[發明專利]液晶顯示面板邊緣缺陷的測試系統及其測試方法無效

申請號：	200910091905.3	申請日：	2009-08-28
公開（公告）號：	CN101995671A	公開（公告）日：	2011-03-30
發明（設計）人：	張君;趙玉清;付偉;姚大青	申請（專利權）人：	北京京東方光電科技有限公司
主分類號：	G02F1/13	分類號：	G02F1/13
代理公司：	北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205	代理人：	丁琛
地址：	100176 北***	國省代碼：	北京;11
權利要求書：	查看更多	說明書：	查看更多
摘要：
搜索關鍵詞：	液晶顯示面板邊緣缺陷測試系統及其方法
鉆瓜網技術展會專利詞庫專利權人專利榜在售專利公布日期熱門專利

【說明書】：

技術領域

本發明涉及一種液晶顯示(Liquid?Crystal?Display，簡稱LCD)面板(Panel)，特別是涉及一種在大尺寸的玻璃基板上制成多個LCD面板并切割成各個單位LCD面板之后，用于測試切割后LCD面板的邊緣缺陷的測試系統及其測試方法。

背景技術

在LCD面板的制造工藝中，通常首先在一個大尺寸的玻璃基板上形成多個LCD面板，每個LCD面板包括：對盒設置的陣列(Array)基板和彩色濾光片(Color?Filter，簡稱CF)基板、以及在二者之間填充的液晶層；之后，將大尺寸的玻璃基板上形成的多個LCD面板，采用比玻璃基板硬度高的刀輪在玻璃基板表面形成預定切割線，并沿預定切割線擴展裂紋(PropagatingCrack)，從而切割得到各個單位LCD面板。

LCD面板切割后在邊緣處經常出現毛刺(Burr)殘留的現象。現有技術是采用物理接觸式的機械對位的測量系統，來檢測切割后的LCD面板的邊緣是否存在毛刺。圖1為現有技術LCD面板邊緣缺陷測試系統的結構示意圖。如圖1所示，現有技術用于測試切割后的LCD面板的測量系統包括：第一測試條11、第二測試條12、第三測試條13和第四測試條14，以及用于放置待測試的LCD面板的工作臺(未圖示)。待測試的LCD面板包括對盒設置后的陣列基板21和CF基板22，陣列基板21與CF基板22不重疊的邊緣區域的一邊(即：長邊)形成有數據線焊盤211，另一邊(即：短邊)形成有柵線焊盤212。在進行LCD面板邊緣缺陷的測試時，將待測試的LCD面板放置在工作臺上，第一測試條11和第三測試條13相向運動，分別與LCD面板二個相對的長邊嚙合，用于測試LCD面板二個相對的長邊是否有毛刺；第二測試條12和第四測試條14相向運動，分別與LCD面板二個相對的短邊嚙合，用于測試LCD面板二個相對的短邊是否有毛刺。

但現有測試系統是基于接觸式的機械對位方式進行LCD面板邊緣缺陷的檢測，檢測精度低，檢測所需的時間較長，誤檢的幾率較高，部分形成有毛刺的LCD面板流入下游生產工序，對下游生產設備造成損害的幾率較大；此外，現有測試系統的檢測過程較難控制，例如，如果測試條與LCD面板之間的嚙合力度過大，可能夾碎LCD面板。因此，現有測試系統的檢測可靠性較低。

發明內容

本發明提供一種液晶顯示面板邊緣缺陷的測試系統及其測試方法，從而有利于提高切割后LCD面板邊緣缺陷的檢測可靠性。

本發明提供了一種液晶顯示面板邊緣缺陷的測試系統，包括：

圖像采集裝置，用于對預先放置在待檢測區域的液晶顯示面板的邊緣，進行圖像采樣；

控制器，用于根據采樣的圖像信息，判斷所述液晶顯示面板的邊緣是否存在邊緣缺陷。

本發明還提供了一種基于上述液晶顯示面板邊緣缺陷的測試系統的測試方法，包括：

將液晶顯示面板的邊緣放置在待檢測區域；

圖像采集裝置對所述待檢測區域進行圖像采樣；

控制器根據采樣的圖像信息，判斷所述液晶顯示面板的邊緣是否存在邊緣缺陷。

本發明提供的液晶顯示面板邊緣缺陷的測試系統及其測試方法，對LCD面板邊緣缺陷進行非接觸式的光學影像測試，相對于接觸式的機械對位的LCD面板邊緣缺陷的測試系統和方法，具有測試系統迅速啟動、檢測精準度高、操作方便、壽命較長等優點，有利于提高LCD面板邊緣缺陷的檢測可靠性。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動性的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。