[發明專利]星載多時相合成孔徑雷達圖像的自動變化檢測方法

無效

• 申請號: 200910079793.X
• 申請日: 2009-03-11
• 公開（公告）號: CN101833093A
• 公開（公告）日: 2010-09-15
• 發明（設計）人: 尤紅建;付琨
• 申請（專利權）人: 中國科學院電子學研究所
• 主分類號: G01S13/90
• 分類號: G01S13/90
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 周國城

1.一種星載多時相合成孔徑雷達圖像的自動變化檢測方法，其特征在于，包括：

步驟1：成像處理后，根據中心極限定理，兩個時相獲取的合成孔徑雷達圖像數據的各自標準化算術平均趨近于標準正態分布；

步驟2：基于Edgeworth展開原理，分別對趨近于正態分布的兩個時相獲取的合成孔徑雷達圖像數據的算術平均采用標準正態分布和Hermite多項式逼近；

步驟3：分別對兩個時相獲取的合成孔徑雷達圖像在Edgeworth逼近的基礎上，采用歸一化的交叉熵計算兩個時相合成孔徑雷達圖像的差異值，得到一幅差異指數圖像；

步驟4：對差異指數圖像采用基于瑞利分布的恒虛警率檢測方法進行變化區域的自動提取。

2.如權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，所述步驟3中得到的一幅差異指數圖像，顯示了兩個時相合成孔徑雷達圖像之間的差異程度，若根據預先設定的閾值對差異指數圖像進行分割，即分割成變化的區域和未變化的區域。

3.如權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，所述步驟3中得到的一幅差異指數圖像，其直方圖分布接近瑞利分布，瑞麗分布的分布密度函數為：

f(x)=xb2e-x22b2]]>

其中，b為形狀參數，而x為函數自變量，e為常數2.718281828459。

4.如權利要求1或2所述的檢測方法，其特征在于，所述步驟4的基于瑞利分布的恒虛警率檢測方法，其閾值T計算公式為：

T=(-2log(Pfa)-π2)2-π2δ+μ]]>

P_fa為給定的虛警率，δ為差異指數圖像計算的方差，μ為差異指數圖像的均值；π為圓周率常數，為3.141592653589793…；

對于差異指數圖像，分別計算出均值、方差，然后給定虛警率，代入上式計算出閾值，然后對差異圖像進行二值化分割，得到變化區域。