[發(fā)明專(zhuān)利]基于閾值變化的劑量率遠(yuǎn)程在線自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)及方法無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200910080059.5 | 申請(qǐng)日: | 2009-03-18 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN101839990A | 公開(kāi)(公告)日: | 2010-09-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 卜建輝;劉夢(mèng)新;劉剛;盧爍今;韓鄭生 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院微電子研究所 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01T1/02 | 分類(lèi)號(hào): | G01T1/02 |
| 代理公司: | 中科專(zhuān)利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021 | 代理人: | 周?chē)?guó)城 |
| 地址: | 100029 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 閾值 變化 劑量率 遠(yuǎn)程 在線 自動(dòng) 測(cè)試 系統(tǒng) 方法 | ||
1.一種基于閾值變化的劑量率遠(yuǎn)程在線自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,該系統(tǒng)包括:
主控計(jì)算機(jī),用于運(yùn)行圖形監(jiān)控測(cè)試程序,向數(shù)據(jù)采集卡輸出主控信號(hào),接收數(shù)據(jù)采集卡返回的的劑量率測(cè)試結(jié)果并顯示;
數(shù)據(jù)采集卡,用于根據(jù)接收自主控計(jì)算機(jī)的主控信號(hào)向測(cè)試開(kāi)發(fā)板輸出時(shí)鐘信號(hào);
測(cè)試開(kāi)發(fā)板,用于根據(jù)接收的時(shí)鐘信號(hào)執(zhí)行計(jì)數(shù)功能得到一數(shù)字信號(hào),對(duì)該數(shù)字信號(hào)進(jìn)行數(shù)模轉(zhuǎn)換得到一模擬信號(hào),對(duì)該模擬信號(hào)進(jìn)行信號(hào)放大得到0至-30V的程控電壓,然后將該0至-30V的程控電壓通過(guò)電纜線輸出給輻照源內(nèi)DUT開(kāi)發(fā)板,同時(shí)用于對(duì)DUT測(cè)試結(jié)果的采集;以及
輻照源內(nèi)DUT開(kāi)發(fā)板,用于將接收的0至-30V的程控電壓施加至待測(cè)SOI?PMOS上,通過(guò)對(duì)背柵閾值電壓變化的測(cè)試對(duì)劑量率進(jìn)行測(cè)試,并將得到的劑量率測(cè)試結(jié)果通過(guò)電纜線、測(cè)試開(kāi)發(fā)板、數(shù)據(jù)采集卡返回給主控計(jì)算機(jī)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于閾值變化的劑量率遠(yuǎn)程在線自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述主控計(jì)算機(jī)內(nèi)部運(yùn)行一圖形監(jiān)控測(cè)試程序,該圖形監(jiān)控測(cè)試程序包括兩個(gè)While循環(huán)和一個(gè)條件結(jié)構(gòu),由LABVIEW程序語(yǔ)言通過(guò)模塊化可視化的編程實(shí)現(xiàn),用于主控?cái)?shù)據(jù)采集卡輸出時(shí)鐘信號(hào)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于閾值變化的劑量率遠(yuǎn)程在線自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述數(shù)據(jù)采集卡為6210USB數(shù)據(jù)采集卡,用于進(jìn)行模擬電壓采集、脈沖信號(hào)輸出,以及波形編程輸出。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于閾值變化的劑量率遠(yuǎn)程在線自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述測(cè)試開(kāi)發(fā)板包括:
計(jì)數(shù)器,用于根據(jù)接收的時(shí)鐘信號(hào)執(zhí)行計(jì)數(shù)功能得到一數(shù)字信號(hào),并將該數(shù)字信號(hào)輸出給數(shù)模轉(zhuǎn)換器;
數(shù)模轉(zhuǎn)換器,用于對(duì)接收的數(shù)字信號(hào)進(jìn)行數(shù)模轉(zhuǎn)換得到一模擬信號(hào),并將該模擬信號(hào)輸出給運(yùn)算放大器;
運(yùn)算放大器,用于對(duì)接收的模擬信號(hào)進(jìn)行信號(hào)放大得到0至10V的程控電壓;
數(shù)據(jù)采集模塊,用于從DUT開(kāi)發(fā)板中采集數(shù)據(jù);以及
高壓模塊,用于將0至10V的電壓放大并反向得到0至-30V的電壓,并將該0至-30V的程控電壓通過(guò)電纜線輸出給輻照源內(nèi)DUT開(kāi)發(fā)板。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的基于閾值變化的劑量率遠(yuǎn)程在線自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述計(jì)數(shù)器為54HC590計(jì)數(shù)器,所述數(shù)模轉(zhuǎn)換器由DAC0832數(shù)模轉(zhuǎn)換芯片實(shí)現(xiàn),所述運(yùn)算放大器為L(zhǎng)F351運(yùn)算放大器,
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于閾值變化的劑量率遠(yuǎn)程在線自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述電纜線為35米長(zhǎng)3芯屏蔽電纜線,用于將接收自測(cè)試開(kāi)發(fā)板的0至-30V的程控電壓傳遞至輻照源內(nèi)DUT開(kāi)發(fā)板。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于閾值變化的劑量率遠(yuǎn)程在線自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述輻照源內(nèi)DUT開(kāi)發(fā)板內(nèi)部可插器件1個(gè),通過(guò)3芯屏蔽電纜線與測(cè)試開(kāi)發(fā)板相連接,器件有3個(gè)引出端口。
8.一種基于閾值變化的劑量率遠(yuǎn)程在線自動(dòng)測(cè)試方法,其特征在于,該方法包括:
主控計(jì)算機(jī)運(yùn)行圖形監(jiān)控測(cè)試程序,向數(shù)據(jù)采集卡輸出主控信號(hào);
數(shù)據(jù)采集卡根據(jù)接收的主控信號(hào)向測(cè)試開(kāi)發(fā)板輸出時(shí)鐘信號(hào);
測(cè)試開(kāi)發(fā)板根據(jù)接收的時(shí)鐘信號(hào)執(zhí)行計(jì)數(shù)功能得到一數(shù)字信號(hào),對(duì)該數(shù)字信號(hào)進(jìn)行數(shù)模轉(zhuǎn)換得到一模擬信號(hào),對(duì)該模擬信號(hào)進(jìn)行信號(hào)放大得到0至-30V的程控電壓,然后將該0至-30V的程控電壓通過(guò)電纜線輸出給輻照源內(nèi)DUT開(kāi)發(fā)板;
輻照源內(nèi)DUT開(kāi)發(fā)板將接收的0至-30V的程控電壓施加至待測(cè)SOIPMOS上,通過(guò)對(duì)背柵閾值電壓變化的測(cè)試對(duì)環(huán)境的劑量率進(jìn)行測(cè)試,并將得到的劑量率測(cè)試結(jié)果通過(guò)電纜線、測(cè)試開(kāi)發(fā)板、數(shù)據(jù)采集卡返回給主控計(jì)算機(jī);
主控計(jì)算機(jī)接收并顯示數(shù)據(jù)采集卡返回的的劑量率測(cè)試結(jié)果。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的基于閾值變化的劑量率遠(yuǎn)程在線自動(dòng)測(cè)試方法,其特征在于,所述測(cè)試開(kāi)發(fā)板執(zhí)行的處理步驟,具體包括:
測(cè)試開(kāi)發(fā)板的計(jì)數(shù)器根據(jù)接收自數(shù)據(jù)采集卡的時(shí)鐘信號(hào)執(zhí)行計(jì)數(shù)功能得到一數(shù)字信號(hào),并將該數(shù)字信號(hào)輸出給數(shù)模轉(zhuǎn)換器;
數(shù)模轉(zhuǎn)換器對(duì)接收的數(shù)字信號(hào)進(jìn)行數(shù)模轉(zhuǎn)換得到一模擬信號(hào),并將該模擬信號(hào)輸出給運(yùn)算放大器;
運(yùn)算放大器對(duì)接收的模擬信號(hào)進(jìn)行信號(hào)放大得到0至10V的程控電壓。
高壓模塊把0至10V的電壓放大并反向得到0至-30V的電壓,并將該0至-30V的程控電壓通過(guò)電纜線輸出給輻照源內(nèi)DUT開(kāi)發(fā)板。
該專(zhuān)利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)。該專(zhuān)利全部權(quán)利屬于中國(guó)科學(xué)院微電子研究所,未經(jīng)中國(guó)科學(xué)院微電子研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專(zhuān)利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200910080059.5/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專(zhuān)利網(wǎng)。
- 上一篇:物料檢測(cè)裝置
- 下一篇:一種處理器芯片頻率的篩選方法
- 同類(lèi)專(zhuān)利
- 專(zhuān)利分類(lèi)





