[發明專利]基于系統辨識的阻抗測量方法有效
| 申請號： | 200910093589.3 | 申請日： | 2009-10-13 |
| 公開（公告）號： | CN101692109A | 公開（公告）日： | 2010-04-07 |
| 發明（設計）人： | 朱榮;張國平 | 申請（專利權）人： | 清華大學 |
| 主分類號： | G01R27/02 | 分類號： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 北京路浩知識產權代理有限公司 11002 | 代理人： | 張國良 |
| 地址： | 100084 北京市海*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 基于 系統 辨識 阻抗 測量方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種基于系統辨識的阻抗測量方法，包括以下步驟：
S1，利用阻抗測量儀器測得不同角頻率下的阻抗值；
S2，根據被測量對象及其與所述阻抗測量儀器探頭的連接方式，建立含寄生參量的阻抗模型；
S3，根據所測得的阻抗值和所建立的阻抗模型采用參數估計方法進行系統辨識，得到所述被測試對象的實際阻抗、電容、電感和各寄生參量的值；
所述含寄生參量的阻抗模型包括：
若被測量對象為阻抗，則所建立的阻抗模型的總阻抗Z為：
其中，Zx是被測量對象的阻抗，Zxr和Zxi分別是Zx的實部和虛部，Rp是并聯寄生電阻，Cp是并聯寄生電容，Rs是串聯寄生電阻，Ls是串聯寄生電感；w為角頻率；
若被測量對象為電容，則所建立的阻抗模型的總阻抗Z為：
其中，Cx、Rpx和Rsx分別是被測量對象的電容值、并聯電阻值和串聯電阻值；
若被測對象為電感，則所建立的阻抗模型的總阻抗Z為：
其中，Lx、Rpx和Rsx分別是被測量對象的電感值、并聯電阻值和串聯電阻值。
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