[發明專利]基板測試電路及基板

有效

• 申請號: 200910079296.X
• 申請日: 2009-03-06
• 公開（公告）號: CN101825782A
• 公開（公告）日: 2010-09-08
• 發明（設計）人: 陳宇鵬;劉華;高浩然;盧昱
• 申請（專利權）人: 北京京東方光電科技有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G01R31/00
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 劉芳

技術領域

本發明涉及一種基板測試電路及基板，屬于薄膜晶體管液晶顯示器制造技術中的測試技術領域。

背景技術

隨著薄膜晶體管液晶顯示器(Thin?Film?Transistor?Liquid?Crystal?Display，以下簡稱：TFT-LCD)制造技術的不斷完善以及成本的不斷降低，TFT-LCD已經被廣泛應用。

現有的TFT-LCD制造方法為：在一張較大的基板上形成若干獨立的TFT像素陣列區，每個TFT像素陣列區對應一塊面板；為了對沉積在基板上的TFT像素陣列區進行信號檢測，用于輸入測試信號的測試電路也需要隨TFT像素陣列一同沉積在基板上，且該測試電路的沉積位置在基板每個面板的周圍，然后即可通過該測試電路的測試輸入端輸入測試信號來檢測各個面板的電性不良發生情況。測試完畢后，在沉積了TFT像素陣列的基板上涂布液晶，然后再覆蓋彩色基板，拼合成LCD面板，最后再將該LCD面板切割，同時切除每個面板周圍的測試電路，從而形成獨立的面板。

圖1為現有技術中基板測試電路的結構示意圖，如圖1所示，在形成TFT像素陣列區以及外圍的測試電路的過程中，曝光工藝以兩個面板為單元進行曝光，稱為一個曝光單元，圖1中在基板上共排布有12個面板，即1號面板～12號面板，所以曝光過程共需要6個曝光單元，每個曝光單元如圖中虛線內部區域所示。由于各曝光單元使用的模版相同，所以最終形成的圖樣結構也相同，相應的測試電路也以曝光單元為單位進行設計。每個面板的測試信號線分為數據線測試線，柵線測試線和公共電極測試線，每種測試信號有兩個測試輸入端，分別位于基板的外側邊緣和中心區域。

圖2為圖1中電性不良檢測的結構示意圖，如圖2所示，在圖1所示的中心區域加載測試信號時，必須在用于設置探針52的設備探針框架5上添加帶有探針52的橫梁51，探針52與測試輸入端接觸，通過該探針即可向面板上加載測試信號。

由于用于探測電性不良的傳感器與面板之間的距離只有15um左右，在進行測試時，傳感器經過橫梁51時必須升起一次來繞過橫梁51，這將增加測試時間，影響測試效率。因此，現有技術在進行電性不良測試時，不使用中心區域的測試輸入端，而只能使用基板外側邊緣的測試輸入端。

由于現有技術只能使用基板外側邊緣的測試輸入端，而基板外側邊緣的測試輸入端與各個面板對應的測試信號線的輸入電阻不同，引起測試信號傳輸過程中電壓衰減的不同，導致實際加載于各面板的測試信號的差異，最終導致測試電路對各個面板的電性不良的檢出能力存在較大差異。

發明內容

本發明提供一種基板測試電路及基板，用以解決現有技術中測試電路對各個面板的電性不良的檢出能力存在較大差異的問題，實現基板測試電路對基板上的面板的電性不良的檢出能力相同的效果。

本發明提供一種基板測試電路，包括：與單個曝光單元內的第一面板連接的第一數據線測試線、第一柵線測試線和第一公共電極線測試線，所述第一數據線測試線包括設置在所述曝光單元兩側的第一數據線測試輸入端和第二數據線測試輸入端，所述第一柵線測試線包括設置在所述曝光單元兩側的第一柵線測試輸入端和第二柵線測試輸入端，所述第一公共電極線測試線包括設置在所述曝光單元兩側的第一公共電極線測試輸入端和第二公共電極線測試輸入端，所述第一數據線測試輸入端、第一柵線測試輸入端和第一公共電極線測試輸入端設置在所述曝光單元的同側，所述第一數據線測試輸入端和第二數據線測試輸入端到所述第一面板的引線長度相等；所述第一柵線測試輸入端和第二柵線測試輸入端到所述第一面板的引線長度相等；所述第一公共電極線測試輸入端和第二公共電極線測試輸入端到所述第一面板的引線長度相等。

為實現上述目的，本發明還提供一種基板測試電路，包括：

與單個曝光單元內的第一面板連接的第一數據線測試線以及與所述曝光單元內的第二面板連接的第二數據線測試線，所述第一數據線測試線包括設置在所述曝光單元兩側的第一數據線測試輸入端和第二數據線測試輸入端，所述第二數據線測試線包括設置在所述曝光單元兩側的第三數據線測試輸入端和第四數據線測試輸入端，所述第一數據線測試輸入端和第三數據線測試輸入端設置在所述曝光單元的同側，所述第一數據線測試輸入端和第二數據線測試輸入端到所述第一面板的引線長度相等，所述第三數據線測試輸入端和第四數據線測試輸入端到所述第二面板的引線長度相等，所述第一數據線測試輸入端到所述第一面板的引線長度與所述第三數據線測試輸入端到所述第二面板的引線長度相等。

為實現上述目的，本發明還提供另一種基板測試電路，包括：