[發明專利]一種基于數字全息的長工作距離原位三維顯微觀測裝置無效
| 申請號: | 200910081632.4 | 申請日: | 2009-04-03 |
| 公開(公告)號: | CN101514892A | 公開(公告)日: | 2009-08-26 |
| 發明(設計)人: | 潘鋒;肖文;伊小素;李瑞;魏博;戎路 | 申請(專利權)人: | 北京航空航天大學 |
| 主分類號: | G01B11/24 | 分類號: | G01B11/24 |
| 代理公司: | 北京永創新實專利事務所 | 代理人: | 周長琪 |
| 地址: | 100083*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 數字 全息 工作 距離 原位 三維 顯微 觀測 裝置 | ||
1.一種基于數字全息的長工作距離原位三維顯微觀測裝置,其特征在于:該裝置包括有光源(1)、分光單元(2)、A光束準直器(3)、A反射鏡(4)、B反射鏡(11)、B光束準直器(12)、光照明單元(13)、消偏振分光棱鏡(5)和CMOS相機(6);光源(1)出射的激光(1a)入射至分光單元(2)中,經分光單元(2)進行分光處理后輸出A激光(21)、B激光(22);A激光(21)順次經A光束準直器(3)、A反射鏡(4)后輸出第一平行光(4a)入射至消偏振分光棱鏡(5);B激光(22)順次經B反射鏡(11)、B光束準直器(12)、光照明單元(13)后照射到待觀測物體(14)上,由待觀測物體(14)反射的包含物體形貌信息的物光(14a)入射至消偏振分光棱鏡(5);消偏振分光棱鏡(5)對入射的第一平行光(4a)、物光(14a)進行合光處理得到合并光束(5a),該合并光束(5a)形成的干涉全息圖被CMOS相機(6)的光敏面捕獲;
所述分光單元(2)一方面用于接收從光源(1)出射的中心波長為532nm的激光(1a),另一方面將接收到的激光(1a)分為傳播方向垂直、偏振方向相同的A激光(21)和B激光(22);該分光單元(2)由C反射鏡(201)、A半波片(202)、偏振分光棱鏡(203)和B半波片(204)構成,A半波片(202)置于C反射鏡(201)與偏振分光棱鏡(203)之間,B半波片(204)置于偏振分光棱鏡(203)與A光束準直器(3)之間;C反射鏡(201)與光源(1)的垂直距離為5cm~10cm;其中,所述的A半波片(202)用于將經C反射鏡(201)反射的激光進行偏振方向的調整,而B半波片(204)用于將經偏振分光棱鏡(203)透射后的激光進行偏振方向的調整,采用兩個半波片A半波片(202)、B半波片(204)對入射后的激光進行偏振方向的調整,保證了A激光(21)、B激光(22)的偏振方向相同,且A激光(21)與B激光(22)的光強比為1∶5;偏振分光棱鏡(203)將一束入射光分為兩束傳播方向垂直、偏振方向正交的光;
所述光照明單元(13)包括有D反射鏡(13a)、E反射鏡(13b)、F反射鏡(13c)、A二維調整架(137)、B二維調整架(138)、C二維調整架(139)、A磁力座(134)、B磁力座(135)、基座(131)、導軌(132)和滑塊(133),基座(131)上安裝有A磁力座(134)、B磁力座(135)和導軌(132),導軌(132)位于縱向中心線上,導軌(132)上設有滑塊(133),滑塊(133)上安裝有支撐柱(136),支撐柱(136)上安裝有B二維調整架(138)和C二維調整架(139),B二維調整架(138)上安裝有E反射鏡(13b),C二維調整架(139)上安裝有F反射鏡(13c);導軌(132)的兩側是A磁力座(134)、B磁力座(135);B磁力座(135)上放置待觀測物體(14);A磁力座(134)上安裝有A二維調整架(137),A二維調整架(137)上安裝有D反射鏡(13a);所述光照明單元(13)中的光路為,第二平行光(12a)入射到D反射鏡(13a)上,第二平行光(12a)經D反射鏡(13a)后形成的第一反射光(13A)入射到E反射鏡(13b)上;第一反射光(13A)經E反射鏡(13b)后形成的第二反射光(13B)入射到F反射鏡(13c)上;第二反射光(13B)經F反射鏡(13b)后形成的第三反射光(13C)入射到待觀測物體(14)上。
2.根據權利要求1所述的基于數字全息的長工作距離原位三維顯微觀測裝置,其特征在于:長工作距離是指待觀測物體(14)至CMOS相機(6)之間的垂直距離,該距離為50cm~100cm。
3.根據權利要求1所述的基于數字全息的長工作距離原位三維顯微觀測裝置,其特征在于:光源(1)輸出的激光的中心波長為532nm。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于北京航空航天大學,未經北京航空航天大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200910081632.4/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





