[發明專利]金屬鈮剩余電阻率測量裝置和測量方法

有效

• 申請號: 200910084296.9
• 申請日: 2009-07-31
• 公開（公告）號: CN101581743A
• 公開（公告）日: 2009-11-18
• 發明（設計）人: 朱志芹
• 申請（專利權）人: 中國科學院電工研究所
• 主分類號: G01R27/02
• 分類號: G01R27/02
• 代理公司: 北京科迪生專利代理有限責任公司
• 代理人: 關 玲;賈玉忠

1.一種測量金屬鈮剩余電阻率的裝置，其特征在于，所述裝置包括樣品測試桿(4)、低溫杜瓦(3)、直流電流源(6)、通道轉換器(5)、電壓放大器(7)、電壓測量儀表(8)、電流測量儀表(9)、電腦采集處理系統(10)；樣品測試桿(4)引出線與電壓測量儀表(8)和電流測量儀表(9)相連接，電壓測量儀表(8)和電流測量儀表(9)分別連接電腦采集處理系統(10)；金屬鈮樣品(1)裝在樣品架(11)上，溫度傳感器(2)用低溫膠粘在樣品測試桿(4)下端，樣品測試桿(4)的上端為用不銹鋼空心材料制成的空心桿(12)，空心桿(12)連接插頭座(13)和樣品架(11)，連接在金屬鈮樣品(1)上的電壓測量引線和電流引線從空心桿(12)內引出，與插頭座(13)相連接，通過連接插頭將金屬鈮樣品(1)的電壓測量引線和溫度傳感器的電壓測量引線與電壓測量儀表(8)相連接；金屬鈮樣品(1)的電流引線通過通道轉換器(5)與電流測量儀表(9)相連接，直流電流源(6)通過通道轉換器(5)給金屬鈮樣品(1)加正反方向1.5A的直流電流；低溫杜瓦(3)中裝有低溫液氦。

2.應用權利要求1所述裝置的測量方法，其特征在于在將裝有金屬鈮樣品(1)的樣品測試桿(4)置于室溫下，測出金屬鈮樣品(1)在室溫中的電壓值U(295K)；然后將裝有金屬鈮樣品(1)的樣品測試桿(4)慢慢插入裝有低溫液氦的低溫杜瓦(3)中，金屬鈮樣品(1)的溫度逐漸降低，金屬鈮樣品(1)的電壓值亦逐漸減小，當金屬鈮樣品(1)的溫度降到9.28K，此時金屬鈮轉變為超導態，金屬鈮樣品(1)的剩余電阻值為零，檢測到的電壓為零；讀出金屬鈮樣品(1)達到溫度9.3K前的瞬間電壓值，代入以下公式，即求得金屬鈮樣品(1)的剩余電阻率值：

RRR=U(295K)U(9.3K)-U(295K)·2.4587·10-4,]]>

式中：RRR為金屬的剩余電阻率，U(295K)和U(9.3K)分別為金屬在溫度295K和9.3K時的電壓值。

3.根據權利要求2所述的測量方法，其特征在于測試時給金屬鈮樣品(1)加正反方向1.5A直流電流，在整個測試過程中金屬鈮樣品(1)上所加的電流相同。