[發明專利]臥式金屬罐容積測量方法及測量裝置

無效

• 申請號: 200910082541.2
• 申請日: 2009-04-23
• 公開（公告）號: CN101532820A
• 公開（公告）日: 2009-09-16
• 發明（設計）人: 蔡友發;石晶欣;戚利飛
• 申請（專利權）人: 北京光電技術研究所
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司
• 代理人: 劉 芳

1、一種臥式金屬罐容積測量方法，其特征在于，包括：

控制激光測頭沿直線導軌單元下降至第一高度，在所述第一高度控制所述激光測頭以所述直線導軌單元為軸水平旋轉一周，測量金屬罐水平截面邊緣預設各點的極坐標，所述極坐標以所述水平截面為極坐標平面，以所述直線導軌單元與所述水平截面交點為極點，所述直線導軌單元與水平面垂直；

控制所述激光測頭沿所述直線導軌單元依次下降至數個預設高度直至所述激光測頭下降至第二高度，當下降至所述數個預設高度及下降至所述第二高度時，分別控制所述激光測頭以所述直線導軌單元為軸水平旋轉一周，測量金屬罐水平截面邊緣預設各點的極坐標，以所述直線導軌單元與所述水平截面交點為極點；

根據所述第一高度、所述數個預設高度和所述第二高度分別對應的所述水平截面邊緣所述預設各點的極坐標，分別獲取所述第一高度、所述數個預設高度和所述第二高度對應的水平截面面積，以及所述第一高度對應的水平截面以上的所述金屬罐容積和所述第二高度對應的水平截面以下的所述金屬罐容積；

根據所述第一高度、所述數個預設高度和所述第二高度對應的水平截面面積，獲取所述第一高度對應的水平截面與所述第二高度對應的水平截面之間的所述金屬罐容積。

2、根據權利要求1所述的臥式金屬罐容積測量方法，其特征在于，所述分別獲取所述第一高度、所述數個預設高度和所述第二高度對應的水平截面面積包括：

根據所述水平截面上所述預設各點中任意相鄰兩點的極坐標，獲取所述任意相鄰兩點與所述極點構成的三角形面積或扇形面積；

根據所述任意相鄰兩點與所述極點構成的三角形面積或扇形面積，獲取所述水平截面面積。

3、根據權利要求1或2所述的臥式金屬罐容積測量方法，其特征在于，獲取所述第一高度對應的水平截面以上的所述金屬罐容積和所述第二高度對應的水平截面以下的所述金屬罐容積包括：

根據所述第一高度、所述數個預設高度和所述第二高度分別對應的所述水平截面邊緣所述預設各點的極坐標，分別獲取所述第一高度、所述數個預設高度和所述第二高度對應的水平截面的特征點；

根據所述第一高度、所述數個預設高度和所述第二高度對應的水平截面的特征點，分別獲取所述第一高度、所述數個預設高度和所述第二高度對應的水平截面參數，所述水平截面參數包括：所述水平截面圓弧部分與直線部分的交點之間長度、所述圓弧部分在所述直線部分方向上投影點的最長距離、所述圓弧部分的平均直徑、兩直線部分之間的垂直距離、所述金屬罐圓筒部分內直徑以及所述金屬罐側面的圓弧直徑；

根據所述第一高度、所述數個預設高度和所述第二高度對應的水平截面參數，獲取所述金屬罐參數，所述金屬罐參數包括：所述金屬罐圓筒部分的總長度、所述金屬罐圓筒部分的內直徑、所述金屬罐側面圓弧頂點距圓筒部分的垂直距離、所述金屬罐側面的圓弧直徑以及所述金屬罐在水平方向的最長距離；

根據所述金屬罐參數獲取所述第一高度對應的水平截面以上的所述金屬罐容積以及所述第二高度對應的水平截面以下的所述金屬罐容積。

4、根據權利要求3所述的臥式金屬罐容積測量方法，其特征在于，所述根據所述第一高度、所述數個預設高度和所述第二高度對應的水平截面面積，獲取所述第一高度對應的水平截面與所述第二高度對應的水平截面之間的所述金屬罐容積包括：

根據所述第一高度、所述數個預設高度和所述第二高度之間任意相鄰兩個高度之間的距離及任意兩個相鄰高度對應的水平截面面積，獲取所述任意兩個相鄰高度對應的水平截面之間的所述金屬罐容積；

根據所述任意兩個相鄰高度對應的水平截面之間的所述金屬罐容積，獲取所述第一高度對應的水平截面與所述第二高度對應的水平截面之間的所述金屬罐容積。