[發(fā)明專利]FFS型TFT-LCD陣列基板及其制造方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200910089829.2 | 申請(qǐng)日: | 2009-07-24 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101963727A | 公開(公告)日: | 2011-02-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 宋泳錫;劉圣烈;崔承鎮(zhèn) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京京東方光電科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G02F1/1362 | 分類號(hào): | G02F1/1362;G02F1/1368;H01L21/82 |
| 代理公司: | 北京同立鈞成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11205 | 代理人: | 劉芳 |
| 地址: | 100176 北*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | ffs tft lcd 陣列 及其 制造 方法 | ||
1.一種FFS型TFT-LCD陣列基板的制造方法,所述陣列基板包括公共電極區(qū)域、公共電極線區(qū)域、柵電極區(qū)域、柵線區(qū)域、數(shù)據(jù)線區(qū)域、半導(dǎo)體層區(qū)域,源電極區(qū)域、漏電極區(qū)域、像素電極區(qū)域PAD區(qū)域的柵線區(qū)域及PAD區(qū)域的數(shù)據(jù)線區(qū)域,其特征在于,包括:
步驟1:在透明基板上依次沉積第一透明導(dǎo)電薄膜、源漏金屬薄膜及摻雜半導(dǎo)體薄膜,通過第一構(gòu)圖工藝形成包括源電極、漏電極、數(shù)據(jù)線和像素電極的圖形;
步驟2:沉積半導(dǎo)體薄膜,通過第二構(gòu)圖工藝形成包括摻雜半導(dǎo)體層、TFT溝道和半導(dǎo)體層的圖形;
步驟3:沉積絕緣薄膜和柵金屬薄膜、通過第三構(gòu)圖工藝形成包括連接孔、柵線、柵電極以及公共電極線的圖形;
步驟4、沉積第二透明導(dǎo)電薄膜,通過第四構(gòu)圖工藝形成包括公共電極的圖形。
2.根據(jù)權(quán)利要求1的FFS型TFT-LCD陣列基板的制造方法,其特征在于,所述步驟1具體包括:
提供透明基板;
在所述透明基板上依次沉積第一透明導(dǎo)電薄膜、源漏金屬薄膜及摻雜半導(dǎo)體薄膜;
在摻雜半導(dǎo)體薄膜上涂敷光刻膠;
通過第一雙調(diào)掩模板對(duì)所述光刻膠進(jìn)行曝光及顯影處理,使得所述數(shù)據(jù)線區(qū)域、源電極區(qū)域及漏電極區(qū)域的光刻膠具有第一厚度,所述像素電極區(qū)域的光刻膠具有第二厚度,所述第一厚度大于第二厚度,其余區(qū)域不存在光刻膠;
通過第一刻蝕工藝完全刻蝕掉所述其余區(qū)域的摻雜半導(dǎo)體薄膜、源漏金屬薄膜和透明導(dǎo)電薄膜;
通過灰化工藝去除第二厚度的光刻膠,暴露出所述像素電極區(qū)域的摻雜半導(dǎo)體薄膜;
通過第二刻蝕工藝完全刻蝕掉所述像素電極區(qū)域的摻雜半導(dǎo)體薄膜和源漏金屬薄膜;
剝離剩余光刻膠。
3.根據(jù)權(quán)利要求1的FFS型TFT-LCD陣列基板的制造方法,其特征在于,所述步驟2具體包括:
沉積半導(dǎo)體薄膜;
在所述半導(dǎo)體薄膜上涂覆光刻膠;
通過掩膜板對(duì)所述光刻膠進(jìn)行曝光和顯影處理,僅在所述半導(dǎo)體層區(qū)域保留光刻膠;
通過第三刻蝕工藝刻蝕掉暴露出的半導(dǎo)體薄膜;
剝離剩余光刻膠。
4.根據(jù)權(quán)利要求1的FFS型TFT-LCD陣列基板的制造方法,其特征在于,所述步驟3具體包括:
沉積絕緣薄膜和柵金屬薄膜;
在所述柵金屬薄膜上涂覆光刻膠;
通過第二雙調(diào)掩膜板對(duì)光刻膠進(jìn)行曝光和顯影處理,使得所述柵電極區(qū)域、柵線區(qū)域以及公共電極線區(qū)域的光刻膠具有第三厚度,PAD區(qū)域的數(shù)據(jù)線區(qū)域無(wú)剩余光刻膠,其它區(qū)域的光刻膠具有第四厚度,所述第三厚度大于第四厚度;
通過第四刻蝕工藝分別對(duì)PAD區(qū)域的數(shù)據(jù)線區(qū)域的柵金屬薄膜和柵絕緣層進(jìn)行刻蝕;
對(duì)光刻膠進(jìn)行灰化工藝,去掉第四厚度的光刻膠,經(jīng)灰化工藝后,除了柵電極區(qū)域、柵線區(qū)域以及公共電極線區(qū)域之外,其他區(qū)域的柵金屬薄膜暴露;
通過第五刻蝕工藝,刻蝕掉暴露出的柵金屬薄膜;
剝離剩余光刻膠。
5.根據(jù)權(quán)利要求1的FFS型TFT-LCD陣列基板的制造方法,其特征在于,所述步驟4具體包括:
沉積第二透明導(dǎo)電薄膜;
在所述第二透明導(dǎo)電薄膜上涂覆光刻膠;
通過普通掩膜板對(duì)光刻膠進(jìn)行了曝光和顯影處理,使得公共電極線區(qū)域、公共電極區(qū)域、PAD區(qū)域的數(shù)據(jù)線區(qū)域以及PAD區(qū)域的柵線區(qū)域上剩余光刻膠,其它區(qū)域無(wú)光刻膠覆蓋;
通過第六刻蝕工藝完全刻蝕掉所述其它區(qū)域的所述第二透明導(dǎo)電薄膜;
剝離剩余光刻膠。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的FFS型TFT-LCD陣列基板的制造方法,其特征在于,所述絕緣薄膜為SiNx、SiOx或SiOxNy的單層薄膜,或這些材料多層沉積形成的多層薄膜。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的FFS型TFT-LCD陣列基板的制造方法,其特征在于,所述源漏金屬薄膜或柵金屬薄膜為鉬、鋁、鋁釹合金、鎢、鉻、銅形成的單層薄膜,或?yàn)橐陨辖饘俣鄬映练e形成的多層薄膜。
8.根據(jù)權(quán)利要求2所述的FFS型TFT-LCD陣列基板的制造方法,其特征在于,通過磷酸和硝酸的混合物制得的刻蝕劑對(duì)源漏金屬薄膜進(jìn)行刻蝕;
9.根據(jù)權(quán)利要求2所述的FFS型TFT-LCD陣列基板的制造方法,其特征在于,通過硫酸或過氧化物對(duì)第一透明導(dǎo)電薄膜進(jìn)行刻蝕。
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G02F 用于控制光的強(qiáng)度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置,例如轉(zhuǎn)換、選通、調(diào)制或解調(diào),上述器件或裝置的光學(xué)操作是通過改變器件或裝置的介質(zhì)的光學(xué)性質(zhì)來(lái)修改的;用于上述操作的技術(shù)或工藝;變頻;非線性光學(xué);光學(xué)
G02F1-00 控制來(lái)自獨(dú)立光源的光的強(qiáng)度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置,例如,轉(zhuǎn)換、選通或調(diào)制;非線性光學(xué)
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G02F1-29 .用于光束的位置或方向的控制,即偏轉(zhuǎn)
G02F1-35 .非線性光學(xué)
G02F1-355 ..以所用材料為特征的
G02F1-365 ..在光波導(dǎo)結(jié)構(gòu)中的





