[發明專利]一種寶石折射率測定儀

無效

• 申請號: 200910098701.2
• 申請日: 2009-05-12
• 公開（公告）號: CN101609045A
• 公開（公告）日: 2009-12-23
• 發明（設計）人: 程宏;王勤;王媛媛
• 申請（專利權）人: 杭州志達光電有限公司
• 主分類號: G01N21/41
• 分類號: G01N21/41;G02B7/182;G02B7/00
• 代理公司: 杭州九洲專利事務所有限公司
• 代理人: 陳繼亮

技術領域

本發明主要涉及寶石測定儀裝置領域，主要是一種寶石折射率測定儀。

背景技術

目前使用的寶石折射率測定儀主要有兩種形式，一種是半圓柱式，另一種是棱鏡式。半圓柱式測定儀的入射光線成會聚形狀，裝校困難，造成視場內明暗界限不清；玻璃半圓柱體加工困難；入射雜散光線會進入視場，造成對比度下降。棱鏡式測定儀的由于棱鏡出射面的折射效應，使得折射率的測量范圍有限；由漫反射面產生的光線部分可直接進入視場，造成對比度下降。

發明內容

本發明要解決上述現有技術的缺點，提供一種更穩定可靠、更實用的寶石折射率測定儀。

本發明解決其技術問題采用的技術方案：這種寶石折射率測定儀，主要包括外殼、接目鏡及主機板，主機板設在外殼內，主機板上設有折光棱鏡、刻尺、場鏡、反光鏡I，折光棱鏡為橋形，折光棱鏡的出射面上設有柱面透鏡，外殼內設有支撐板與主機板接觸，支撐板上設有反光鏡II、反光板和濾色片，接目鏡通過目鏡座與外殼連接固定。

所述接目鏡的鏡頭處設有偏振片。

所述接目鏡外部由內到外設有調焦滑塊及壓簧，目鏡座外套有目鏡罩。

所述外殼頂部設有工作臺板，工作臺板上部設有保護罩，保護罩通過連塊固定在外殼上。

所述刻尺固定在刻尺座上，刻尺座的一端設有壓力彈簧。

所述外殼上設有透光孔，透光孔的位置與反光鏡II相對應。

所述折光棱鏡的入射面為磨砂面。

本發明有益的效果是：橋形結構折光棱鏡的設計使得某一特定角度的反射光被限制在一定的寬度之內，這樣就隔絕了漫射面出射的雜散光的進入，視場中的對比度也就相應提高。另外，由于可能達到觀察視場中的反射光線其反射區域同時被限制在一個小范圍內，使得接觸面比較小的被測件在測試時，非寶石面的反射光很難進入視場，尤其是在臨界角度非寶石面的反射光就更難進入視場，也正是由于上述兩點，此測定儀在視場中觀察到的明暗分界線要比其他類型的測定儀的分界線要清晰的多。另外，由于反射光線均出射出于很小的一個區域內，在出射面上粘接一塊與折光棱鏡折射率相同的柱面透鏡，透鏡圓柱面的中心線位于折光棱鏡工作面的中心線上，這樣就克服了棱鏡式測定儀棱鏡出射面的折射效應，擴大了測量范圍，從而減少由于棱鏡角度誤差所帶來的測量誤差。

附圖說明

圖1是本發明結構示意圖；

圖2是本發明原理圖；

圖3是折光棱鏡折射原理圖；

圖4是刻尺定位圖1；

圖5是A～θ關系圖1；

圖6是刻尺定位圖2；

圖7是A～θ關系圖2。

附圖標記說明：連塊1，保護罩2，反光鏡II3，工作臺板4，滑動拉桿5，目鏡座6，壓簧7，調焦滑塊8，接目鏡9，偏振片10，目鏡罩11，主機板12，反光鏡I13，支撐板14，場鏡15，刻尺16，刻尺座17，壓力彈簧18，柱面透鏡19，折光棱鏡20，反光板21，轉動桿22，濾色片23，被檢寶石24，光源25，出射面26，入射面27，外殼28，透光孔29。

具體實施方式

下面結合附圖和實施例對發明作進一步說明：

如圖所示，這種寶石折射率測定儀，主要包括外殼28、接目鏡9及主機板12，外殼28頂部設有工作臺板4，工作臺板4上部設有保護罩2，被檢寶石24放在工作臺板4上，蓋有保護罩2，保護罩2通過連塊1固定在外殼28上。主機板12設在外殼28內，主機板12上設有折光棱鏡20、刻尺16、場鏡15、反光鏡I13，刻尺16固定在刻尺座17上，刻尺座17的一端設有壓力彈簧18，用于固定刻尺16，折光棱鏡20為橋形，折光棱鏡20的出射面26上設有柱面透鏡19，外殼28內設有支撐板14與主機板12接觸，支撐板14上設有反光鏡II3、反光板21和濾色片23，反光鏡II3固定在滑動拉桿5上，濾色片23固定在轉動桿22上，接目鏡9通過目鏡座6與外殼28連接固定，接目鏡9的鏡頭處設有偏振片10，接目鏡9外部由內到外設有調焦滑塊8及壓簧7，用于固定接目鏡9及調節焦距，目鏡座6外套有目鏡罩11，起到保護作用。外殼28上設有透光孔29，透光孔29的位置與反光鏡II3相對應，光源25通過透光孔29將光投射在反光鏡II3上，光通過反光鏡II3反射到折光棱鏡20的入射面27上，入射面27為磨砂面。