[發明專利]一種斜視SAR的點目標分辨率評估方法

無效

• 申請號: 200910081387.7
• 申請日: 2009-04-03
• 公開（公告）號: CN101545969A
• 公開（公告）日: 2009-09-30
• 發明（設計）人: 孫兵;陳杰;李威
• 申請（專利權）人: 北京航空航天大學
• 主分類號: G01S7/40
• 分類號: G01S7/40
• 代理公司: 北京匯信合知識產權代理有限公司
• 代理人: 翟國民

1.一種斜視SAR的點目標分辨率評估方法，其特征在于包括以下步驟：

（1）二維插值：將含有待評估點目標的二維復數數據求功率峰值位置，并以峰值位置為中心，取局部區域數據進行二維傅里葉插值得到二維插值結果復數數據，并確定插值后圖像的功率最大值坐標；

（2）剖面數據提?。豪L制二維插值結果復數數據的功率值等高線投影圖，通過交互方式確定距離向和方位向剖面的傾斜角度，并沿著傾斜角度方向在二維插值結果復數數據矩陣中分別提取距離向剖面數據和方位向剖面數據；

（3）分辨率指標計算：分別對距離向和方位向剖面數據進行一維傅里葉插值得到一維插值復數數據，分別求一維插值復數數據的最大值位置和兩側半功率位置，并根據公式????????????????????????????????????????????????和計算距離向分辨率和方位向分辨率，其中R1和Rr分別為由距離向一維插值復數數據得到的功率數據的功率最大值下標左側和右側第一次小于半功率的點下標，A1和Ar分別為由方位向一維插值復數數據得到的功率數據的功率最大值下標左側和右側第一次小于半功率的點下標，和分別為距離向和方位向剖面曲線的傾角，和分別為距離向和方位向像素間隔，和分別為距離向和方位向一維插值倍數，為二維插值倍數。

2.根據權利要求1所述的斜視SAR的點目標分辨率評估方法，其特征在于：步驟（2）所述的剖面數據提取包括如下步驟：（a）將二維插值后復數數據C2的功率數據繪制出等高線圖；（b）在等高線圖像過點和點，使得二者連線L1穿過距離向旁瓣的峰值位置，此時可計算得到距離向剖面曲線的傾角;（c）在等高線圖像過點和點，使得二者連線L2穿過方位向旁瓣的峰值位置，此時可計算得到方位向剖面曲線的傾角；（d）沿著直線L1，在復數數據C2中逐行依次選擇距離直線L1最近的點作為距離向剖面數據Dr的當前行取值，，其中表示對四舍五入取整；（e）沿著直線L2，在復數數據C2中逐列依次選擇距離直線L2最近的點作為方位向剖面數據Da的當前列取值，使，其中表示對四舍五入取整。

3.根據權利要求1所述的斜視SAR的點目標分辨率評估方法，其特征在于：步驟（3）所述的分辨率指標計算包括如下步驟：（a）對距離向剖面數據Dr進行一維傅里葉插值處理，一維插值倍數設為，得到維數為的插值后距離向剖面復數數據，對其求功率得到功率數據Sr；（b）對方位向剖面數據Da進行一維傅里葉插值處理，一維插值倍數設為，得到維數為的插值后距離向剖面復數數據，對其求功率得到功率數據Sa;（c）逐點搜索功率數據Sr的功率最大值Pr，對應的下標記為Rp，從Rp向左搜索，記錄第一次功率值小于0.5*Pr的點下標為Rl，再Rp向右搜索，記錄第一次功率值小于0.5*Pr的點下標為Rr；（d）逐點搜索功率數據Sa的功率最大值Pa，對應的下標記為Ap，從Ap向左搜索，記錄第一次功率值小于0.5*Pa的點下標為Al，再Ap向右搜索，記錄第一次功率值小于0.5*Pa的點下標為Ar；（e）分別計算距離向分辨率和方位向分辨率，，，其中和分別為距離向和方位向像素間隔。

4.根據權利要求1所述的斜視SAR的點目標分辨率評估方法，其特征在于：斜視SAR點目標距離向剖面的傾斜角度范圍為[45o，135o]，方位向剖面的傾斜角度范圍為[-45o，45o]。