[發明專利]痕量檢測儀和用于痕量檢測儀的分析方法

有效

• 申請號: 200910085555.X
• 申請日: 2009-05-25
• 公開（公告）號: CN101900705A
• 公開（公告）日: 2010-12-01
• 發明（設計）人: 彭華;林津;賀文;張陽天;王耀昕;焦鵬;李徽;張仲夏
• 申請（專利權）人: 同方威視技術股份有限公司
• 主分類號: G01N27/62
• 分類號: G01N27/62;G01N1/40
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 張成新

1.一種痕量檢測儀，包括：限定解析區的解析室，所述解析室具有外殼，其中所述腔體具有用于被檢物進入解析室的進樣口，以及用于從解析室排出攜帶樣本的氣體的排氣口；和

控制器，所述控制器控制痕量檢測儀，以便在所述痕量檢測儀的預濃縮期間，所述進樣口和所述排氣口保持與所述解析室流體連通，從而連續進樣和采樣。

2.按照權利要求1所述的痕量檢測儀，其中所述腔體還包括：可移動部分，通過所述可移動部分的移動可以改變解析室的容積而實現預濃縮。

3.按照權利要求2所述的痕量檢測儀，其中所述腔體具有側壁，所述側壁形成大體柱形的內部空間，并且所述可移動部分是可滑動地設置在該內部空間中用于改變該內部空間容積的移動體。

4.按照權利要求3所述的痕量檢測儀，其中

所述控制器在所述痕量檢測儀的取樣及分析期間，改變解析區的溫度和/或從所述解析室排氣口排出攜帶樣本的氣體的流量。

5.按照權利要求4所述的痕量檢測儀，其中提高解析區的溫度是快速升溫的過程。

6.按照權利要求5所述的痕量檢測儀，其中所述痕量檢測儀是離子遷移質譜儀。

7.一種用于痕量檢測儀的分析方法，包括：

將試樣連續進給到痕量檢測儀的解析室中；

從解析室連續排出攜帶樣本的氣體；并且

在連續進給試樣和排出攜帶樣本的氣體的同時，對解析室中的樣本氣體進行氣體預濃縮。

8.按照權利要求7所述的用于痕量檢測儀的分析方法，還包括：

連續進行樣本的采集、處理和分析。

9.按照權利要求8所述的用于痕量檢測儀的分析方法，還包括：

改變解析室的容積而實現預濃縮。

10.按照權利要求9所述的用于痕量檢測儀的分析方法，還包括：

控制或改變解析區的溫度和/或從所述解析室排出攜帶樣本的氣體的流量。

11.按照權利要求10所述的用于痕量檢測儀的分析方法，其中

控制解析區的溫度包括快速升溫。