[發(fā)明專利]一種光平均波長的測量方法及裝置無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200910085890.X | 申請日: | 2009-06-03 |
| 公開(公告)號: | CN101592526A | 公開(公告)日: | 2009-12-02 |
| 發(fā)明(設計)人: | 徐宏杰;劉海鋒;張春熹;宋凝芳;張忠鋼;郭耀儀 | 申請(專利權(quán))人: | 北京航空航天大學 |
| 主分類號: | G01J9/02 | 分類號: | G01J9/02;G02B6/24 |
| 代理公司: | 北京凱特來知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人: | 鄭立明 |
| 地址: | 100083*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 平均 波長 測量方法 裝置 | ||
1、一種光平均波長的測量方法,其特征在于,包括:
將輸入的光信號通過相位調(diào)制得到兩路光,并使經(jīng)過光纖環(huán)傳輸?shù)膬陕饭猱a(chǎn)生干涉;
接收干涉的光信號并將所述光信號轉(zhuǎn)換成電信號,通過對電信號解調(diào)獲得所述輸入的光信號的平均波長。
2、根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述經(jīng)過光纖環(huán)傳輸包括:將所述兩路光分別通過對稱繞制且入射方向相反的兩個光纖環(huán)傳輸。
3、根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述輸入的光信號的平均波長根據(jù)以下公式計算獲得:
其中φ為光信號在Y波導中正反兩方向傳播的相位差,l為波導的長度,d為波導的厚度,λ為光源平均波長,U為調(diào)制電壓,Γ為電場與光場的重疊因子,ne為非尋常光折射率,γ33為介電常數(shù)。
4、一種光平均波長的測量裝置,其特征在于,包括:
光學調(diào)制單元,用于將輸入的光信號進行相位調(diào)制得到兩路光,并使經(jīng)過光纖環(huán)傳輸?shù)膬陕饭猱a(chǎn)生干涉;
光電探測單元,用于接收干涉的光信號并將所述光信號轉(zhuǎn)換成電信號,通過對電信號解調(diào)獲得所述輸入的光信號的平均波長。
5、根據(jù)權(quán)利要求4所述的裝置,其特征在于,所述經(jīng)過光纖環(huán)傳輸包括:將所述兩路光分別通過對稱繞制且入射方向相反的兩個光纖環(huán)傳輸。
6、根據(jù)權(quán)利要求4所述的裝置,其特征在于,所述輸入的光信號的平均波長根據(jù)以下公式計算獲得:
其中φ為光信號在Y波導中正反兩方向傳播的相位差,l為波導的長度,d為波導的厚度,λ為光源平均波長,U為調(diào)制電壓,Γ為電場與光場的重疊因子,ne為非尋常光折射率,γ33為介電常數(shù)。
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