[發(fā)明專利]制備透明導電膜的設備的腔室系統(tǒng)及其工藝有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200910089680.8 | 申請日: | 2009-07-29 |
| 公開(公告)號: | CN101603171A | 公開(公告)日: | 2009-12-16 |
| 發(fā)明(設計)人: | 王建強;李寶勝;趙鳳剛 | 申請(專利權)人: | 新奧光伏能源有限公司 |
| 主分類號: | C23C14/34 | 分類號: | C23C14/34;C23C14/06;C23C14/10;H01L31/18;H01L31/0224 |
| 代理公司: | 北京連城創(chuàng)新知識產(chǎn)權代理有限公司 | 代理人: | 劉伍堂 |
| 地址: | 065001河北省廊*** | 國省代碼: | 河北;13 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 制備 透明 導電 設備 系統(tǒng) 及其 工藝 | ||
1.制備透明導電膜的設備的腔室系統(tǒng),其特征在于,腔室系統(tǒng)由七個腔室組成,依次是進片室、加熱室A、二氧化硅沉積室、加熱室B、TCO沉積室、冷卻室和出片室;所述的二氧化硅沉積室有兩個二氧化硅靶材,兩個射頻電源;所述TCO沉積室有十個TCO靶材,TCO沉積室與加熱室B相臨的前半段分布四個TCO靶材,與冷卻室相臨的后半段分布六個TCO靶材,每個TCO靶材均選擇直流電源和射頻電源匹配,所述前四個TCO靶材和后六個TCO靶材所在的區(qū)域對應的傳送系統(tǒng)分別配備一個電機,用于分別控制前后靶材區(qū)域的玻璃基底走速。
2.利用權利要求1所述的制備透明導電膜的設備的腔室系統(tǒng)沉積TCO薄膜的方法為:
將進片室和出片室抽真空到10-1Pa,加熱室A、二氧化硅沉積室、加熱室B、TCO沉積室和冷卻室抽高真空到10-4Pa;
將二氧化硅沉積室加溫到100-300℃,并通入Ar(氬氣),流量為500-1000sccm,工作壓強0.2-0.6Pa;
將TCO沉積室加溫到100-300℃,通入Ar和O2(氧氣),Ar流量500-1000sccm,O2流量5-15sccm;
玻璃基底進入進片室后,經(jīng)過加熱室A加熱到50-200℃后到達二氧化硅沉積室,在二氧化硅沉積室玻璃基底沉積厚度為30-60nm的二氧化硅膜;
TCO沉積室內(nèi)的前面四個TCO靶材用高功率、低溫、低真空度沉積出細小的晶粒,形成第一層TCO薄膜,厚度400-500nm,每個靶材濺射功率為40-60kW,RF電源和DC電源功率之比為0-0.5,溫?度160-200℃,濺射真空度0.4-1.0Pa,O2流量為5-15sccm,O2與Ar的比率為0.5%-2%;后面六個TCO靶材采用低功率、高溫、高真空度,生長致密、電阻率低、尺寸較大的晶粒,形成第二層TCO薄膜,厚度在500-600nm,每個靶材濺射功率為20-40kW,射頻電源和直流電源功率之比0.5-1.2,溫度200-280℃,濺射真空度0.2-0.8Pa。
3.如權利要求2所述的沉積TCO薄膜的方法,其特征在于,形成的兩層TCO薄膜總厚度為900-1000nm。
4.如權利要求2所述的沉積TCO薄膜的方法,其特征在于,通過控制電源功率、射頻電源和直流電源功率的比率、沉積溫度、真空室壓強、反應氣體Ar和O2的比例及流量、玻璃基底在TCO沉積室內(nèi)前四個靶材區(qū)域和后六個靶材區(qū)域的傳輸速度來調(diào)整TCO膜的電阻率、透過率和晶粒大小及分布。
5.如權利要求2所述的沉積TCO薄膜的方法,其特征在于,TCO沉積室內(nèi)的每個TCO靶材匹配射頻和直流電源,通過調(diào)整射頻電源和直流電源功率的比率可以調(diào)節(jié)濺射成膜速率、電阻率、晶粒尺寸大小和透過率。
6.如權利要求2所述的沉積TCO薄膜的方法,其特征在于,TCO薄膜包括氧化鋅摻鋁、氧化鋅摻硼或氧化鋅摻鎵透明導電氧化物。?
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C23C 對金屬材料的鍍覆;用金屬材料對材料的鍍覆;表面擴散法,化學轉化或置換法的金屬材料表面處理;真空蒸發(fā)法、濺射法、離子注入法或化學氣相沉積法的一般鍍覆
C23C14-00 通過覆層形成材料的真空蒸發(fā)、濺射或離子注入進行鍍覆
C23C14-02 .待鍍材料的預處理
C23C14-04 .局部表面上的鍍覆,例如使用掩蔽物
C23C14-06 .以鍍層材料為特征的
C23C14-22 .以鍍覆工藝為特征的
C23C14-58 .后處理





