[發明專利]分析光學元件保偏特性的方法

無效

• 申請號: 200910088591.1
• 申請日: 2009-07-08
• 公開（公告）號: CN101943630A
• 公開（公告）日: 2011-01-12
• 發明（設計）人: 吳昊;鄭厚植;朱匯
• 申請（專利權）人: 中國科學院半導體研究所
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 湯保平

1.一種分析光學元件保偏特性的方法，包括如下步驟：

步驟1：由第一寬波段線偏振片和第一寬波段四分之一波長波片組成極化單元，由第二寬波段四分之一波長波片和第二寬波段線偏振片組成檢測單元，在同一光路上依次排列有激光器、極化單元、檢測單元和光功率計，以構成探測系統；

步驟2：調節極化單元，即調節第一寬波段線偏振片光軸與第一寬波段四分之一波長波片光軸的相對角度，使激光器出射的入射光成為完全極化的左旋或右旋圓偏振光；

步驟3：調節檢測單元，即調節第二寬波段四分之一波長波片光軸與第二寬波段線偏振片光軸的相對角度，使其只允許與步驟二中入射光偏振特性相反的右旋或左旋圓偏振光通過，則此時入射光不能到達光功率計，從而光功率計的讀數只是環境光的反映；

步驟4：在極化單元和檢測單元之間插入待測的光學元件；

步驟5：讀取光功率計的讀數，若待測光學元件對入射光的偏振狀態有所改變，光功率計的讀數將有所增加；若待測光學元件對入射光的偏振狀態沒有改變，則光功率計的讀數不變，仍然只反映環境光的強度。

2.根據權利要求1所述的分析光學元件保偏特性的方法，其中采用的第一寬波段線偏振片和第二寬波段線偏振片，在可見到近紅外的波長范圍內消光比為100000∶1，以保證所進行測量的準確性。

3.根據權利要求1所述的分析光學元件保偏特性的方法，其中采用的第一寬波段四分之一波長波片和第二寬波段四分之一波長波片，在690-1200nm的波長范圍內消色差，以滿足在該波長范圍內所進行測量的準確性。

4.根據權利要求1所述的分析光學元件保偏特性的方法，其中所采用的激光器，是工作在任何需要測試的波長的各種激光器。

5.根據權利要求1所述的分析光學元件保偏特性的方法，其中所采用的光功率計，是帶衰減器的硅芯片探測器，其探測靈敏度在可見到近紅外的波長范圍內達到皮瓦量級，以保證所進行探測的準確性。