心,所述的磁石套為非磁性材料。
所述的底座的上端部設(shè)置有用于遮蓋所述的磁石的透明罩蓋。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明的優(yōu)點是由于底座上軸接有磁石,且磁石的軸接中心線偏離磁石的重心,當(dāng)該裝置在非使用狀態(tài)下或者未探測到鐵制小零件時,磁石處于自然的傾斜狀態(tài),而當(dāng)探測到隔板下或某處縫隙中有鐵制小零件時,受磁場的控制,磁石會處于垂直狀態(tài),此時,便可得知鐵制小零件的具體位置,尋找準(zhǔn)確方便,使這些鐵制小零件得到了充分的利用;又由于底座的上端部設(shè)置有用于遮蓋磁石的透明罩蓋,防止在使用該裝置時,不小心人為的觸碰到磁石而影響探測的結(jié)果,同時也不影響人們用肉眼直接觀察磁石的狀態(tài)。
附圖說明
圖1為本發(fā)明的立體結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2為本發(fā)明在非使用狀態(tài)下的狀態(tài)示意圖;
圖3為本發(fā)明在使用狀態(tài)下的狀態(tài)示意圖;
圖4為本發(fā)明的分解示意圖。
具體實施方式
以下結(jié)合附圖實施例對本發(fā)明作進一步詳細描述。
如圖所示,一種鐵制小零件的探測器,它包括磁石1和材料為非磁性材料的底座2,磁石1上同軸固定套設(shè)有材料為非磁性材料的磁石套3,磁石套3上一體設(shè)置有連接軸31,底座2上設(shè)置有軸孔21,連接軸31與軸孔21相配合,連接軸3?1的軸線偏離磁石1的重心,底座2的上端部設(shè)置有用于遮蓋磁石1的透明罩蓋4。
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