[發明專利]一種硅基光電器件集成方法有效
| 申請號: | 200910091402.6 | 申請日: | 2009-08-19 |
| 公開(公告)號: | CN101996947A | 公開(公告)日: | 2011-03-30 |
| 發明(設計)人: | 李運濤;俞育德;余金中 | 申請(專利權)人: | 中國科學院半導體研究所 |
| 主分類號: | H01L21/822 | 分類號: | H01L21/822;H01L21/768 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人: | 周國城 |
| 地址: | 100083 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 光電 器件 集成 方法 | ||
1.一種硅基光電器件集成方法,其特征在于,該方法包括:
在硅襯底上制備電子學器件;
在已經制備硅電子學器件的硅襯底上制備二氧化硅層;
在二氧化硅層上制備多晶硅;
在多晶硅上制備硅光子學器件;
刻蝕過孔,淀積金屬實現電學互連。
2.根據權利要求1所述的硅基光電器件集成方法,其特征在于,所述硅襯底為單晶硅,或者為多晶硅,或者為鍺硅。
3.根據權利要求1所述的硅基光電器件集成方法,其特征在于,所述在硅襯底上制備二氧化硅層采用化學汽相淀積、熱氧化、液相外延、磁控濺射或分子束外延方法。
4.根據權利要求1所述的硅基光電器件集成方法,其特征在于,所述在二氧化硅層上制備多晶硅采用化學汽相淀積、汽相外延、磁控濺射、液相外延、置換還原法或分子束外延方法。
5.根據權利要求1所述的硅基光電器件集成方法,其特征在于,所述刻蝕過孔采用干法刻蝕或濕法刻蝕。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





